吉時(shí)利 發(fā)布新版脈沖與脈沖I-V測(cè)試解決方案

    美國(guó)吉時(shí)利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)的最新硬件和軟件升級(jí)版本，本次升級(jí)引入4200-SCS新一代脈沖測(cè)試功能。實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)的應(yīng)用將集成直流和脈沖測(cè)量功能與完整的應(yīng)用工具包結(jié)合，為用戶提供完整解決方案。功能增強(qiáng)的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導(dǎo)體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強(qiáng)大新功能。新升級(jí)版本不僅增強(qiáng)了吉時(shí)利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應(yīng)用解決方案，將4200-SCS通用直流與脈沖測(cè)量功能進(jìn)一步擴(kuò)展到新領(lǐng)域，例如Flash存儲(chǔ)器測(cè)試、高功率射頻器件測(cè)試以及先進(jìn)半導(dǎo)體材料的脈沖測(cè)試等。

    吉時(shí)利（Keithley）新型解決方案增強(qiáng)原有的硬件性能， 其采用的新型脈沖發(fā)生器插卡4205-PG2具備多種新功能，例如已申請(qǐng)技術(shù)專利的Segment ARBTM模式，幫助用戶通過(guò)簡(jiǎn)單線段即能輕松產(chǎn)生復(fù)雜波形。Segment ARB功能能夠產(chǎn)生基本的脈沖調(diào)制技術(shù)所無(wú)法產(chǎn)生的復(fù)雜波形。該功能非常適于Flash存儲(chǔ)器測(cè)試，其中需要一些復(fù)雜的碼型用于存儲(chǔ)單元特征分析和壽命測(cè)試。4205-PG2還集成一個(gè)任意波形發(fā)生器，即ARB模式，且具有一內(nèi)置高耐用型輸出繼電器，壽命幾乎無(wú)限長(zhǎng)。利用該繼電器可輕易控制和代替Flash測(cè)試中的外置繼電器，縮短耐久性測(cè)試時(shí)間。

    此外，新增電源擴(kuò)展4200-SCS系統(tǒng)所允許的配置方案：一個(gè)4200-SCS機(jī)架最多實(shí)現(xiàn)支持四個(gè)獨(dú)立脈沖發(fā)生器卡。由于每個(gè)4200-PG2具有兩個(gè)通道，因此4200-SCS系統(tǒng)每個(gè)機(jī)架最多可支持8個(gè)脈沖通道。同時(shí)，集成的4205-PG2為外部觸發(fā)源提供一個(gè)觸發(fā)輸入信號(hào)，因此每個(gè)機(jī)架內(nèi)的多個(gè)脈沖卡實(shí)現(xiàn)在10納秒內(nèi)完成同步。

    吉時(shí)利（Keithley）本次發(fā)布的應(yīng)用解決方案建立在功能增強(qiáng)的4205-PG2脈沖發(fā)生器卡和新版應(yīng)用軟件基礎(chǔ)之上。4200-PIV-Q工具包針對(duì)由III-V族半導(dǎo)體材料和LDMOS工藝制成的射頻器件和高功率FET進(jìn)行脈沖I-V測(cè)試和信號(hào)分析而特別設(shè)計(jì)。4200-PIV-Q工具簡(jiǎn)單易用，非常靈活，具有±38V電壓、800mA電流和30W功率的脈沖功能，這些參數(shù)設(shè)計(jì)完全滿足高功率應(yīng)用需求。4200-PIV-Q主要特征是支持脈沖寬度從500ns到直流的靜點(diǎn)（即Q點(diǎn)）測(cè)試（能夠從非零空閑狀態(tài)產(chǎn)生脈沖）。

    新增應(yīng)用解決方案——4200-FLASH工具包為功能強(qiáng)大的黑盒式Flash存儲(chǔ)器測(cè)試解決方案，實(shí)現(xiàn)針對(duì)Flash存儲(chǔ)器的三種最重要測(cè)試：特征分析、耐久性測(cè)試和干擾測(cè)試。該應(yīng)用工具包自動(dòng)實(shí)現(xiàn)直流測(cè)試和脈沖測(cè)試的切換，無(wú)需外部開(kāi)關(guān)。其內(nèi)置高耐久性輸出繼電器，摒棄大多數(shù)Flash測(cè)試采用的外部固態(tài)繼電器，從而加快Flash存儲(chǔ)器的壽命測(cè)試，提高測(cè)試效率和易用性。此外，4200-FLASH工具包內(nèi)提供的專用代碼和項(xiàng)目簡(jiǎn)化Flash存儲(chǔ)器測(cè)試的配置和啟動(dòng)過(guò)程。

    新增的4200-PIV-A工具包，為吉時(shí)利（Keithley）現(xiàn)有工具包4200-PIV的增強(qiáng)版，專門針對(duì)前沿的CMOS器件特征分析而量身定制，其增強(qiáng)功能包括改進(jìn)的低至100nA的低電流分辨率、結(jié)合了脈沖測(cè)試與直流測(cè)試的友好操作界面和直觀的圖形界面。

    KTEI（Keithley Test Environment Interactive，吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境）的最新版本V6.2版增強(qiáng)多種軟件功能， 包括采用以太網(wǎng)連接，遠(yuǎn)程調(diào)用脈沖發(fā)生器和示波硬件，在UTM（User Test Module，用戶測(cè)試模塊）中遠(yuǎn)程控制板級(jí)測(cè)試，這些新功能改進(jìn)了原來(lái)通過(guò)外部PC控制4200-SCS的方式。此外，另一項(xiàng)新功能允許用戶在多種常規(guī)應(yīng)用中通過(guò)友好的GUI界面與單個(gè)的UTM進(jìn)行交互，包括一個(gè)開(kāi)關(guān)矩陣控制器和PIV測(cè)試。KTEI V6.2版還可作為獨(dú)立軟件工具包安裝在用戶PC機(jī)，用于離線測(cè)試生成和測(cè)試后期數(shù)據(jù)分析?，F(xiàn)有客戶能夠很方便地升級(jí)到新版應(yīng)用解決方案，保護(hù)投資，減少固定設(shè)備建設(shè)費(fèi)用，從而降低測(cè)試總成本。