是德科技為低壓高分辨率 FE-SEM 系統(tǒng)增添完全集成的 EDS 功能

21ic訊 是德科技公司日前宣布，其最新型場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)――8500B 即將上市。Keysight 8500B 是一款技術(shù)領(lǐng)先的緊湊型低電壓 FE-SEM(場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡)，可以為科學(xué)家提供強(qiáng)大的能譜分析功能。

這款場(chǎng)即插即用型發(fā)射掃描電子顯微鏡的安裝方式非常簡(jiǎn)單，只需連接交流電源插座即可使用，是各類實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。緊湊型 8500B 的圖像分辨率可與更大型、更高檔的 FE-SEM 相媲美。

最新 8500B 系統(tǒng)具有完全集成的硅漂移 x 射線探測(cè)器、數(shù)字多通道分析儀和直觀的軟件界面，因此研究人員可以使用EDS對(duì)任意點(diǎn)、連續(xù)線掃描結(jié)果以及自定義區(qū)域的定量元素面分布進(jìn)行分析。Keysight 8500B 可以探測(cè)從碳到镅的所有元素。

8500B 不僅能夠?qū)崟r(shí)分析和顯示 EDS 結(jié)果，還能導(dǎo)出數(shù)據(jù)以供研究人員進(jìn)行后續(xù)的離線分析。是德科技專利的事件流譜圖成像技術(shù)使用戶可以保存每個(gè)像素的完整譜線，用于日后的分析和顯示。動(dòng)態(tài)元素面分布功能使用戶可以實(shí)時(shí)選擇或編輯元素，并可在譜圖采集的同時(shí)對(duì)元素和處理參數(shù)進(jìn)行選擇和調(diào)整。

8500B 提供多種低電壓成像技術(shù)，不僅能夠增強(qiáng)表面對(duì)比度，還能觀察各種納米結(jié)構(gòu)材料的納米級(jí)特性，例如：聚合物、薄膜、生物材料以及在任何基底(甚至是玻璃)上的其他對(duì)電子束輻照比較敏感的樣品。這種獨(dú)特的緊湊型全靜電場(chǎng)透鏡和電子鏡筒設(shè)計(jì)使其一致性和可重復(fù)性得到了更好的保證，因此用戶無(wú)須再經(jīng)常對(duì)電子鏡筒進(jìn)行調(diào)整。

此外，Keysight 8500B FE-SEM 為低電壓工作提供了優(yōu)化的連續(xù)可調(diào)整加速電壓，這使得不導(dǎo)電樣品表面鍍金的需求得到最大程度的減少。由軟件自動(dòng)程控的X/Y/Z 樣品臺(tái)使樣品導(dǎo)航變得更為方便簡(jiǎn)單。