安捷倫的掃描微波顯微鏡技術再次榮獲重大創(chuàng)新獎項提名

時間：2010-04-20 07:39:00

關鍵字：顯微鏡創(chuàng)新獎安捷倫 AGILENT

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[導讀]安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣布，旗下的掃描微波顯微鏡模式(SMM模式)已入選2009 Prism獎10大得獎者名單，評審系由SPIE及Laurin Publishing的Photonics Spectra雜志顧問團所組成。 SMM 模式在SPIE Pho

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣布，旗下的掃描微波顯微鏡模式(SMM模式)已入選2009 Prism獎10大得獎者名單，評審系由SPIE及Laurin Publishing的Photonics Spectra雜志顧問團所組成。

SMM 模式在SPIE Photonics West研討會的一場特殊典禮中，正式被表揚為“分析、測試與量測”類的杰出光通訊創(chuàng)新技術。SMM模式先前已獲獨立評審團和R&D Magazine編輯群，提名R&D 100獎。安捷倫開發(fā)SMM模式，利用受歡迎的Agilent 5420和Agilent 5600LS原子力顯微鏡，來提供高解析、量化的電磁材料特性描述能力。

臺灣安捷倫科技電子量測事業(yè)群總經(jīng)理張志銘表示，很榮幸我們的 SMM模式，能同時獲得R&D 100和Prism獎提名。這項獨特的技術結合微波向量網(wǎng)絡分析儀經(jīng)過校驗的電氣量測功能，以及原子力顯微鏡(AFM)的奈米級空間分辨率 (nanoscale spatial resolution)，為半導體材料的評估及生物和材料研究應用提供了一款先進的工具。

根據(jù)代表性取樣的數(shù)據(jù)顯示，安捷倫SMM模式映像材料特性的分辨率，將受限于AFM探測的清晰程度。可靠的電磁環(huán)境兼容性，以及內建的精密電子組件，使SMM模式得以提供校驗過，且比之前利用基于AFM的電氣特性描述技術所能達到還要更靈敏的量測。安捷倫的SMM模式，適用于半導體(不需氧化層)、金屬、介電材料、鐵電材料、絕緣體和生物材料。SMM模式可量測取樣的不同組件與入射微波信號間的靜態(tài)或動態(tài)電磁交互作用中，所產(chǎn)生的小差異的特性。