隨著科技的飛速發(fā)展,微電子技術(shù)已成為現(xiàn)代社會(huì)不可或缺的一部分。在這個(gè)領(lǐng)域中,硅穿孔技術(shù)(Through-Silicon Via, TSV)正逐漸嶄露頭角,成為連接微電子器件內(nèi)部和外部世界的橋梁。本文將詳細(xì)介紹硅穿孔技術(shù)的概念、原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及面臨的挑戰(zhàn)和未來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)。
近日,三星電子宣布率先在業(yè)內(nèi)開(kāi)發(fā)出12層3D-TSV(硅穿孔)技術(shù)。隨著集成電路規(guī)模的擴(kuò)大,如何在盡可能小的面積內(nèi)塞入更多晶體管成為挑戰(zhàn),其中多芯片堆疊封裝被認(rèn)為是希望之星。三星稱(chēng),他們得以將12片DRAM芯片通過(guò)60