惠瑞捷推出可擴(kuò)充等級(jí)測(cè)試機(jī)V93000 Smart Scale

時(shí)間：2011-09-07 08:13:00

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[導(dǎo)讀]李洵穎／臺(tái)北自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備商愛(ài)德萬(wàn)(Advantest)集團(tuán)旗下子公司惠瑞捷(Verigy)發(fā)布半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)首見(jiàn)可擴(kuò)充、具成本效益的測(cè)試機(jī)種V93000 Smart Scale，專(zhuān)為3D設(shè)備架構(gòu)及28奈米設(shè)計(jì)的高階半導(dǎo)體量身打造。臺(tái)灣惠瑞

李洵穎／臺(tái)北自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備商愛(ài)德萬(wàn)(Advantest)集團(tuán)旗下子公司惠瑞捷(Verigy)發(fā)布半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)首見(jiàn)可擴(kuò)充、具成本效益的測(cè)試機(jī)種V93000 Smart Scale，專(zhuān)為3D設(shè)備架構(gòu)及28奈米設(shè)計(jì)的高階半導(dǎo)體量身打造。

臺(tái)灣惠瑞捷總經(jīng)理陳瑞銘表示，Smart Scale系列為創(chuàng)新智慧型測(cè)試機(jī)，采用per-pin架構(gòu)設(shè)計(jì)，與惠瑞捷生產(chǎn)驗(yàn)證V93000平臺(tái)完全相容。智慧測(cè)試主要特色為每個(gè)針腳皆可依其時(shí)脈域測(cè)試，透過(guò)確切比對(duì)該設(shè)備須測(cè)試的數(shù)據(jù)率要求達(dá)到全面的測(cè)試。其他功能包括供電調(diào)節(jié)、顫動(dòng)注入及設(shè)定通訊；模擬系統(tǒng)壓力測(cè)試(System-Like Stress Test)可達(dá)自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備等級(jí)，增進(jìn)故障覆蓋率。

惠瑞捷測(cè)試事業(yè)部副總 Hans-Juergen Wagner 表示，該公司以創(chuàng)新V93000 Smart Scale Generation測(cè)試系統(tǒng)與針腳量測(cè)模組展現(xiàn)引領(lǐng)智慧測(cè)試方式科技領(lǐng)域的能力，提供客制化方案，降低客戶(hù)的測(cè)試成本。

陳瑞銘指出，Smart Scale測(cè)試機(jī)等級(jí)分別為A、C、S與L等4種，各有不同尺寸的測(cè)試頭，惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶(hù)具體運(yùn)用滿(mǎn)足不同的需求。因測(cè)試機(jī)等級(jí)彼此相容，當(dāng)IC生產(chǎn)數(shù)量因設(shè)備壽命有所調(diào)整，用戶(hù)可簡(jiǎn)捷快速地自任一Smart Scale等級(jí)調(diào)整至另一等級(jí)；! 目前尚無(wú)其他自動(dòng)測(cè)試設(shè)備廠商能夠做到這點(diǎn)。

惠瑞捷的獨(dú)特設(shè)計(jì)技術(shù)表現(xiàn)于并行測(cè)試與產(chǎn)業(yè)首見(jiàn)的全能晶圓測(cè)試方案：測(cè)試高階晶片內(nèi)建系統(tǒng)單晶片(SOC)設(shè)備、系統(tǒng)級(jí)封裝(SiP) 設(shè)備與晶圓級(jí)晶片封裝(WLCSPs)的嚴(yán)格產(chǎn)能需求。