NI宣布任命Ritu Favre為高級副總裁兼半導體業(yè)務總經理

日前，美國國家儀器(National Instruments NI)宣布任命Ritu Favre為高級副總裁兼半導體業(yè)務總經理。她將負責制定NI在半導體行業(yè)的戰(zhàn)略方向，推動業(yè)務增長并定義滿足客戶所需的產品，服務及功能。

Favre此前在RF和半導體行業(yè)具有豐富經驗。曾經擔任過指紋傳感器供應商NEXT Biometrics的首席執(zhí)行官和測試機供應商Cohu董事會成員。在NEXT Biometrics之前，F(xiàn)avre是指紋識別公司Synaptics的高級副總裁兼總經理。此前，她在1988年加入摩托羅拉，而后領導了飛思卡爾的射頻功率業(yè)務部。

Ritu Favre表示：“我相信NI能夠抓住5G商業(yè)化和當今以軟件為中心的智能設備所帶來的巨大機遇。我期待利用我的經驗可以幫助NI加快半導體市場的發(fā)展，同時推動業(yè)績持續(xù)增長。”

NI總裁兼首席運營官Eric Starkloff說道：“Ritu在半導體行業(yè)擁有超過25年的經驗，對我們的目標市場和客戶有深刻的理解。她是一位經驗豐富的領導者，熱衷于幫助團隊取得成果。我們預計Ritu令人印象深刻的增長記錄將對我們的半導體行業(yè)重點產生重大影響，目前該行業(yè)正處在強勁的上升期。”

NI加大半導體領域投入

作為基礎研發(fā)用軟件及儀器供應商來說，NI很早以前就與全球知名的半導體廠商開展了廣泛合作，近幾年來，伴隨著半導體產業(yè)的蓬勃發(fā)展，NI更是逐步加大在半導體領域的投入。

NI的產品可覆蓋實驗室特征分析、晶圓測試(WAT，CP，晶圓可靠測試等)、FT測試以及SLT系統(tǒng)級測試的方案，不論是設計驗證、晶圓制造、封裝過程中或是封裝完成，針對RFIC、混合信號芯片、甚至最新3D IC和系統(tǒng)級封裝(SIP)等不同測試類型和趨勢，都可以通過統(tǒng)一的平臺和設備搞定。

針對目前研發(fā)到量產測試環(huán)節(jié)存在的差距，NI于2014年推出了半導體測試系統(tǒng)(Semiconductor Test System，簡稱STS)，提供了統(tǒng)一平臺、可擴展、低成本、開放合作等特性。

在今年NIWEEK2019上，NI宣布與東京電子、FormFactor和Reid-Ashman聯(lián)合演示5G毫米波半導體晶圓探針測試解決方案。

5G毫米波半導體晶圓探針測試解決方案

ADI儀器和精密技術業(yè)務部總經理Mike O'Sullivan也在NIWEEK上表示，半導體公司在測試上始終面臨減少測試時間和成本的壓力，有效利用自動化是其中最關鍵的第一步。但這還不夠，在實驗室和生產車間使用不同的測試解決方案會造成額外的重復工作，致使效率變差，因此因這些團隊之間的重復工作而產生額外的低效率。“打破工程和生產之間的障礙并不是新鮮想法，但傳統(tǒng)的ATE測試解決方案已經是分別針對實驗室或生產環(huán)境進行了優(yōu)化，這使得雙方打通很難實現(xiàn)。”Mike說道。“因此在ADI，推出了一項名為LEAP(Leveraging Evaluation to Accelerate Production)的計劃，該計劃通過研發(fā)實驗室進行自動化測試IP驗證，最終將其復用到量產環(huán)節(jié)。”

這項計劃只有NI的STS最為合適，2014年，公司在晶圓廠和實驗室都部署了NI STS產品進行試點。ADI高度認可STS系統(tǒng)的靈活性，目前STS廣泛應用在晶圓探針測試和最終的封裝測試中，產品涵蓋從混合信號器件到RFIC的組合，并且未來將會繼續(xù)擴展。

在今年ADI的供應商大會上，NI也榮獲了年度最佳供應商獎以及最佳設備與服務獎。

與此同時，NI宣布與半導體測試解決方案專業(yè)品牌蔚華科技合作，蔚華未來將負責NI大中華區(qū)STS的經銷。