數(shù)字測試儀下的參數(shù)測試單元的設(shè)計(jì)

隨著電子技術(shù)的迅速發(fā)展，數(shù)字集成電路得到了廣泛的應(yīng)用，數(shù)字芯片已經(jīng)滲透到各個(gè)生產(chǎn)、生活的領(lǐng)域。與之相對應(yīng)的，各個(gè)領(lǐng)域?qū)?shù)字芯片的性能、穩(wěn)定性、可靠性也有了更高的要求。數(shù)字測試儀作為測試芯片性能最主要的技術(shù)正是在這樣的環(huán)境下迅速發(fā)展起來。

整個(gè)數(shù)字測試儀通常包含了五大部件：電源模塊、通信模塊、參數(shù)測量單元、數(shù)字測量單元和主控制模塊。其中，參數(shù)測量單元和數(shù)字測量單元是整個(gè)數(shù)字測量儀的核心部件，參數(shù)測量單元直接決定著整個(gè)系統(tǒng)測試儀的模擬參數(shù)測量精度和應(yīng)用范圍。因此，設(shè)計(jì)出具備高精度、高速度的參數(shù)測量單元的數(shù)字測試儀具有很高挑戰(zhàn)性。

本文提出了一種高速度高精度的參數(shù)測量單元。該單元應(yīng)用于數(shù)字測試儀,具備16通道選通測試能力和可編程指令集，同時(shí)自帶的PID循環(huán)驗(yàn)證和Kelvin四線連接技術(shù)可以有效提高整個(gè)模擬參數(shù)測量精度，使測量儀在低于50Ω的負(fù)載情況下仍能維持不超過千分之一的測試誤差。

數(shù)字測試儀框架

數(shù)字測試儀框架如圖1所示，采用Cyclone系列的FPGA作為主控制芯片。該芯片能夠有效控制各種高速并行D/A、A /D進(jìn)行測試；同時(shí)對大量的通道選通繼電器、存儲器陣列、數(shù)字信號采集芯片等進(jìn)行準(zhǔn)確控制。由圖1可以看出，測試儀的模塊很多，但需要指出的是模擬參數(shù)單元占到了整個(gè)面積和成本的三分之一以上，這也顯示了參數(shù)測量單元的重要性。

圖1 數(shù)字測試儀架構(gòu)圖

參數(shù)測試單元硬件設(shè)計(jì)

1 測試單元整體架構(gòu)

參數(shù)測試單元如圖2所示，總共包括了三大部分，第一部分參數(shù)測試通道主要由各種功能的通道組成，包含了16個(gè)參數(shù)測量通道用來測試芯片的16個(gè)引腳；以及多個(gè)輔助引腳，這些輔助引腳可以輔助Kelvin連接評估傳輸線阻抗和模擬總線交互功能。

圖2 參數(shù)測試單元架構(gòu)

這些測試通道由測量單元的第二部分：繼電器陣列組控制。繼電器除了對測試通道進(jìn)行開關(guān)控制外，還能夠控制該單元的功能操作和時(shí)序操作，對測試精度有很大的影響。同時(shí),這些繼電器具備可編程功能,能夠根據(jù)用戶需求適時(shí)更改。提高了整個(gè)測試系統(tǒng)的靈活性，有助于系統(tǒng)以后的升級。

最后是信號處理部分，這部分電路主要由高速16位DAC、ADC以及各種運(yùn)算放大器、儀器放大器以及存儲器構(gòu)成,主要進(jìn)行各種參數(shù)測試、存儲和反饋。

2 高精度信號測量模塊的實(shí)現(xiàn)

要實(shí)現(xiàn)高精度信號測量模塊，必須具有高精度的DAC和ADC轉(zhuǎn)換芯片，這里采用了TI公司的 DAC702和ADI公司的AD976來進(jìn)行16位精度的信號輸出和回采。測量模塊原理如圖3所示，測試單元搭配了5個(gè)千分之一精度的精密電阻：50Ω、 500Ω、50kΩ、500kΩ和5MΩ來劃分不同的測試范圍。為了保證足夠的測試精度，本測量單元還專門劃分JDQF和JDQS，使得整個(gè)測試系統(tǒng)具備 Kelvin連接要素，可以分別向DUT（待測單元）提供FORCE線、SENCE線、LOW FORCE和LOW SENCE線，具備了當(dāng)負(fù)載為小電阻情況下進(jìn)行精確測量的能力。

參數(shù)測試單元軟件設(shè)計(jì)

1 通信協(xié)議

與傳統(tǒng)測試儀不同，該測試儀采用了Altera系列的FPGA芯片作為主控制芯片，這意味著該測試系統(tǒng)無法借助MCU核自身的指令系統(tǒng)來簡化整個(gè)系統(tǒng)的指令系統(tǒng)。本測試儀的內(nèi)部指令，全部采用了自定義的指令系統(tǒng)，能夠完整的對系統(tǒng)測試時(shí)的各個(gè)動作進(jìn)行操作和切換,同時(shí)可以靈活地根據(jù)客戶需要進(jìn)行各種設(shè)計(jì)和改進(jìn)，不會因?yàn)槭芟抻贛CU內(nèi)核而出現(xiàn)系統(tǒng)瓶頸，在整個(gè)設(shè)計(jì)中具備了非常強(qiáng)的自主知識產(chǎn)權(quán)。

圖3 測量模塊原理圖

整個(gè)測試儀是基于PLX9054芯片進(jìn)行的32位數(shù)據(jù)的PCI通信。為了協(xié)同整個(gè)測試系統(tǒng)控制，參數(shù)測試單元的控制設(shè)備采用了32位PCI 數(shù)據(jù)中的24位作為內(nèi)部總線來控制各種測試動作，實(shí)現(xiàn)控制狀態(tài)的轉(zhuǎn)換。整個(gè)數(shù)據(jù)流如圖4所示，每個(gè)數(shù)據(jù)包包含了24位數(shù)據(jù)，其中高8位定義為地址碼，用來解釋整個(gè)系統(tǒng)的各種操作，包含了數(shù)字和模擬參數(shù)測試的各個(gè)動作。低16位為測試數(shù)據(jù)位，用來傳輸測試必須的各種數(shù)據(jù)。

其中，參數(shù)測量的指令包含了 FVPMU加電壓測量指令，該指令包含了5個(gè)命令地址：0011_1100、0011_1101、0011_1110、0011_1111、 0100_0000依次表示測量中選取采樣電阻命令、加壓命令、電流保護(hù)命令、上限電流和下限電流保護(hù)命令。此外參數(shù)測量指令還有類似的FIPMU加電流測量指令等各種測量指令。

圖4 數(shù)據(jù)流格式