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[導(dǎo)讀]理想的數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC),其輸出電壓或電流與輸入呈理想的線性關(guān)系,不受其它外部因素(如溫度)的影響。當(dāng)然,實(shí)際應(yīng)用中,DAC必然會受各種外部因素的影響而出現(xiàn)誤差,溫度就

理想的數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC),其輸出電壓或電流與輸入呈理想的線性關(guān)系,不受其它外部因素(如溫度)的影響。當(dāng)然,實(shí)際應(yīng)用中,DAC必然會受各種外部因素的影響而出現(xiàn)誤差,溫度就是一個(gè)明顯因素,DAC輸出會隨溫度的變化而漂移。當(dāng)用高精度DAC精確建立偏置電壓時(shí),這一點(diǎn)尤為重要。我們可以校準(zhǔn)所有靜態(tài)漂移,而隨溫度變化部分卻很難補(bǔ)償,溫度引起的誤差主要是:失調(diào)誤差和增益誤差。

本文介紹了如何確定DAC的失調(diào)誤差、增益誤差與溫度的關(guān)系,幫助設(shè)計(jì)者在設(shè)計(jì)過程中預(yù)先考慮這些誤差因素,掌握這些知識也有助于保證系統(tǒng)在溫度特性方面滿足規(guī)范要求。

失調(diào)和增益誤差

如上所述,很多誤差因素會影響DAC性能,比如失調(diào)誤差和增益誤差,DAC器件數(shù)據(jù)手冊的“靜態(tài)精度”參數(shù)部分顯示了這些因素的影響。圖1為MAX5134 16位、4通道DAC的規(guī)格。

 

 

注4:增益和失調(diào)測試,測試點(diǎn)位于100mV和AVDD

圖1:MAX5134的失調(diào)和增益誤差。

這些參數(shù)對DAC性能意味著什么?

失調(diào)誤差通常定義器件在過零點(diǎn)時(shí)的輸出,對于單極性輸出,該值是零碼對應(yīng)的輸出,通常稱為零碼誤差;對于雙極性輸出,則定義在中間碼值對應(yīng)的DAC輸出。

增益誤差是傳輸函數(shù)的斜率,對于MAX5134,斜率介于理論值的99.5%-100.5%之間。

圖2給出了失調(diào)誤差和增益誤差,注意,失調(diào)和增益誤差可以為正,也可以為負(fù)。

 

 

圖2:失調(diào)和增益誤差。

通常我們不會直接測量失調(diào)和增益誤差,如果一個(gè)單極性器件表現(xiàn)出負(fù)的失調(diào)誤差,零碼處的測試結(jié)果顯然不正確。因?yàn)閱螛O性DAC通常采用單路正電源供 電,DAC將無法產(chǎn)生負(fù)值??梢詼y試兩個(gè)點(diǎn),然后計(jì)算得到失調(diào)和增益誤差,一個(gè)測試點(diǎn)靠近零碼,另一側(cè)試點(diǎn)靠近最大碼值,甚至位于最大碼值。對于MAX5134,可以選擇100mV和電源AVDD兩個(gè)測試點(diǎn),測試條件參見圖1注釋4 (注4:增益和失調(diào)測試,測試點(diǎn)位于100mV和AVDD,參見MAX5134數(shù)據(jù)手冊,可從Maxim網(wǎng)站下載)。

下面考慮溫度的影響,失調(diào)誤差和增益誤差都會隨著溫度的變化發(fā)生漂移,對于那些利用DAC準(zhǔn)確設(shè)置偏置電壓的應(yīng)用,溫漂的影響更大。如果失調(diào)和增益誤差固定,則可通過多種技術(shù)進(jìn)行校準(zhǔn)??偟膩碚f,溫漂校準(zhǔn)是一項(xiàng)非常復(fù)雜的工作,首先需要測量溫度,然后根據(jù)溫度值采取相應(yīng)的補(bǔ)償。

計(jì)算示例和典型結(jié)果

此處以MAX5134為例,通過對大量器件的評估統(tǒng)計(jì),我們可以得到最大靜態(tài)誤差。我們先定義幾個(gè)概念或等式,以便計(jì)算誤差范圍。

VOUT = N × G × (GE + GET) + OE + OET

 

 

此處:VOUT = 輸出電壓

N = DAC輸入碼值

G = DAC增益

GE = DAC增益誤差

GET = 溫度變化產(chǎn)生的附加增益誤差

OE = DAC失調(diào)誤差

OET = 溫度導(dǎo)變化產(chǎn)生的附加失調(diào)誤差

VREF = 基準(zhǔn)電壓

NMAX = DAC最大碼值

參數(shù)的失調(diào)誤差漂移是±4μV/℃,采用箱形法。為了確定溫度失調(diào),可以利用溫漂系數(shù)乘以溫度范圍,注意,此處的溫度范圍指的是器件規(guī)定的工作溫度范圍,而非實(shí)際應(yīng)用的溫度范圍,本例即為:-40℃至+105℃,而溫度導(dǎo)致的失調(diào)漂移為±0.58mV。同樣,增益溫漂系數(shù)是2ppm/℃,相當(dāng)于±0.029%FS(滿量程)。

對第一個(gè)例子,我們采用2.5V基準(zhǔn)電壓VREF,DAC是16位器件,即最大碼值NMAX為65535。

另一個(gè)問題是使用的便捷性,最好把失調(diào)和增益誤差指定為“最小/最大”值,而溫度影響只能定義為典型值。我們可以用典型值或憑經(jīng)驗(yàn)估計(jì)整個(gè)范圍內(nèi)的變化情況,此處采用典型值。[!--empirenews.page--]

圖3所示曲線為初始誤差輸出電壓與輸入碼之間的關(guān)系圖。這是一個(gè)實(shí)際DAC器件的特性曲線,這組曲線比圖2靠得更緊,不易分析,所有最好畫出它們與理想曲線之間的偏差,如圖4所示。圖4也給出了包括溫度影響的整體誤差。

 

 

圖3:DAC輸出與輸入碼之間的關(guān)系圖,顯示了增益、失調(diào)誤差的影響,基準(zhǔn)電壓為2.5V。

 

 

圖4:DAC輸出誤差與輸入碼之間的關(guān)系,基準(zhǔn)電壓為2.5V。

從圖中可以看出,溫度的影響遠(yuǎn)低于初始誤差,所以,即使數(shù)據(jù)手冊只給出了溫度特性的典型值,也不會對整體誤差產(chǎn)生顯著影響。零碼處的整體誤差為±0.423%FS (±10.6mV),最大輸入碼處的整體誤差為±0.952%FS (±23.8mV)。

可以采取一些改善措施,如提高基準(zhǔn)電壓。由于增益誤差是以滿量程的百分比(%FS)規(guī)定的,它的絕對值會變大,但失調(diào)誤差的絕對值不會變大。因而,可以通 過提高基準(zhǔn)電壓來提高滿量程輸出電壓,然后再從外部把DAC的輸出降到所要求的電壓,這樣,增益誤差恢復(fù)到原來的數(shù)值,而失調(diào)誤差卻可以減小。圖5顯示了這種方法的效果。

 

 

圖5:DAC輸出誤差與輸入碼之間的關(guān)系示例,基準(zhǔn)電壓為2.5V。

零碼處,整體誤差為±0.212%FS (±5.3mV);最大碼處,整體誤差為±0.740%FS (±18.5mV)。

當(dāng)然,此結(jié)果忽略了輸出分壓器引入的誤差。但這種方法是完全可行的,因?yàn)檩敵龇謮浩骺梢圆捎镁芊謮浩鳎热鏜AX5490,其比率精度的溫度特性可以達(dá)到±0.05%。當(dāng)然,對DAC輸出進(jìn)行分壓的缺點(diǎn)是降低驅(qū)動能力,需通過運(yùn)放改善輸出驅(qū)動,這又會引入額外的誤差,對此方法的深入討論不在本文范疇。

結(jié)論

本文討論了影響DAC精度的失調(diào)誤差和增益誤差,也通過例子給出了如何計(jì)算最差條件下的誤差,并提供了一些改善整體誤差的建議。

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