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[導(dǎo)讀]21ic訊 設(shè)計(jì)工程師充分了解在應(yīng)付由charged board event (CBE) 所造成的較嚴(yán)重?fù)p壞時(shí),提供符合IEC 61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的靜電放電 (ESD)保護(hù)功能可能并不足夠。這些極強(qiáng)的浪涌事件具有高峰值電流和快速上升時(shí)間特性,可能

21ic訊 設(shè)計(jì)工程師充分了解在應(yīng)付由charged board event (CBE) 所造成的較嚴(yán)重?fù)p壞時(shí),提供符合IEC 61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的靜電放電 (ESD)保護(hù)功能可能并不足夠。這些極強(qiáng)的浪涌事件具有高峰值電流和快速上升時(shí)間特性,可能損壞智能手機(jī)、平板電腦、汽車信息娛樂設(shè)備和其它敏感的電子產(chǎn)品的I/O端口。認(rèn)識(shí)到這一事實(shí),TE Connectivity旗下的電路保護(hù)業(yè)務(wù)部門推出了全新的硅ESD (SESD)系列器件, 這些器件的空氣放電額定值為±20kV 和±22kV,遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于IEC 8kV 接觸放電和15kV空氣放電標(biāo)準(zhǔn)要求,可以幫助設(shè)計(jì)人員解決由CBE事件引起的普遍電路保護(hù)難題。

TE電路保護(hù)部產(chǎn)品經(jīng)理Nicole Palma表示:“在與設(shè)計(jì)工程師一起工作時(shí),我們發(fā)現(xiàn)IEC的ESD保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)沒有真正解決可能導(dǎo)致產(chǎn)品故障的CBE問題。針對(duì)這一挑戰(zhàn),我們提升了現(xiàn)有的小型低電容SESD器件產(chǎn)品線,提供20kV及更高的浪涌保護(hù)能力。這種更強(qiáng)大的保護(hù)能力可以幫助制造商提高產(chǎn)品可靠性,最大限度地減少現(xiàn)場(chǎng)返修(field return),而這正是競(jìng)爭(zhēng)異常激烈的計(jì)算機(jī)、移動(dòng)、消費(fèi)和汽車市場(chǎng)的關(guān)鍵設(shè)計(jì)考慮。”

此新一代SESD產(chǎn)品同時(shí)具有單向和雙向配置,以及1、2和4通道器件,采用微小型0201和0402尺寸及標(biāo)準(zhǔn)直通(flow-through)封裝。除了提供20kV接觸放電性能,這些器件的浪涌保護(hù)能力(4通道陣列為2.2A,1和2通道器件為2.5A)有助于提供更穩(wěn)健的性能。

SESD器件的典型輸入電容在高頻譜下為0.15pF (雙向)和0.30pF (單向),能幫助滿足HDMI、eSATA和其它高速信號(hào)要求。它們的低鉗位電壓 (<15V) 有助于達(dá)到快速啟動(dòng)時(shí)間和最大限度地減少能量通泄 (energy let-through)。此外,SESD器件具有極低的泄漏電流(50nA),幫助在必須節(jié)約能源的應(yīng)用中降低功耗。

TE Connectivity的SESD器件 幫助設(shè)計(jì)人員應(yīng)對(duì)復(fù)雜的 ESD和浪涌保護(hù)挑戰(zhàn) " width="309" height="310" />

型號(hào):

單通道:

· SESD0201X1UN-0030-088 – 單向; 0201尺寸;0.30pF (典型) 輸入Cp;8.8V (典型) VBR

· SESD0201X1BN-0015-096 – 雙向; 0201尺寸;0.15pF (典型) 輸入Cp, 9.6V (典型) VBR

· SESD0402X1UN-0030-088 – 單向; 0402尺寸;0.30pF (典型) 輸入Cp, 8.8V (典型) VBR

· SESD0402X1BN-0015-096 –雙向; 0402尺寸;0.15pF (典型) 輸入Cp, 9.6V (典型) VBR

多通道:

· SESD0402Q2UG-0030-088 – 單向; 0402尺寸;0.30pF (典型) 輸入Cp, 8.8V (典型) VBR

· SESD1004Q4UG-0030-088 – 單向; 1004尺寸;0.30pF (典型) 輸入Cp, 8.8V (典型) VBR

價(jià)格:按要求提供

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