典型ASIC設(shè)計具有下列相當復(fù)雜的流程:1) 、結(jié)構(gòu)及電氣規(guī)定。2)、RTL級代碼設(shè)計和仿真測試平臺文件準備。3)、為具有存儲單元的模塊插入BIST(Design For test 設(shè)計)。4)、為了驗證設(shè)計功能,進行完全設(shè)計的動態(tài)仿真。5
摘要 隨著泄漏功耗成為待機模式下的主要能耗,降低泄漏功耗也成為客戶實現(xiàn)節(jié)能的主要途徑之一。故現(xiàn)有的實現(xiàn)流程中需要采用快捷的解決方案,不僅對設(shè)計收斂影響最小,還應(yīng)盡可能地縮短執(zhí)行的匯聚時間?! 〗ㄗh的
摘要 隨著泄漏功耗成為待機模式下的主要能耗,降低泄漏功耗也成為客戶實現(xiàn)節(jié)能的主要途徑之一。故現(xiàn)有的實現(xiàn)流程中需要采用快捷的解決方案,不僅對設(shè)計收斂影響最小,還應(yīng)盡可能地縮短執(zhí)行的匯聚時間?! 〗ㄗh的
摘要:本文在簡要介紹寄生參數(shù)提取工具Star-RCXT和靜態(tài)時序分析工具PrimeTime的基礎(chǔ)上,對已通過物理驗證工具Calibre DRC和LVS的FFT處理器版圖用Star-RCXT工具進行了基于CCI的寄生參數(shù)提取,得到內(nèi)部互連網(wǎng)絡(luò)的詳細寄生
摘要:本文在簡要介紹寄生參數(shù)提取工具Star-RCXT和靜態(tài)時序分析工具PrimeTime的基礎(chǔ)上,對已通過物理驗證工具Calibre DRC和LVS的FFT處理器版圖用Star-RCXT工具進行了基于CCI的寄生參數(shù)提取,得到內(nèi)部互連網(wǎng)絡(luò)的詳細寄生
摘要:本文在簡要介紹寄生參數(shù)提取工具Star-RCXT和靜態(tài)時序分析工具PrimeTime的基礎(chǔ)上,對已通過物理驗證工具Calibre DRC和LVS的FFT處理器版圖用Star-RCXT工具進行了基于CCI的寄生參數(shù)提取,得到內(nèi)部互連網(wǎng)絡(luò)的詳細寄生