摘要:探討了一種適合MHz級高頻逆變器的無損諧振極電容緩沖器。詳細分析了逆變器的換流過程,研究了不同諧振極電容值對器件關斷損耗和總體損耗的影響,給出了設計方法。仿真和實驗波形證明了理論分析的正確性。
關鍵詞:高頻逆變器;電容緩沖電路;換流過程;無損
1 引言
隨著快速開關器件(如功率MOSFET)的出現(xiàn),使高頻感應加熱電源的實現(xiàn)成為可能。串聯(lián)諧振逆變器是實現(xiàn)高頻感應加熱電源最常見的拓撲結構。然而,若使其工作在頻率高于1MHz的情況下,為更好地限制di/dt和du/dt,減少器件的開關損耗,需對逆變器的緩沖電路提出更高的要求。
常規(guī)的緩沖器,如RCD緩沖電路,采用電阻來放電,隨著開關頻率的提高,消耗在緩沖器上的能量也隨之增加,大大降低了整個逆變系統(tǒng)的效率。而在MOSFET漏源間直接并聯(lián)一個無損緩沖電容可以有效地降低開關器件的關斷損耗,將常規(guī)緩沖器中電阻消耗的能量反饋給負載或電源,更適合用于高頻逆變器場合。文獻[1][4]已在這方面進行了理論分析和推導。在此基礎上,本文對在頻率高達MHz級情況下含有諧振極電容緩沖器的串聯(lián)諧振逆變器特性和參數(shù)設計作了進一步探討,并進行了仿真和實驗驗證。
2 含有諧振極電容緩沖器的逆變器換流過程分析
圖1為簡化的含有諧振極電容緩沖器的串聯(lián)諧振逆變器主拓撲電路。在四個橋臂上的開關器件MOSFET漏源兩端分別并聯(lián)了一個無損電容器,其中C1=C2=C3=C4=C。在感性負載條件下,開關頻率f應略高于諧振頻率fr,輸出電流io的相位滯后于輸出電壓Uo。具體工作過程如圖2所示。
圖1 簡化的含有諧振極電容緩沖器的串聯(lián)逆變器主拓撲電路
(a) 換向前 (b) 換向中
(c)換向后 (d)負載電流改變方向后
圖2 含有諧振極電容的串聯(lián)諧振逆變器的換流過程
狀態(tài)0 換向前,S1及S4導通,負載電流方向為io>0;此時電容C1及C4上的電壓為零。C2及C3上的電壓為Udc,如圖4(a)所示。
狀態(tài)1 S1及S4關斷,開始換向,負載電流以io/2向C1及C4充電,通過C2及C3放電,如圖4(b)所示。
狀態(tài)2 在換向過程中,待C1及C4上的電壓達到Udc,C2及C3上的電壓下降為零,而負載電流仍未過零,則會通過內(nèi)部反并聯(lián)二極管D2及D3續(xù)流,如圖4(c)所示。
狀態(tài)3 負載電流io過零后,S2及S3導通,如圖4(d)所示。
上述為上半個周期工作過程,下半個周期工作過程與上半個周期相似,在此從略。
3 諧振極電容緩沖器的設計方法
對含有諧振極電容的串聯(lián)諧振逆變器,在工作過程中,如果緩沖電容尚未放電結束就觸通同橋臂的MOSFET器件(非零壓開通),電容放電電流將直接流入開關管,不僅會造成巨大的開通損耗,而且開關管也易因過流而損壞。當fs>1MHz時,更增加了非零壓開通的危險性。
設計中,關鍵是如何確定電容C和關斷角β0的數(shù)值。一個較大的C值,會減少關斷損耗,但同時會使通態(tài)損耗增加;β0越小,功率因數(shù)就越高,但過小的β0又將引起開關管的非零電壓開通。所以,在選擇C和β0時,需在保證零電壓開通的前提下,取得盡可能小的關斷損耗。以下分析中均假定負載的品質(zhì)因數(shù)很高,且負載電流為正弦波。
串聯(lián)諧振逆變器的輸出電流io和開關管漏源極間電壓uDS波形如圖3所示。假定io在ω t=0時刻改變方向,io的幅值為Io,則io可表示為
io=Iosinωt (1)
圖3 串聯(lián)諧振逆變器輸出電流和開關電壓波形圖
在t=-toff時刻,關斷S1及S4;t=-ton時刻,反向二極管D2及D3開始導通。在(-toff<t<-ton)這段換向期間,C1及C4用負載電流io的1/2進行充電,如圖2(b)。開關管S1及S4的開關電壓uDS可表示為
uDS=(cosωt-cosβ0) (2)
為保證零電壓開通,uDS必須在t=0之前達到Udc。圖3中,ωt=-ξ時,uDS上升到Udc。代入式(2)得
cosβ0=cosξ- (3)
式(3)中C,β0,ω,ξ均未知,確定它們的數(shù)值非常困難,以下我們先討論如何選擇C值。
在MOSFET可靠關斷,uDS上升到Udc的瞬間,負載電流io恰巧下降到零(ω t=0)。設此時C=Cn,則近似有
Cn= (4) [!--empirenews.page--]
式中:ts為電流下降時間。
在零電壓開通情況下,開通損耗接近為零,關斷損耗總是存在的,開關管兩端并聯(lián)的諧振極電容實際上相當于一個關斷緩沖網(wǎng)絡。C越大,關斷損耗就越小,同時也將導致低功率因數(shù),增加無功功率。通常,在C=0.45Cn附近,總體損耗達到最小[2]。另外,在MHz級的高頻情況下,器件的輸出電容Coss已不容忽視。所以,可參考式(5)來選取C值。
C=0.45Cn-Coss (5)
C值一旦確定,據(jù)式(3)即可通過選取恰當?shù)?i>ξ來確定β0。如果輸出功率恒定,ξ值偏大會導致較大的負載電流,增加了無功功率,所以,ξ必須選得盡可能小,假定ξ=0。串聯(lián)諧振逆變器中,開關頻率ω應略大于負載諧振頻率ωr,使其工作于感性狀態(tài)下。又考慮到開關頻率,負載電流等物理量在實際運行中都會隨著負載溫度的變化而改變,從而可能使逆變器偏離最佳工作點,β0的選取應留有一定的裕度。設計中可參考式(6)來確定β0
β0=cos-1 (6)
式中:K應根據(jù)實際線路中ω,Io,Udc的變化范圍來確定,一般取略大于1。
根據(jù)上述所選擇的C和β0值,下面討論帶有串聯(lián)諧振負載的串聯(lián)諧振逆變器中其它參數(shù),如感性角φ,開關頻率ω,觸發(fā)脈沖的脈寬tpw的設計方法。
由圖3不難推出直流電流Id的表達式為[1]
Id=Iosinωtdωt=(cosξ+cosβ0)(7)
輸出功率
Po=UdcId=UdcIocosξ-ωCUdc2(8)
視在功率 S= (9)
負載功率因數(shù)
PF=≈cosξ-ωCUdc(10)
又因為負載功率因數(shù) PF=cosφ (11)
由式(10)和(11),假定ξ=0可得
cosφ=1-= (12)
由式(12)即可確定出合理的負載感性角φ。
又因為
tanφ=Q (13)
式中:Q為品質(zhì)因數(shù)。
由式(13)即可確定開關頻率ω。不難得出在此工作頻率下觸發(fā)脈沖的最佳脈寬為
tpw=-〔td(on)+tr+td(off)+tf〕(14)
式中:td(on),tr,td(off),tf為MOSFET的內(nèi)部參數(shù)。
由式(14)可知,脈寬的選擇不僅與β0及T有關,而且與器件本身的特性也有很大關系。
4 諧振極電容對器件關斷損耗和總體損耗的影響
根據(jù)以上分析,當逆變器工作在最佳狀態(tài)時,其開通損耗接近為零,也容易推出關斷過程中損失的能量為
Eoff=(15)
輸出功率因數(shù)cosφ為
cosφ=1-(16)
由式(15)和(16)可以看出,C值越大,關斷時損失的能量Eoff越小。但同時,輸出功率因數(shù)cosφ也降低了,假定輸出功率不變,將引起視在功率的增加,從而導致較大的通態(tài)損耗。
以下用Pspice軟件進行仿真分析。開關器件是根據(jù)APT公司生產(chǎn)的功率MOSFET APT10025JVR建立的模型。其最大耐壓1000V,電流34A,Coss=1360pF,td(on)=22ns,tr=20ns,td(off)=145ns,tf=16ns。所用直流電壓源Udc=100V,輸出電流的幅值Io=21A,諧振頻率fr=1MHz,由式(5)和式(6)計算出諧振極緩沖電容和關斷角的參考取值C=3980pF,β0=34.68°。推出相應的φ=24.33°,f=1.058MHz,tpw=175ns。
諧振極緩沖電容對減少MOSFET關斷損耗的作用可以從工作波形看出,如圖4所示。
(a) C=0
(b) C=3980pF
圖4 串聯(lián)諧振逆變器中MOSFET關斷時刻的仿真波形
圖中:1—開關電壓2—開關電流3—關斷功率損耗
以下取不同的緩沖電容值,對器件關斷功耗和平均損耗的影響作了仿真分析。仿真結果如表1所列。
表1 不同緩沖電容值對器件關斷損耗和平均損耗影響對比表
C/pF | 關斷損耗/μJ | 平均損耗/W |
---|---|---|
0 | 31.88 | 37.7 |
2000 | 21.15 | 31.8 |
3000 | 17.92 | 31.1 |
3980 | 15.35 | 30.5 |
4500 | 14.77 | 32.5 |
6000 | 14.58 | 34.6 |
由表1可看出,當C=3980pF,β0=34.68°時,開關器件工作在零電壓開通狀態(tài),總體損耗的大小也可以接受。如果電容值過小,關斷損耗特別大;電容值過大,一方面它減少關斷損耗的作用明顯降低了,另一方面還會導致巨大的通態(tài)損耗。
5 實驗結果
在實際高頻大功率串聯(lián)諧振電路中,測量功率器件MOSFET的開通和關斷損耗是相當困難的。由于實際條件所限,實驗中采用如圖5所示的具有感性負載的單管測試電路。選用的功率MOSFET器件是IXYS公司生產(chǎn)的IXFX24N100。Coss=750pF,td(on)=35ns,tr=35ns,td(off)=75ns,tf=21ns。直流電壓是經(jīng)過三相整流輸出的Udc=100V。開關頻率f=1.005MHz。因為,該測試電路并未構成串聯(lián)諧振逆變器,無需考慮到關斷角β0的影響。實驗波形如圖6所示。
圖5 簡化的具有感性負載的單管測試電路 [!--empirenews.page--]
(a) C=0時,MOSFET的工作波形圖
(b) C=0時,MOSFET關斷時刻的工作波形圖
(c) C=500PF時,MOSFET的工作波形圖
(d) C=500PF時,MOSFET關斷時刻的工作波形圖
圖6 測試電路中MOSFET的工作波形
(CH1為開關電流波形,CH2為示波器表筆衰減10后的開關電壓波形)
6 結語
1)在頻率高達MHz級的串聯(lián)諧振逆變器中,開關器件漏源極兩端并聯(lián)一個適當大小的無損電容,可以減少關斷損耗;
2)諧振電容值越大,關斷損耗越小,但總體損耗增加,在選擇C值時,應折衷考慮;
3)實際工作過程中,隨著負載溫度的提高,從而使逆變器偏離最佳工作點,參數(shù)的選取應留有一定的裕度,以保證緩沖電容放電完畢才開通同橋臂的MOSFET器件,實現(xiàn)零電壓開通。