電子測(cè)量技術(shù)的發(fā)展方向

我國測(cè)試技術(shù)已經(jīng)進(jìn)入標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)階段，而且已采用了工業(yè)界先進(jìn)的計(jì)算機(jī)I/O 總線標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)字化總線、儀器總線相結(jié)合的標(biāo)準(zhǔn)，逐步接近國際先進(jìn)水平。但如何進(jìn)一步發(fā)展，發(fā)展的主要內(nèi)容是什么，這是擺在從事測(cè)試技術(shù)的每個(gè)工程人員需要認(rèn)真思索的問題。

任何技術(shù)的發(fā)展均取決于社會(huì)發(fā)展的需求.根據(jù)安捷倫公司在1996年對(duì)檢測(cè)成本統(tǒng)計(jì):硬件成本6%，檢測(cè)開發(fā)24%，檢測(cè)操作57%，維護(hù)成本占13%.除了硬件成本外，其它三項(xiàng)基本是軟件開發(fā)、維護(hù)、操作成本.因此，對(duì)TPS的開發(fā)、移植、維護(hù)、重用，應(yīng)是測(cè)試系統(tǒng)的重要研究?jī)?nèi)容.因此，美國在ABBET(廣域測(cè)試)對(duì)測(cè)試軟件作了重點(diǎn)描述和規(guī)范。

它以信息模型對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行規(guī)格化描述，消除了層次間測(cè)試信息移植、共享和應(yīng)用的障礙.將測(cè)試從宏觀上劃分為產(chǎn)品描述層、測(cè)試策略和要求層、測(cè)試過程層、測(cè)試資源管理層、儀器控制層等內(nèi)容.其根本目的是建立一種通用的ATS開放系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)，從該體系結(jié)構(gòu)再衍生出由具體硬件、軟件和系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的體系結(jié)構(gòu)，達(dá)到測(cè)試貫穿于產(chǎn)品從設(shè)計(jì)思想到裝備現(xiàn)場(chǎng)的整個(gè)壽命周期，包括從一個(gè)壽命周期階段到另一個(gè)壽命周期階段相關(guān)測(cè)試信息的傳遞;生成所需測(cè)試程序與過程中信息的使用;故障隔離和修理時(shí)，在編寫報(bào)告和診斷操作中測(cè)試維護(hù)信息收集和診斷信息反饋。

同時(shí)通過漸近方法確定ATS開放系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu).計(jì)劃了四個(gè)發(fā)展項(xiàng)目，每個(gè)發(fā)展項(xiàng)目完成后，產(chǎn)生一個(gè)ATS開放系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)的完好部件，從而增加了該體系結(jié)構(gòu)的開放程度與能力水平。四個(gè)發(fā)展項(xiàng)目分別解決“儀器互換性和互操作性”、“TPS可移植性和互操作性”、 “壽命周期信息交換”、“過程與工具”。通過四個(gè)發(fā)展項(xiàng)目產(chǎn)生了ATS信息架構(gòu)和軟件架構(gòu).在測(cè)試領(lǐng)域?qū)θ斯ぶ悄芗夹g(shù)應(yīng)給予高度重視。