介紹基于ATmega8型單片機(jī)的溫度測(cè)量度加熱控制系統(tǒng)。分析系統(tǒng)的工作原理,詳盡討論系統(tǒng)的硬件電路和軟件流程。實(shí)驗(yàn)證明,該系統(tǒng)工作可靠,穩(wěn)定性高。
簡(jiǎn)要介紹TMS320C64x系列數(shù)字信號(hào)處理器(SDP)flash加載的基本原理,詳細(xì)論述TMS320C64x DSP與16-bit Flash接口的設(shè)計(jì)方法及用該方案加載的可行性及優(yōu)點(diǎn),給出.out文件到可供軟件片上燒寫的數(shù)據(jù)文件的編寫方法。
介紹了基于飛思卡爾S12系列單片機(jī)的微型熱敏打印機(jī)的組成,詳細(xì)分析了其工作原理,給出了熱敏頭過熱保護(hù)以及步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)方式。熱敏打印頭采用同步串行外設(shè)接口實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)加栽。
愛特梅爾公司 (Atmel Corporation) 宣布推出基于ARM9的交互式圖形用戶接口(GUI) 微控制器AT91SAM9RL64
Abatron公司新推出BDI3000高速BDM/JTAG仿真器。這為成功BDI家族的仿真器產(chǎn)品增添了新的血液。
標(biāo)準(zhǔn)MCS-51以及很多常見的51內(nèi)核單片機(jī)沒有提供“軟復(fù)位”方法。本文分別以5lasm子程序和C51函數(shù)的形式,為MCS-51單片機(jī)系統(tǒng)提供完善的“軟復(fù)位”方法。
TMS320F2812是目前性能非常優(yōu)秀的32位定點(diǎn)DSP,集成了多種外設(shè)。對(duì)TMS320F2812開發(fā)通常利用TI公司的CCS2集成開發(fā)環(huán)境,使用JTAG接口仿真器連接目標(biāo)板,可以不占用用戶資源實(shí)現(xiàn)全速/斷點(diǎn)調(diào)試;
本文介紹采用高速A/D、基于FPGA和DSP的電火工品發(fā)火實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)的組成及工作原理,并具體講述此系統(tǒng)的硬件組成及軟件設(shè)計(jì)。
飛思卡爾半導(dǎo)體通過半導(dǎo)體技術(shù)許可專家IPextreme向嵌入式市場(chǎng)提供32位V1 ColdFire內(nèi)核,進(jìn)一步擴(kuò)展了其ColdFire®許可計(jì)劃。
應(yīng)用ADuC848新型微控制器和Keil仿真下載軟件,設(shè)計(jì)開發(fā)了鉆井壓力敷據(jù)采集系統(tǒng)。本系統(tǒng)具有16位高精度A/D轉(zhuǎn)換器,數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集上傳存儲(chǔ),最高作業(yè)溫度為125℃,具有功耗低和集成度高等特點(diǎn)。
本文設(shè)計(jì)了一種基于PIC 單片機(jī)的低成本、高可靠性的節(jié)水、節(jié)能、清潔的廁所沖水器的控制器,討論了該控制器的設(shè)計(jì)思路,給出了相關(guān)的硬件電路和軟件流程。
利用ARM7(LPC2210)與CMOS感光芯片(OV7620)實(shí)現(xiàn)了一個(gè)緊湊型圈像采集、處理系統(tǒng);通過夸理利用LPC2210數(shù)據(jù)總線的工作方式,有效地消除了OV7620對(duì)系統(tǒng)數(shù)據(jù)總線的干擾。
本文提出了基于TMS320VC5402的語音識(shí)別系統(tǒng)方案。整個(gè)系統(tǒng)以TMS320VC5402為核心電路進(jìn)行設(shè)計(jì),由TLC320AD50C進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,由TMS320VC5402識(shí)別語音信號(hào),然后和機(jī)器人通信,并由AT89S52控制 LCD顯示識(shí)別結(jié)果。
提出的快速算法思路是,首先求出整數(shù)中包含的1000的個(gè)數(shù),方法是采用二進(jìn)制整數(shù)的高6位作為其預(yù)估,再通過2次校正得到準(zhǔn)確值。
首先對(duì)比分析在執(zhí)行大規(guī)模數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移時(shí),傳統(tǒng)805l單片機(jī)和進(jìn)行DPTR擴(kuò)展后的805l單片機(jī)在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移執(zhí)行效率上的差別。通過詳細(xì)分析DPTR操作所涉及的因素,具體實(shí)現(xiàn)對(duì)DPTR的擴(kuò)展,并進(jìn)行實(shí)際仿真測(cè)試。