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通過老化測試，制定全面的質(zhì)量控制計劃
老化測試涉及將組件暴露在高溫和高壓下。這種類型的半導(dǎo)體生產(chǎn)測試可讓工程師、制造商和其他相關(guān)專業(yè)人員大幅縮短缺陷出現(xiàn)并可能損害可靠性的時間。老化測試應(yīng)如何融入整體質(zhì)量控制計劃?以下是公司官員在實施此流程時應(yīng)該了解的內(nèi)容。
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老化測試有助于面對 SiC MOSFET 的不穩(wěn)定性
在本文中，我們將重點介紹老化測試如何幫助評估碳化硅 MOSFET 在晶圓級的柵極閾值電壓的穩(wěn)定性。眾所周知，關(guān)于 SiC 功率器件可靠性的一個主要問題是器件工作期間閾值電壓 (V TH ) 的變化。
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老化測試提高了 SiC 和 GaN 的可靠性
新型寬帶隙半導(dǎo)體(如碳化硅和氮化鎵)在市場上的擴(kuò)散對傳統(tǒng)的老化和測試系統(tǒng)提出了挑戰(zhàn)，因為裸片尺寸越來越小，并且組件可以承受更高的電壓和溫度。
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高精度低成本：一款LED老化測試方案
2013年9月23日，由中國互聯(lián)網(wǎng)協(xié)會、中國信息安全測評中心、國家計算機(jī)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)急技術(shù)處理協(xié)調(diào)中心（CNCERT/CC）指導(dǎo)，360公司主辦的2013中國互聯(lián)網(wǎng)安全大會（IS
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如何進(jìn)行CAN通信設(shè)備的批量老化測試
老化測試是產(chǎn)品生產(chǎn)中必不可少的環(huán)節(jié)，對于CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量高效的老化測試呢?本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡述測試方法。
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背板環(huán)境老化測試分析之系列—黃變篇
目前常規(guī)晶體硅光伏組件采取“鋼化玻璃/EVA/電池片/EVA/背板”這種夾心結(jié)構(gòu)封裝，背板是組件中直接與外界環(huán)境接觸的封裝材料，其性能的優(yōu)劣直接影響到整個組件的壽命。 市場上常見的背板類型
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基于LabVIEW的三極管壽命測試系統(tǒng)
隨著航空，航天，能源工業(yè)等領(lǐng)域?qū)﹄娮赢a(chǎn)品質(zhì)量的要求日益提高，電子產(chǎn)品的可靠性問題受到越來越廣泛的重視。電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同環(huán)境條件，在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能力差的電子元器件就容易失
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世界杯決賽場地 300平米LED中國造
4月23日，長沙市開福區(qū)青竹湖路的新亞勝產(chǎn)業(yè)園內(nèi)，首批三塊100平方米左右的LED顯示屏正在做72小時無間斷的老化測試，測試完成后，這批由湖南制造的高清LED顯示屏將于明日打包運往巴西。據(jù)悉，這款有由湘企新
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中祥創(chuàng)新LED照明大力開拓專業(yè)應(yīng)用市場
LED照明的發(fā)展速度加快，也為LED照明市場的發(fā)展帶來了機(jī)遇。與此同時，中祥創(chuàng)新專注于智能化LED燈研發(fā)生產(chǎn)，不僅滿足了消費者的節(jié)能和環(huán)保需求，給整個行業(yè)的發(fā)展帶來了巨大的LED照明應(yīng)用市場。 中祥創(chuàng)新LED照明產(chǎn)品
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中祥四通齊心協(xié)力大生產(chǎn) LED顯示屏品質(zhì)享譽四方
近期，中祥創(chuàng)新、安徽工廠都一片忙碌的景象，中祥創(chuàng)新迎來了海外市場客流高峰、每天應(yīng)接不暇，一天接待十余批客戶，來自全球各地各個國家。同時，在這個金秋的十月豐收的秋季，中祥創(chuàng)新、安徽四通生產(chǎn)部員工
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LED電源老化測試用的緩啟動恒流電子負(fù)載
設(shè)計實用于LED電源的，具有緩啟動功能的恒流電子負(fù)載，利用負(fù)載接入端子V+.V-輸入電壓，經(jīng)過穩(wěn)壓輸出電路穩(wěn)壓后用于控制經(jīng)典的模擬恒流負(fù)載電路，配合上簡單的由RC 延時網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成的上電延時啟動電路.能使負(fù)載電流從0 mA緩慢上升至額定電流，再配合由雙三極管及電阻電容構(gòu)成的掉電快速放電電路，保證了下次啟動時的延時效果.該設(shè)計的具有緩啟動功能的恒流電子負(fù)載，無需外部供電，直接取電于負(fù)載接入電壓，無需軟件延時和其他硬件延時，實現(xiàn)無源軟緩啟動，成本低，可以串聯(lián)和并聯(lián)使用.在LED電源的老化測試中，替代電阻負(fù)載，模擬
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可同時監(jiān)控上百個通道的LED老化測試方案
LED發(fā)光的原理： 中國LED產(chǎn)業(yè)起步于20世紀(jì)70年代。經(jīng)過30多年的發(fā)展，中國LED產(chǎn)業(yè)已初步形成了包括LED外延片的生產(chǎn)、LED芯片的制備、LED芯片的封裝以及LED成品應(yīng)用在內(nèi)的較為完整的產(chǎn)業(yè)鏈?！ ED照明的LED是由Ⅲ
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LED照明產(chǎn)品的老化測試方案
摘要：本文詳細(xì)介紹了一種LED照明產(chǎn)品長時間通電老化試驗的方案。主要說明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品，和主要的監(jiān)控軟件，實現(xiàn)最大程度的發(fā)揮電源在老化系統(tǒng)中的作用，提高多個LED 產(chǎn)品老化測試的同時性和自動化性，
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ITECH電源和老化測試軟件在LED照明產(chǎn)品的老化測試的應(yīng)用
1 引言LED 照明產(chǎn)品長時間通電老化試驗是LED 照明產(chǎn)品的一個重要試驗，主要用于LED 照明產(chǎn)品的可靠性的驗證。選用產(chǎn)品 ITECH 臺灣艾德克斯電子的 IT6710(60V/3A/100W),IT6720 (60V/5A/100W) 或者是IT6721(60V/8A/180
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LED加速壽命和可靠性試驗
1. 概述隨著近年來LED光效的不斷提升，LED的壽命和可靠性越來越受到業(yè)界的重視，它是LED產(chǎn)品最重要的性能之一。壽命是可靠性的終極表現(xiàn)，然而LED的理論壽命很長，像傳統(tǒng)光源采用2h45min開、15min關(guān)的循環(huán)測試到壽命終
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NI TestStand處理用于航空電子的老化測試模型
Author(s): Nick Martin BSc Hons. MIEE. - Serco Systems Engineering Business Group Robin Lord BEng Hons. - Serco Systems Engineering Business GroupIndustry: Aerospace/AvionicsProducts: NI TestStand
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泛華恒興推出最新電子元器件老化測試系統(tǒng)
21ic訊 近日，北京泛華恒興科技有限公司推出了電子元器件老化測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)主要用于對探井設(shè)備電路板中多種電子元器件的入廠篩選與檢驗，其中包括對電阻、電容、電感等常用元器件的檢測。作為專業(yè)的電子元器件老化
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Multitest為新一代老化測試帶來可靠創(chuàng)新
Multitest公司，近日宣布宣布其老化產(chǎn)品團(tuán)隊最近成功為一家跨國IDM提供支持，顯著提高了其老化能力——達(dá)三分之一以上，同時大幅度降低了客戶老化板檢測所需的成本和工作。 Multitest通過對相關(guān)應(yīng)用及其對老化流
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基于CAN總線的老化測試系統(tǒng)的設(shè)計
為保證安全性與可靠性，車用設(shè)備電路板必須經(jīng)過長時間老化測試。由于需要老化電路板數(shù)量較大，設(shè)計了一個基于 CAN總線的老化測試系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)各個模塊的功能與設(shè)計，詳細(xì)介紹通信模塊處理串口通信的實現(xiàn)方法及通信模塊與測試模塊的 CAN通信機(jī)制。
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僅用100W功率就能對1kw設(shè)備進(jìn)行老化測試的傳輸線
一臺13.56MHz ISM（工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療）頻段射頻測量設(shè)備要求進(jìn)行50小時1kw老化測試。被測設(shè)備需要同時加上等效于1kw的射頻電壓和射頻電流，而手里唯一可用的射頻信號源是一臺100W射頻發(fā)生器，體現(xiàn)節(jié)省能源的重要性。
