NI宣布任命Ritu Favre為高級(jí)副總裁兼半導(dǎo)體業(yè)務(wù)總經(jīng)理

日前，美國(guó)國(guó)家儀器(National Instruments NI)宣布任命Ritu Favre為高級(jí)副總裁兼半導(dǎo)體業(yè)務(wù)總經(jīng)理。她將負(fù)責(zé)制定NI在半導(dǎo)體行業(yè)的戰(zhàn)略方向，推動(dòng)業(yè)務(wù)增長(zhǎng)并定義滿足客戶所需的產(chǎn)品，服務(wù)及功能。

Favre此前在RF和半導(dǎo)體行業(yè)具有豐富經(jīng)驗(yàn)。曾經(jīng)擔(dān)任過(guò)指紋傳感器供應(yīng)商N(yùn)EXT Biometrics的首席執(zhí)行官和測(cè)試機(jī)供應(yīng)商Cohu董事會(huì)成員。在NEXT Biometrics之前，F(xiàn)avre是指紋識(shí)別公司Synaptics的高級(jí)副總裁兼總經(jīng)理。此前，她在1988年加入摩托羅拉，而后領(lǐng)導(dǎo)了飛思卡爾的射頻功率業(yè)務(wù)部。

Ritu Favre表示：“我相信NI能夠抓住5G商業(yè)化和當(dāng)今以軟件為中心的智能設(shè)備所帶來(lái)的巨大機(jī)遇。我期待利用我的經(jīng)驗(yàn)可以幫助NI加快半導(dǎo)體市場(chǎng)的發(fā)展，同時(shí)推動(dòng)業(yè)績(jī)持續(xù)增長(zhǎng)。”

NI總裁兼首席運(yùn)營(yíng)官Eric Starkloff說(shuō)道：“Ritu在半導(dǎo)體行業(yè)擁有超過(guò)25年的經(jīng)驗(yàn)，對(duì)我們的目標(biāo)市場(chǎng)和客戶有深刻的理解。她是一位經(jīng)驗(yàn)豐富的領(lǐng)導(dǎo)者，熱衷于幫助團(tuán)隊(duì)取得成果。我們預(yù)計(jì)Ritu令人印象深刻的增長(zhǎng)記錄將對(duì)我們的半導(dǎo)體行業(yè)重點(diǎn)產(chǎn)生重大影響，目前該行業(yè)正處在強(qiáng)勁的上升期。”

NI加大半導(dǎo)體領(lǐng)域投入

作為基礎(chǔ)研發(fā)用軟件及儀器供應(yīng)商來(lái)說(shuō)，NI很早以前就與全球知名的半導(dǎo)體廠商開(kāi)展了廣泛合作，近幾年來(lái)，伴隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，NI更是逐步加大在半導(dǎo)體領(lǐng)域的投入。

NI的產(chǎn)品可覆蓋實(shí)驗(yàn)室特征分析、晶圓測(cè)試(WAT，CP，晶圓可靠測(cè)試等)、FT測(cè)試以及SLT系統(tǒng)級(jí)測(cè)試的方案，不論是設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓制造、封裝過(guò)程中或是封裝完成，針對(duì)RFIC、混合信號(hào)芯片、甚至最新3D IC和系統(tǒng)級(jí)封裝(SIP)等不同測(cè)試類型和趨勢(shì)，都可以通過(guò)統(tǒng)一的平臺(tái)和設(shè)備搞定。

針對(duì)目前研發(fā)到量產(chǎn)測(cè)試環(huán)節(jié)存在的差距，NI于2014年推出了半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(Semiconductor Test System，簡(jiǎn)稱STS)，提供了統(tǒng)一平臺(tái)、可擴(kuò)展、低成本、開(kāi)放合作等特性。

在今年NIWEEK2019上，NI宣布與東京電子、FormFactor和Reid-Ashman聯(lián)合演示5G毫米波半導(dǎo)體晶圓探針測(cè)試解決方案。

5G毫米波半導(dǎo)體晶圓探針測(cè)試解決方案

ADI儀器和精密技術(shù)業(yè)務(wù)部總經(jīng)理Mike O'Sullivan也在NIWEEK上表示，半導(dǎo)體公司在測(cè)試上始終面臨減少測(cè)試時(shí)間和成本的壓力，有效利用自動(dòng)化是其中最關(guān)鍵的第一步。但這還不夠，在實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)車間使用不同的測(cè)試解決方案會(huì)造成額外的重復(fù)工作，致使效率變差，因此因這些團(tuán)隊(duì)之間的重復(fù)工作而產(chǎn)生額外的低效率。“打破工程和生產(chǎn)之間的障礙并不是新鮮想法，但傳統(tǒng)的ATE測(cè)試解決方案已經(jīng)是分別針對(duì)實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)環(huán)境進(jìn)行了優(yōu)化，這使得雙方打通很難實(shí)現(xiàn)。”Mike說(shuō)道。“因此在ADI，推出了一項(xiàng)名為L(zhǎng)EAP(Leveraging Evaluation to Accelerate Production)的計(jì)劃，該計(jì)劃通過(guò)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試IP驗(yàn)證，最終將其復(fù)用到量產(chǎn)環(huán)節(jié)。”

這項(xiàng)計(jì)劃只有NI的STS最為合適，2014年，公司在晶圓廠和實(shí)驗(yàn)室都部署了NI STS產(chǎn)品進(jìn)行試點(diǎn)。ADI高度認(rèn)可STS系統(tǒng)的靈活性，目前STS廣泛應(yīng)用在晶圓探針測(cè)試和最終的封裝測(cè)試中，產(chǎn)品涵蓋從混合信號(hào)器件到RFIC的組合，并且未來(lái)將會(huì)繼續(xù)擴(kuò)展。

在今年ADI的供應(yīng)商大會(huì)上，NI也榮獲了年度最佳供應(yīng)商獎(jiǎng)以及最佳設(shè)備與服務(wù)獎(jiǎng)。

與此同時(shí)，NI宣布與半導(dǎo)體測(cè)試解決方案專業(yè)品牌蔚華科技合作，蔚華未來(lái)將負(fù)責(zé)NI大中華區(qū)STS的經(jīng)銷。