這一次SIA的晶圓制造產能統(tǒng)計報告公布時間比平常晚了很多,通常第一季報告會在5月中或是5月底出爐;SIA并沒有解釋報告公布延遲的原因,但值得注意的是,SIA數(shù)據表格中很多前一季的數(shù)字都有更動。這意味著該報告可能在 2011年第一季與 2010年第四季的數(shù)據比較上出現(xiàn)問題,得做一些確認與更正。
2010年第四季的統(tǒng)計數(shù)據變動最多的,是在MOS制程技術中介于200奈米至120奈米節(jié)點之間的項目(主要是0.18微米、0.15微米與0.13微米制程);此外還有晶圓代工廠的相關數(shù)據。
根據SICAS報告,全球 2011年第一季晶圓廠產能利用率為93.7%,上一季數(shù)據則為92.9%,但新舊制程節(jié)點,以及8寸、12寸晶圓廠的產能利用率狀況大相逕庭。0.13微米以上制程的產能利用率在80~90%之間;其中尖端的65奈米制程節(jié)點產能利用率則較上一季的97%,微幅滑落到95.8%。
60奈米以下制程節(jié)點產能達到每周9,875K片初始晶圓,較一年前同期成長了38.9%;整體初始晶圓產能在第一季成長了41%,產能利用率為98.9%。至于第一季整體8寸晶圓產能利用率為89.6%, 12寸晶圓產能利用率則為97%。
第一季晶圓代工廠產能在整體半導體制造產能中,占據19.6%的比例,產能穩(wěn)定成長為每周441.9k片晶圓,較去年同期成長15%;整體晶圓代工廠產能利用率為97.0%。
編譯:Judith Cheng
(參考原文: SIA releases Q1 SICAS fab capacity report,by Peter Clarke)