R&S公司的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀ZNB使用SET2DIL信號(hào)完整性技術(shù)來(lái)驗(yàn)證PCB的高速差分總線(xiàn)性能

使用SET2DIL（單端到差分插入損耗）算法來(lái)驗(yàn)證印刷電路板（PCB）上高速差分傳輸線(xiàn)的性能。R&S ZNB高性能矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供極高的動(dòng)態(tài)范圍和測(cè)試精度，極短的掃描時(shí)間和簡(jiǎn)便的操作。同時(shí)，R&S ZNB提高了時(shí)域測(cè)試性能，并結(jié)合IPC-TM-650認(rèn)證的SET2DIL技術(shù)，它可以對(duì)時(shí)域的反射(TDR)和傳輸(TDT)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理從而得到PCB線(xiàn)的差分插入損耗。

介質(zhì)與導(dǎo)體損耗所造成信號(hào)衰減與失真是設(shè)計(jì)與仿真高速差分傳輸線(xiàn)時(shí)最重要的考慮因素。幾GHz傳輸線(xiàn)的插入損耗在建模時(shí)必須正確地仿真其實(shí)際的性能，并在實(shí)際設(shè)計(jì)時(shí)驗(yàn)證仿真假設(shè)的正確性。

創(chuàng)新的SET2DIL算法可以使用兩端口的時(shí)域測(cè)量來(lái)實(shí)現(xiàn)四端口頻域測(cè)量SDD21。這種方法用單個(gè)探頭通過(guò)測(cè)量單端TDR/TDT（兩端口矢網(wǎng)）來(lái)獲取差分插入損耗（SDD21）。使用它結(jié)合羅德與施瓦茨公司的R&S ZNB，可以取代當(dāng)前的兩探頭四端口的測(cè)量方法。四端口的方法更適合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。而兩端口方法能夠使SDD21的測(cè)量更加簡(jiǎn)單，而被更多用戶(hù)所接受，其中也包括了大批量生產(chǎn)的工廠。

羅德與施瓦茨公司將SET2DIL算法集成到ZNB矢網(wǎng)中，使其能提供無(wú)可比擬的測(cè)量精度和速度，從而滿(mǎn)足了大批量的PCB板差損測(cè)量的需求。”羅德與施瓦茨矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品市場(chǎng)部經(jīng)理Jonathan Leitner說(shuō)。

R&S ZNB具備增強(qiáng)因子功能，它可以讓低頻的分析儀替代高頻的分析儀（更昂貴）來(lái)實(shí)現(xiàn)時(shí)域反射(TDR)和時(shí)域傳輸(TDT)的功能。與高頻的設(shè)備相比，R&S ZNB可以通過(guò)一個(gè)線(xiàn)性因子在時(shí)域變化中實(shí)現(xiàn)更寬的頻率范圍，并保持原有的掃描范圍，掃描點(diǎn)數(shù)不變，而且沒(méi)有其他的附加前提。使用更高的分辨率增強(qiáng)因子，測(cè)量的數(shù)據(jù)會(huì)通過(guò)線(xiàn)性預(yù)測(cè)的方法對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行插值。因此，時(shí)域上的分辨率得以提高。

R&S ZNB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可以覆蓋9kHz到4.5GHz或者8GHz，動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)140dB，401個(gè)掃描點(diǎn)的掃描時(shí)間為4ms，除此之外，他還具有極低的軌跡噪聲和出色的測(cè)量穩(wěn)定度。 R&S ZNB主要面向有源和無(wú)源射頻器件的研發(fā)和生產(chǎn)的測(cè)試需求。

R&S ZNB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還具備超大的觸摸顯示屏可以使用戶(hù)輕易地實(shí)現(xiàn)儀器的功能，而且每個(gè)功能的實(shí)現(xiàn)不超過(guò)三個(gè)操作步驟。屏幕為結(jié)果顯示預(yù)留的很大的空間，即使是復(fù)雜的測(cè)量也能獲得清晰直觀的顯示效果。