ACS基礎(chǔ)版V1.2（吉時(shí)利）

吉時(shí)利儀器公司日前針對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試與測(cè)量應(yīng)用推出ACS基礎(chǔ)版半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件的最新版本。ACS基礎(chǔ)版V1.2進(jìn)一步提高了元件或離散（封裝的）半導(dǎo)體器件特征分析的可用性、便捷性和測(cè)試產(chǎn)能。它具有Trace模式，能夠?qū)崟r(shí)檢查測(cè)量結(jié)果，采用交互的方式控制電壓掃描，避免緊急情況下可能出現(xiàn)的器件擊穿。除了完全支持吉時(shí)利各種數(shù)字源表（SMU）之外，ACS基礎(chǔ)版將高速硬件控制、器件連接和數(shù)據(jù)管理功能集成在一套簡(jiǎn)潔易用的工具中， 并針對(duì)部件驗(yàn)證、調(diào)試和分析進(jìn)行優(yōu)化。

更高的測(cè)試產(chǎn)能
ACS基礎(chǔ)版為用戶提供了令人難以置信的豐富的快速易用測(cè)試庫(kù)，用戶無(wú)需編程。直觀的GUI功能簡(jiǎn)化了多種I-V測(cè)試、數(shù)據(jù)采集和分析操作。即使是新用戶也能夠快速實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體元件測(cè)試，產(chǎn)生一系列曲線，然后立即與基準(zhǔn)曲線進(jìn)行對(duì)比。盡管預(yù)先配置的測(cè)試?yán)虒y(cè)試啟動(dòng)時(shí)間縮短至最短，用戶仍然可以靈活地優(yōu)化測(cè)試或整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)。

ACS基礎(chǔ)版V1.2最新的Trace模式支持器件的交互式測(cè)試。用戶利用這種功能可以定義工作范圍，并對(duì)DUT進(jìn)行特征分析，同時(shí)避免損壞器件。在這種交互式模式下，用戶可以通過(guò)虛擬滾動(dòng)條或者PC鍵盤(pán)上的箭頭鍵，很方便地控制掃描電壓的大小。

適用于多種應(yīng)用
ACS基礎(chǔ)版為從事封裝部件特征分析工作的廣大技術(shù)人員和工程師們實(shí)現(xiàn)了最大的測(cè)試產(chǎn)能，應(yīng)用范圍涵蓋從早期器件研究到開(kāi)發(fā)、質(zhì)量驗(yàn)證和故障分析等過(guò)程。無(wú)論對(duì)于大學(xué)的研究人員還是新興器件的開(kāi)研者，它都能夠提供很好的服務(wù)，幫助用戶成功實(shí)現(xiàn)從單純性研究到商業(yè)化應(yīng)用的轉(zhuǎn)換。它還能夠應(yīng)用于半導(dǎo)體代工廠或公司中，幫助用戶實(shí)現(xiàn)以元件級(jí)工藝優(yōu)化為目的的試生產(chǎn)，支持QA、故障分析和生產(chǎn)后端測(cè)試。