安捷倫的檢測(cè)創(chuàng)新在兩項(xiàng)重要會(huì)展中贏得工業(yè)獎(jiǎng)

安捷倫科技（NYSE:A）近日宣布，公司最近推出的檢測(cè)創(chuàng)新在四月份的兩項(xiàng)重要會(huì)展中贏得幾項(xiàng)工業(yè)獎(jiǎng)。在Nepcon Shanghai 2008上，Agilent Medalist x6000自動(dòng)X射線檢測(cè)解決方案贏得SMT China雜志頒發(fā)給檢測(cè)（AXI門(mén)類）的第二屆SMT China遠(yuǎn)見(jiàn)獎(jiǎng)。今年早些時(shí)候，Medalist x6000也榮獲Test and Measurement World 雜志2008 年最佳測(cè)試獎(jiǎng)的榮譽(yù)獎(jiǎng)。作為Medalist VTEP v2.0 供電無(wú)矢量測(cè)試套件組成部分的Agilent網(wǎng)絡(luò)參數(shù)測(cè)量技術(shù)，也在Nepcon Shanghai 2008上贏得測(cè)試系統(tǒng)∕設(shè)備門(mén)類中的電子制造（EM）亞洲創(chuàng)新獎(jiǎng)。Agilent 公司的覆蓋擴(kuò)展技術(shù)是VTEP V2.0供電套件中最新增添的有限接入解決方案，在拉斯維加斯的APEX展會(huì)上被選定為 IPC創(chuàng)新技術(shù)中心獎(jiǎng)的勝出者。行業(yè)主導(dǎo)出版物和組織把這些獎(jiǎng)項(xiàng)授予市場(chǎng)上最富創(chuàng)新的技術(shù)、應(yīng)用、產(chǎn)品和服務(wù)。Agilent 測(cè)量系統(tǒng)部營(yíng)銷總監(jiān)NK Chari表示：“對(duì)業(yè)界認(rèn)可我們?cè)跈z測(cè)領(lǐng)域的創(chuàng)新，我們深感榮幸，我們要通過(guò)不斷創(chuàng)新推出最完整的成套檢測(cè)解決方案，以幫助制造商應(yīng)對(duì)技術(shù)和商務(wù)的挑戰(zhàn)?！逼渌畔?Agilent Medalist x6000自動(dòng)X射線檢測(cè)系統(tǒng)是世界上最快的3-D在線AXI解決方案。它能降低轉(zhuǎn)換成本和資金投入，更把缺陷覆蓋率提高到95%以上。制造商在為克服各種有限接入問(wèn)題而尋找通用的工具套件時(shí)，AgilentMedalist VTEP v2.0供電無(wú)矢量測(cè)試套件是領(lǐng)先的在線測(cè)試武庫(kù)。它包括另一項(xiàng)獲獎(jiǎng)技術(shù) — iVTEP — 可用于測(cè)試超小封裝的器件，以及網(wǎng)絡(luò)參數(shù)測(cè)量和覆蓋擴(kuò)展。Agilent 也提供業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的自動(dòng)焊膏和光學(xué)檢測(cè)解決方案，如下一代光學(xué)系統(tǒng)，低對(duì)比度元件定位，固態(tài)建模模型，以及改進(jìn)的焊膏分析算法。在AOI產(chǎn)業(yè)中，這些能力可幫助制造商提供最高的故障覆蓋率，速度和靈活性。