日本工程使閃存測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)小型及低耗電化

時(shí)間：2010-11-29 06:18:00

關(guān)鍵字：測(cè)試儀芯片 IC JAPAN

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[導(dǎo)讀]愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試集團(tuán)（Advantest Group）的日本工程（Japan Engineering）支持小型低耗電閃存的測(cè)試儀“B8502”及工程師站（Engineering Station）“B8502ES”，2010年11月起上市。這兩款產(chǎn)品還將在2010年12月舉辦的“SEM

愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試集團(tuán)（Advantest Group）的日本工程（Japan Engineering）支持小型低耗電閃存的測(cè)試儀“B8502”及工程師站（Engineering Station）“B8502ES”，2010年11月起上市。這兩款產(chǎn)品還將在2010年12月舉辦的“SEMICON Japan 2010”上展示。

“B8502”采用了集測(cè)試功能成于一枚芯片的IC。由此，在可將4736個(gè)信號(hào)引腳和256個(gè)電源收納在約1.0m3容積內(nèi)的同時(shí)，還將耗電量降至4kVA。這樣，在削減了設(shè)備投資和運(yùn)行成本的情況下，還能夠同時(shí)測(cè)量256個(gè)芯片。試驗(yàn)頻率為66MHz，價(jià)格為7000萬(wàn)日元以上?！癇8502ES”是用于“B8502”的工程師站。采用了使用了同一測(cè)試模塊的PIN卡，并且使用了相同構(gòu)造的插板。其結(jié)果，對(duì)從調(diào)試到量產(chǎn)能夠提供相同的操作環(huán)境，無(wú)需改變開(kāi)發(fā)部門(mén)編制的程序，即可直接作為量產(chǎn)用測(cè)試程序使用。價(jià)格為1200萬(wàn)日元以上。

另外，雖然不在“SEMICON Japan 2010”上展出，但該公司從2010年11月已經(jīng)開(kāi)始了老化測(cè)試儀“P3505”的銷(xiāo)售。標(biāo)配了基于硬件控制的閃存測(cè)量功能，據(jù)稱(chēng)測(cè)試時(shí)間比該公司原設(shè)備縮短了90％。并且，通過(guò)同時(shí)測(cè)試約12288個(gè)芯片，提高了測(cè)試儀的處理能力。測(cè)試頻率最大為20MHz，溫度范圍為-10～+150℃，價(jià)格為5000萬(wàn)日元以上。（記者：長(zhǎng)廣恭明）

B8502” （點(diǎn)擊放大）

“B8502ES” （點(diǎn)擊放大）

“P3505” （點(diǎn)擊放大）