新竹2022年12月13日 /美通社/ -- MPI Corporation的先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試部門是半導(dǎo)體射頻測(cè)試解決方案的市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)者及創(chuàng)新先鋒,該部門演示了無人值守的四端口射頻校準(zhǔn)和量測(cè),由MPI完全集成的射頻校準(zhǔn)和探針臺(tái)系統(tǒng)控制軟件套件——新版本的QAlibria®和S...
Analog Devices, Inc. (ADI)今日宣布推出一款在單相電能計(jì)量應(yīng)用中可自動(dòng)校準(zhǔn)的電能計(jì)量IC。這款新型ADE9153A采用mSure?技術(shù),可自動(dòng)校準(zhǔn)計(jì)量系統(tǒng),顯著降低校準(zhǔn)所需的時(shí)間、人力和設(shè)備成本。
1、概述在各類檢測(cè)控制系統(tǒng)中,需要通過日歷時(shí)鐘進(jìn)行時(shí)間上的控制或?qū)κ录l(fā)生的時(shí)間進(jìn)行記錄。如電網(wǎng)檢測(cè)系統(tǒng),路燈控制系統(tǒng)等。但日歷時(shí)鐘時(shí)常跑快跑慢的缺陷不可避免。經(jīng)過日積月累,就會(huì)產(chǎn)生較大的誤差,這會(huì)影
近日,山東省氣象局大探中心自主研發(fā)的“新型風(fēng)向傳感器自動(dòng)校準(zhǔn)裝置”獲得國家專利證書。。該裝置推廣應(yīng)用后,將有效解決當(dāng)前風(fēng)向傳感器人工手動(dòng)校準(zhǔn)操作模式耗時(shí)長(zhǎng)、效率低、誤讀數(shù)等問題,有效提高風(fēng)向傳感器的校
摘要:介紹了一種基于MEMS加速度傳感器的自動(dòng)校準(zhǔn)平臺(tái)的設(shè)計(jì)方案。從數(shù)學(xué)模型入手,推導(dǎo)了傾角測(cè)量算法并設(shè)計(jì)了調(diào)平控制方案。在電機(jī)控制環(huán)節(jié)加入改進(jìn)后的PID算法,解決了輸出突變導(dǎo)致系統(tǒng)性能下降的問題??炻龣n的設(shè)
美國應(yīng)用材料(AMAT)2010年11月30日宣布,為了重返硅蝕刻領(lǐng)域,開發(fā)出了新型蝕刻裝置“Centris AdvantEdge Mesa Etch”,并決定在12月舉行的“SEMICON Japan 2010”上展示。AMAT表示,在Si蝕刻領(lǐng)域的市場(chǎng)份額方面,
1 引言 在軍事裝備保障中,計(jì)量測(cè)試是極其重要的技術(shù)基礎(chǔ),計(jì)量對(duì)軍事裝備特別是尖端技術(shù)的重要性尤為突出。標(biāo)志軍隊(duì)測(cè)試水平的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在現(xiàn)在軍隊(duì)武器裝備測(cè)試方面得到了大量的應(yīng)用,對(duì)這些檢測(cè)設(shè)備都需要相
本文簡(jiǎn)要介紹了熒光顯微檢測(cè)系統(tǒng)中單色激發(fā)光源外圍控制電路的組成,并詳細(xì)介紹了單色激發(fā)光源控制電路中自動(dòng)校準(zhǔn)電路以及手控板電路設(shè)計(jì)。
本文簡(jiǎn)要介紹了熒光顯微檢測(cè)系統(tǒng)中單色激發(fā)光源外圍控制電路的組成,并詳細(xì)介紹了單色激發(fā)光源控制電路中自動(dòng)校準(zhǔn)電路以及手控板電路設(shè)計(jì)。