哈工大發(fā)現(xiàn)高效去除AFM探針表面污染物新方法

美國材料研究學會(MRS)官方網站日前在“材料研究當前新聞”欄目中，以《光柵刷子能清潔原子力顯微鏡的探針針尖》為題，報道了哈爾濱工業(yè)大學化工學院催化科學與工程系教授甘陽與墨爾本大學教授弗蘭克斯合作發(fā)表在國際學術期刊《超顯微術》(Ultramicroscopy)上的原創(chuàng)性研究成果。

該報道稱：“清潔原子力顯微鏡(atomic force microscope，AFM)針尖是AFM可靠成像和力測量的關鍵。研究者現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)，具有超尖刺突的標定光柵作為‘刷子’，可用來機械清除AFM探針上的污染物，這是通過把探針在加大力的恒力模式下掃描刺突來實現(xiàn)。這一方法不但能用來無損、高效地去除有機和無機污染物，而且可實現(xiàn)污染物去除和探針研究的一步完成。此外，該方法既可用來清潔膠體/顆粒探針，也可以用來清潔標準AFM針尖?！?/p>

甘陽認為，作為一種新型的表面污染物“定點”清除方法，該方法的應用遠不限于清潔原子力顯微鏡探針，更有望在廣泛的表界面研究、微電子等領域中得到廣泛應用。

這篇論文在愛思唯爾(Elsevier)出版社2009年第三季度的“25篇最熱門論文”中列《超顯微術》的第一位?！冻@微術》是Elsevier出版的顯微研究領域的國際著名期刊。