[導(dǎo)讀]以前做FPGA的時候，沒有關(guān)心過這個問題，上升沿和下降沿，一直混用。但是昨天后端部門的Lint檢查和綜合檢查都指出了這個問題，要求把設(shè)計(jì)中的所有時鐘沿都統(tǒng)一為上升沿抽樣。這樣做的目的，據(jù)說是為了提高scan chain
以前做FPGA的時候，沒有關(guān)心過這個問題，上升沿和下降沿，一直混用。但是昨天后端部門的Lint檢查和綜合檢查都指出了這個問題，要求把設(shè)計(jì)中的所有時鐘沿都統(tǒng)一為上升沿抽樣。這樣做的目的，據(jù)說是為了提高scan chain的覆蓋率。因?yàn)闆]有經(jīng)驗(yàn)，想在這里請教一下大家：
- 混用上升下降沿會對scan chain造成什么樣的影響，能否具體解釋一下;
- 如果代碼在邏輯上必須用下降沿采樣，怎樣才能滿足后端的要求(用上升沿采樣)，有無變通方法;
我的代碼
我在上面提到了上升沿和下降沿混用，其實(shí)是表述不正確。不是混用，而是在代碼中有些寄存器用posedge，有些則用negedge，對同一個寄存器同時使用兩個邊沿的情況沒有。，我的代碼是這樣的情況，比如
always @ (posedge i_clk or negedge i_rst_n) begin
.... // reg 1
end
always @ (negedge i_clk or negedge i_rst_n) begin
.... // reg 2
end
對于這樣的情況，后端部門也建議盡量避免，也就是說所有寄存器全都采用上升沿，要怎么處理呢?
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用下降沿采樣的話
dft_drc會認(rèn)為該寄存器有violation
因此不把他放到chain里邊
所以覆蓋率會降低
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