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[導(dǎo)讀]電子技術(shù)的電控電路常采用 CMOS邏輯控制系統(tǒng),自行設(shè)計(jì)和安裝了簡(jiǎn)易集成邏輯門(mén)電路測(cè)試儀也不難事。只要掌握了各種邏輯門(mén)電路輸入和輸出的邏輯關(guān)系,通過(guò)該測(cè)試儀即可很快判斷集成電路的好壞。一、測(cè)試儀電路構(gòu)成及原

電子技術(shù)的電控電路常采用 CMOS邏輯控制系統(tǒng),自行設(shè)計(jì)和安裝了簡(jiǎn)易集成邏輯門(mén)電路測(cè)試儀也不難事。只要掌握了各種邏輯門(mén)電路輸入和輸出的邏輯關(guān)系,通過(guò)該測(cè)試儀即可很快判斷集成電路的好壞。

一、測(cè)試儀電路構(gòu)成及原理

1 .電路構(gòu)成該測(cè)試儀電路由 +12V 直流電源、 16 只小型豆型開(kāi)關(guān)、 15 只發(fā)光二極管、 15 只普通碳膜電阻 (1k Ω O . 25W) 和一個(gè) 16 腳的集成電路管座等組成。為了便于測(cè)試判斷和分析,對(duì)于 14 腳集成電路,開(kāi)關(guān) K1 和發(fā)光二極管 D1 對(duì)應(yīng)控制集成塊的①腳,開(kāi)關(guān) K2 和發(fā)光二極管 D2 對(duì)應(yīng)控制集成塊的②腳,依次類推,直到開(kāi)關(guān) K13 和發(fā)光二極管 D13 對(duì)應(yīng)控制集成塊的⑩腳,一般⑦腳接地.由 K7 控制選擇, K14 必須合上控制⑩腳接 +12V 電源,對(duì)于測(cè)試 14 腳的集成電路管腳號(hào)見(jiàn)圖中內(nèi)部標(biāo)識(shí).一定要與集成塊管腳對(duì)號(hào)插入。對(duì)于 16 腳集成電路,開(kāi)關(guān) K1 和發(fā)光二極管 D1 對(duì)應(yīng)控制集成塊的①腳,開(kāi)關(guān) K2 和發(fā)光二極管 D2 對(duì)應(yīng)控制集成塊的②腳,依次類推到第⑦腳 ( 開(kāi)關(guān) K7 置于 +12V 電源位置 ) ,⑥腳接地,從開(kāi)關(guān) K 9 ' 、 K 10 ' 、 K 11 ' 、 K 12 ' 、 K 13 ' 、 K 14 ' 、 K 15 ' 、 K14 分別控制⑨腳到⑩腳的輸入和控制發(fā)光二極管 D9 、 D 10 ' 一直到 D 16 ' 的指示,根據(jù)各種集成塊選擇接 +12V 電源。

2 .基本測(cè)試原理集成邏輯門(mén)電路各個(gè)管腳輸入電平高或低可以由開(kāi)關(guān) K 來(lái)選擇,當(dāng)輸入為高電平時(shí),將對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)合上;輸入電平為低時(shí)對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)斷開(kāi),當(dāng)各組對(duì)應(yīng)的邏輯輸出電平為高電平時(shí).對(duì)應(yīng)的發(fā)光二極管點(diǎn)亮:輸出電平為低時(shí),發(fā)光二極管不發(fā)光。通過(guò)不同輸入電平作用使輸出電平變化和實(shí)際邏輯運(yùn)算電平關(guān)系相對(duì)比,可以判定和分析其好壞。制作本測(cè)試器,有兩點(diǎn)要引起注意: (1) 必須考慮集成電路的管腳第⑦腳與第⑧腳的接地轉(zhuǎn)換。 (2) 集成電路的最后腳⑩腳不一定接電源正端,需要增加開(kāi)關(guān) K14 隔離。如: CD1413 的 16 腳就不接電源正端。

二、測(cè)試舉例將各型號(hào)的集成電路制作成卡片

根據(jù)卡片的對(duì)應(yīng)腳接通相應(yīng)的開(kāi)關(guān) K ,合上電源開(kāi)關(guān) K0 。

1 .測(cè) CC4011 時(shí).卡片如圖 2 測(cè)量時(shí)先將 K14 合上 ( 加電源 ) , K7 置在接地位置。此被測(cè)集成電路為 2 輸入四與非門(mén),將 K1 、 K2 開(kāi)關(guān)接通,③腳輸出低電平。

D3 不亮, D1 、 D2 亮。如果 Kl 、 K2 斷開(kāi),則對(duì)應(yīng)的輸出端③腳輸出高電平, D3 亮, D1 ,。 D2 不亮。只接通 K1 、 K2 一個(gè)時(shí), D1 、 D2 有一個(gè)亮,③腳也輸出低電平,發(fā)光二極管 D3 也不亮。其他門(mén)測(cè)量也如此.不再敘述。 。

2 .測(cè) CC 4001 .卡片如圖 3 測(cè)量時(shí)先將 K14 合上加電源, K7 置接地位置。當(dāng) K12 、 K13 都未接通時(shí),對(duì)應(yīng)的輸出端⑩腳輸出高電平, D11 亮,只要 K12 、 K13 一個(gè)合上,則 11 腳輸出低電平, D11 不亮, K12 、 K13 都合上,則 11 腳輸出低電平, D11 不亮。其他門(mén)測(cè)量也如此。

3 .測(cè)量 CC4071 卡片如圖 4 測(cè)量時(shí)先將 K14 合上 ( 加電源 ) . K7 置接地位置。當(dāng) K12 、 K13 都未接通時(shí),對(duì)應(yīng)的輸出端 11 腳輸出低電平, D11 不亮,只要 K12 、 K13 合上一個(gè), D13 , D12 有一個(gè)對(duì)應(yīng)發(fā)光二極管亮,則 11 腳輸出高電平, D11 亮, K12 、 K13 都合上. D13 、 D12 都亮,則⑩腳輸出高電平, D 1l 亮。其他門(mén)測(cè)量也如此。

4 .測(cè)量 CC4069 卡片如圖 5 測(cè)量時(shí)先將 K14 合上 ( 加電源 ) , K7 置接地位置。當(dāng)合上 K1 時(shí). Dl 發(fā)光二極管亮,②腳輸出低電平, D2 不亮。當(dāng)斷開(kāi) K1 時(shí),②腳輸出高電平, D2 亮。其他門(mén)測(cè)量也如此。

5 .測(cè) CC4081 .卡片如圖 6 此集成電路為 2 輸入四與門(mén)。

測(cè)量時(shí)先將 K14 合上加電源. K7 置接地位置。將 K1 、 K2 開(kāi)關(guān)接通, Dl 、 D2 發(fā)光二管亮,輸出端③腳輸出高電平,發(fā)光二極管 D3 亮。

如果 Kl 、 K2 斷開(kāi),則③腳輸出低電平, D1 不亮,只接通 Kl 、 K2 一個(gè)時(shí), Dl 、 D2 有一個(gè)發(fā)光二極管亮,⑧腳也輸出低電平, Dl 也不亮。其他門(mén)測(cè)量也如此。

6 .測(cè) CC4072 .卡片如圖 7 .此集成電路為 4 輸入雙或門(mén)。

測(cè)量時(shí)先將 K14 合上 ( 加電源 ) . K7 置接地位置。只要輸入端②、③、④、‘⑤有一腳是高電平 (K2 、 K3 、 K4 、 K5 腳有一個(gè)接通或全接通, D2 、 D3 、 D4 、 D5 有一個(gè)發(fā)光二極管亮或全亮 ) ,①腳輸出高電平。

發(fā)光二極管 Dl 亮, K2 、 K3 、 K4 、 K5 全斷開(kāi),①腳輸出低電平. Dl 不亮。注:另一個(gè)或 I-] 測(cè)試也如此。

7 .測(cè) CDl413 ,卡片如圖 8CDl413 為 16 腳集成電路,測(cè)量時(shí)先將 K 9 ' 合上給集成塊供電 (D9 亮 ) , Kl 置于 +12V 電源位置 (Dl 亮 ) ,說(shuō)明此路非門(mén)工作正常.用此方法可以依次測(cè)量其他 6 路非門(mén)是否正常。 NEC 公司生產(chǎn)的斗 PC2002 系列同 CDl413 功能作用和管腳排列完全一樣。

8 .測(cè)/ VICl4043 卡片如圖 9MCl4043 為 16 腳集成電路 ( 其第⑧腳直接接地 ) ,將 K7 由接地轉(zhuǎn)換為接高電平。將 E ⑤接高電平 (D5 亮 ) ,④腳輸入低電平 (K4 斷開(kāi) ) ,③腳輸入高電平 (K3 接通, D3 亮 ) ,則②腳輸出低電平, D2 不亮,④腳輸入高電平 (K4 接通, D4 亮 ) ,③腳輸入低電平 (K3 斷開(kāi) ) ,則②腳輸出高電平, D2 亮,④腳輸入高電平 (K4 接通, D4 亮 ) ,③腳輸入高電平 (K3 接通, D3 亮 ) ,則②腳輸出高電平, D2 亮,其他門(mén)測(cè)量也如此。 9 .測(cè)量 MC14066 ,卡片如圖 10 測(cè)量時(shí)先將 K14 合上 ( 加電源 ) , K7 置接地位置。

將控制端⑤接高電平 (K5 接通 ) , D5 發(fā)光二極管亮,④腳接高電平 (K4 接通 ) , D4 亮,則③腳輸出高電平 (D3 亮 ) 。[!--empirenews.page--]

K4 不接通, D4 不亮, D3 也不亮。將 K3 接通 (D3 亮 ) , K4 斷開(kāi), D4 亮。③、④腳互為輸入、輸出端??刂贫?K5 斷開(kāi), D5 不亮,③、④腳不論哪一端加高電平,另一端都是低電平。

三、小結(jié)

本測(cè)試儀可測(cè) MC 、 CD 、 CC 、 HEF 等系列集成電路。還有許多集成電路也可以在此測(cè)試儀上測(cè)試.如: CD4541 、 CD40175 、 CD4023 、 CD4025 、 CD4002 、 CD4012 、 CI)4073 、 CD4082 、 CD4013 、 4N25 、 2G03D 等等。 ( 注: CC 、 CD 、 MC 、 HEF 等系列通用,可直接代換 ) 。

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