歐盟開展計劃確保納米級集成電路可靠性

時間：2013-09-24 13:33:30

關(guān)鍵字：集成電路納米級電路可靠性模型

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[導(dǎo)讀][據(jù)歐盟研發(fā)信息服務(wù)共同體網(wǎng)站2013年9月19日報道]按比例縮放的納米電子集成電路特征尺寸的減小使芯片性能越來越不可靠。歐盟已經(jīng)設(shè)立計劃，發(fā)展克服這一問題的技術(shù)。納米級按比例縮放的互補金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）

[據(jù)歐盟研發(fā)信息服務(wù)共同體網(wǎng)站2013年9月19日報道]按比例縮放的納米電子集成電路特征尺寸的減小使芯片性能越來越不可靠。歐盟已經(jīng)設(shè)立計劃，發(fā)展克服這一問題的技術(shù)。

納米級按比例縮放的互補金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）的主要挑戰(zhàn)是控制如邊緣和粗糙度的幾何公差變化。否則，這種挑戰(zhàn)將導(dǎo)致電路性能對難以控制的統(tǒng)計過程變化（PV）極為敏感。

由歐盟投資的MANON計劃使學(xué)術(shù)界、工業(yè)界以及小企業(yè)共同合作，創(chuàng)造考慮過程變化因素和對過程變化不敏感的電路設(shè)計技術(shù)、工具及模型。

該計劃主要采用多目標(biāo)優(yōu)化算法，符號技術(shù)和數(shù)字化統(tǒng)計仿真技術(shù)。該計劃也促進工業(yè)設(shè)計、現(xiàn)實測試案例和電子設(shè)計自動化軟件等方面的技巧和實踐方面的交流。MANON計劃研究包括與神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)結(jié)合的符號模型降階（SMOR）技術(shù)在內(nèi)的三種不同方法。

MANON計劃的目標(biāo)是盡可能開發(fā)一種能生成參數(shù)化行為模型的自動化方法，包括最大相關(guān)統(tǒng)計過程信息，以使：統(tǒng)計分析和仿真能應(yīng)用于系統(tǒng)級；降低模型生成難度；確保建模仿真精度，并將相關(guān)方法拓展應(yīng)用于非線性集成電路。

該計劃所發(fā)展的模型將能支持設(shè)計人員進行系統(tǒng)級校驗，也將能支持用戶根據(jù)工作情況和過程變化對設(shè)計進行微調(diào)。