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[導(dǎo)讀]21ic訊 吉時(shí)利儀器公司通過推出6482型雙通道皮安表/電壓源不斷擴(kuò)大其在低電平測(cè)量領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)地位,該皮安表包括兩個(gè)±30V的獨(dú)立電源,具有1fA測(cè)量分辨率。6482型皮安

21ic訊 吉時(shí)利儀器公司通過推出6482型雙通道皮安表/電壓源不斷擴(kuò)大其在低電平測(cè)量領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)地位,該皮安表包括兩個(gè)±30V的獨(dú)立電源,具有1fA測(cè)量分辨率。6482型皮安表是吉時(shí)利公司小信號(hào)精密測(cè)試儀表家族的最新產(chǎn)品,它在2U高半機(jī)寬度內(nèi)提供兩個(gè)獨(dú)立的皮安表/電壓源通道,允許兩個(gè)通道同時(shí)進(jìn)行6位半測(cè)量。同其他高速、高精度皮安表相比,其通道密度翻了一倍,更容易進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)采集,并降低成本。此外,于同類競(jìng)爭(zhēng)的單通道皮安表/電壓源組合相比,它還具有更高的測(cè)量準(zhǔn)確度(在2nA量程為±1%)以及更寬的動(dòng)態(tài)范圍(1fA~20mA) 。在4位半分辨率使用時(shí),每通道讀取速度高達(dá)900 讀數(shù)/秒。

寬動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍

6482型雙通道皮安表/電壓源提供2nA~20mA低電流測(cè)量量程。對(duì)于要求在多點(diǎn)同時(shí)進(jìn)行低電流測(cè)量的應(yīng)用,更寬測(cè)量范圍能力將確保儀器的高靈敏度和高分辨率。

高精度暗電流測(cè)量

6482型雙通道皮安表/電壓源的2nA電流測(cè)量量程,非常適合測(cè)量本底電流以及其他微弱電流,分辨率高達(dá)1fA。一旦本底電流確定,該儀器的REL函數(shù)可以自動(dòng)減去本底電流作為補(bǔ)償,因此在光功率測(cè)量應(yīng)用時(shí),其測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確。用于光電二極管或其他光敏元件暗電流測(cè)量時(shí),6482型雙通道皮安表的前面板顯示屏可以關(guān)閉,以避免外來光線干擾,影響獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。

比率測(cè)量或σ測(cè)量

6482型雙通道皮安表/電壓源可以在兩個(gè)完全隔離的通道之間提供比例測(cè)量或σ測(cè)量。通過前面板或GPIB接口使用這些功能。

接口選配

在構(gòu)建由多個(gè)儀器組成的、需要嚴(yán)格耦合的源測(cè)量單元的測(cè)試系統(tǒng)時(shí),為了加快并簡(jiǎn)化系統(tǒng)集成和控制,6482型雙通道皮安表/電壓源提供了Trigger Link特性以及標(biāo)準(zhǔn)GPIB與RS-232接口。Trigger Link特性在單一連接器內(nèi)融合了6個(gè)獨(dú)立的軟件可選觸發(fā)線路,實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)中所有儀器的簡(jiǎn)單而直接的控制。如果測(cè)試涉及掃描,那么這個(gè)特性對(duì)于縮短整個(gè)測(cè)量時(shí)間非常有益。為了更容易將測(cè)量結(jié)果從6482型雙通道皮安表/電壓源傳輸至其他儀器,0-10V模擬輸出可以使數(shù)據(jù)傳輸至數(shù)字多用表(DMM)、數(shù)據(jù)采集板、示波器、帶狀圖記錄儀以及其他設(shè)備變得更加簡(jiǎn)單。

可編程限度和濾波器

對(duì)于6482型雙通道皮安表/電壓源的電流和電壓限制,可以進(jìn)行編程,以確保關(guān)鍵點(diǎn)(如測(cè)試開始)的器件保護(hù)。它提供的均值與中值濾波器,可以存儲(chǔ)在每個(gè)通道獨(dú)立的3000點(diǎn)緩存中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。

可調(diào)整噪聲保護(hù)選配

對(duì)于需要最高測(cè)量靈敏度的應(yīng)用,6482型雙通道皮安表/電壓源擁有后面板三軸同軸輸入端口,可以實(shí)現(xiàn)三軸同軸電纜連接,實(shí)現(xiàn)電子噪聲最小化。對(duì)于不太嚴(yán)格的應(yīng)用,通過其配置的三軸同軸-BNC適配器,可以使用成本較低的BNC電纜。

應(yīng)用范圍廣泛

6482型雙通道皮安表/電壓源適合與電子材料及器件特性分析有關(guān)的各種應(yīng)用,包括實(shí)驗(yàn)室、研究與開發(fā)以及工廠的低電流操作。應(yīng)用領(lǐng)域包括:

· 元器件制程測(cè)試

· 雙二極管測(cè)試

· 半導(dǎo)體元件測(cè)試

· 多管腳元件測(cè)試

· 暗電流測(cè)試

· 離子束監(jiān)測(cè)

· 電子顯微鏡

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