愛德萬全新T2000機(jī)臺(tái)滿足SoC測(cè)試需求

愛德萬測(cè)試(Advantest Corp.)推出全新 T2000 8GWGD 測(cè)試設(shè)備，提供結(jié)合每秒采樣速率達(dá)8Gsps的波形產(chǎn)生器和8GHz數(shù)位器的模組，可應(yīng)用于 HDD 硬碟等巨量?jī)?chǔ)存裝置中的系統(tǒng)單晶片(SoC)測(cè)試。
愛德萬測(cè)試SoC事業(yè)資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示，面對(duì)一日千里的云端運(yùn)算市場(chǎng)，客戶可透過愛德萬全新測(cè)試機(jī)臺(tái)駕馭云端運(yùn)算數(shù)十億顆硬碟、全球無可計(jì)數(shù)的伺服器陣列?！?br>
T2000 測(cè)試機(jī)臺(tái)提供8GWGD (8Gsps 波形產(chǎn)生器 / 8GHz數(shù)位器模組) 與8GDM (8Gbps 數(shù)位模組)，可處理儲(chǔ)存巨量資料的 SoC 內(nèi)部高速 SerDes 實(shí)體層 (PHY) 介面與復(fù)雜高速的類比波形挑戰(zhàn)。

這套新模組可透過任意波形產(chǎn)生器(AWG)產(chǎn)生 PRML (Partial Response Maximum Likelihood，最大回應(yīng)可能可能性) 波形等復(fù)雜訊號(hào)，及多種頻率的多頻波形，測(cè)試高速類比轉(zhuǎn)數(shù)位轉(zhuǎn)換器和類比前端設(shè)備 (包括前置放大器)。其獨(dú)特之處在于閘輸出可與 AWG 同步化，實(shí)現(xiàn)高精準(zhǔn)度計(jì)時(shí)。

此套新模組的訊號(hào)擷取數(shù)位器可提升系統(tǒng)產(chǎn)能、執(zhí)行高頻寬類比量測(cè)，同時(shí)也為視圖、上升/下降時(shí)間、時(shí)間傳播延遲量測(cè)、周期抖動(dòng)(Cycle-to-Cycle Jitter)和累積性抖動(dòng)(Long-Term Jitter) 提供測(cè)試解決方案。透過這些功能，客戶將能測(cè)試高速數(shù)位轉(zhuǎn)類比轉(zhuǎn)換器和前置放大器，及高速數(shù)位介面和鎖相回路 (PLL) 設(shè)備。