在器件設計選擇過程中需要對 MOSFET 的工作過程損耗進行先期計算(所謂先期計算是指在沒能夠測試各工作波形的情況下,利用器件規(guī)格書提供的參數及工作電路的計算值和預計波形,套用公式進行理論上的近似計算)。
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