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最簡便的S參數(shù)測試校準(zhǔn)方法—AFR
我們先來討論這樣一個問題：如果先用SOLT校準(zhǔn)校準(zhǔn)到同軸端面，然后分別測試被測網(wǎng)絡(luò)與直通校準(zhǔn)件的S參數(shù)，再將兩者參數(shù)進(jìn)行去嵌處理，這樣得到的結(jié)果是否就是DUT參數(shù)？對于這個問題我們可以在仿真軟件里
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AFR自動夾具移除校準(zhǔn)方法的原理
自動端口延伸是一種對夾具的損耗和時延進(jìn)行補償?shù)暮唵畏椒?，可以處理單端口夾具。另一種補償PCB或其他夾具損耗的常用方法是：制作一個跟DUT夾具一樣的測試夾具，但提供一個直通連接。
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通過AFR提取的高頻探針模型
在很多PCB板、晶圓的測試中，高頻探針是一個必不可少的探測工具。特別是高速數(shù)字電路板、微波芯片的測試中，對于探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。那么問題來了，探針本身的性能好壞如何衡量?
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AFR自動夾具移除校準(zhǔn)方法的原理
自動端口延伸是一種對夾具的損耗和時延進(jìn)行補償?shù)暮唵畏椒?，可以處理單端口夾具。另一種補償PCB或其他夾具損耗的常用方法是：制作一個跟DUT夾具一樣 的測試夾具，但提供一個直通連接。最簡單使用直通夾具進(jìn)行補償?shù)?/p>
