最簡便的S參數(shù)測試校準方法—AFR
我們先來討論這樣一個問題:如果先用SOLT校準校準到同軸端面,然后分別測試被測網(wǎng)絡與直通校準件的S參數(shù),再將兩者參數(shù)進行去嵌處理,這樣得到的結(jié)果是否就是DUT參數(shù)?
對于這個問題我們可以在仿真軟件里面搭建如下拓撲結(jié)構(gòu)進行驗證,左右fixture為40ohm的走線,DUT為45ohm的走線。
將這兩個網(wǎng)絡的參數(shù)直接去嵌后結(jié)果如下,去嵌的結(jié)果和DUT實際S參數(shù)差別非常明顯。
從第一張圖中的去嵌端面(藍色虛線)可以看出實際測試網(wǎng)絡去嵌完剩下的部分并不是真正的DUT,所以這種直接去嵌的方法并不能得到正確的DUT參數(shù)。
換一個思路,如果將直通校準件從中間位置分離出左右兩邊f(xié)ixture,再利用去嵌功能將左右兩邊f(xié)ixture從被測網(wǎng)絡中移除掉,剩下的是否就是實際DUT的參數(shù)。
還是以此拓撲為例,用去嵌功能將左右兩邊的fixture從被測網(wǎng)絡中移除掉,結(jié)果如下:兩者的S參數(shù)吻合度非常高,說明用此方法來提取DUT的參數(shù)是可行的。
SOLT校準,TRL校準以及這種去嵌方法示意如下所示,從圖中可以看出用SOLT校準+去嵌和TRL校準都可以得到DUT的參數(shù):
進行去嵌處理的前提是要得到左右兩邊的fixture參數(shù),由于實際的thru走線很難做到完全對稱的結(jié)構(gòu),無法簡單的將其一分為二。利用PLTS軟件的AFR功能(Automatic Fixture Removal)則可以準確的分離出thru左右fixture參數(shù)。
AFR的設計有如下要求:
1. 同TRL校準件一樣AFR也需要一個直通件thru,thru的左右兩邊的fixture需要對稱且和實際測試網(wǎng)絡上的fixture設計保持一致。
2. thru的左右兩邊f(xié)ixture的延時和損耗需要保證一致,阻抗則不需要完全匹配一致。
3. thru的長度設計的不要太長,不然會影響測試帶寬,建議thru的插損比回損大5dB以上為佳
4. 對于差分的thru建議SCD/SDC參數(shù)小于-30dB
5. 由于AFR基于時域處理,建議thru的延時要大于4倍系統(tǒng)上升時間
AFR分別對thru的時域阻抗T11/T22通過時域Gating功能進行處理得到T11A/T11B,再轉(zhuǎn)換到頻域后得到S11A和S11B,然后再根據(jù)信號流圖計算出其他參數(shù)。如下圖所示紅色的曲線為分離出的T11A和S11A,藍色的曲線為thru的T11和S11。
利用分離出來的fixture就可以計算出DUT參數(shù),下圖為利用AFR得出的DUT參數(shù)和利用TRL校準得出的DUT參數(shù)對比,可以看出無論是S21曲線還是S11曲線吻合度都很高。
由于AFR可以分離出左右fixture參數(shù),則可以應用于單端口去嵌的測試場景。如下圖所示為一個芯片測試板,示波器在TP1點處測量,如果想得到芯片管腳處的波形則需要在測試結(jié)果中去掉breakout channel的影響。
目前普遍的做法是做一個和breakout channel一致的replica channel,并用網(wǎng)分測試得出S參數(shù),這樣就可以利用示波器的去嵌算法進行處理得到芯片管腳處的波形。但是replica channel相比較實際的breakout channel結(jié)構(gòu)多了一對同軸連接器(紅框部分),所以這樣處理得到的結(jié)果并不精確。
另外一種做法就是將replica channel長度做成兩倍的breakout channel長度,并利用AFR的去嵌功能分離replica channel,這樣得到的結(jié)構(gòu)和replica channel一致性更高,測試出來的結(jié)果也更精確。
對于DUT兩邊f(xié)xiture阻抗和長度都不對稱的應用場景,可以根據(jù)左右兩邊f(xié)ixture的特性做兩條thru,然后利用AFR分別對這兩條thru進行分離,得出左右的fixture的參數(shù)后就可以進行去嵌計算得到DUT參數(shù)。
最新版本的PLTS里提供單端AFR功能,即只通過測試單端口開路或者短路件就可以得到走線的損耗,比如單端口的單端S參數(shù)可以轉(zhuǎn)成兩端口的S參數(shù),單端口的差分S參數(shù)可以轉(zhuǎn)成兩端口的S參數(shù)。下圖中藍色曲線為原始的單端開路件阻抗曲線,紅色的曲線為利用單端AFR轉(zhuǎn)化后的阻抗曲線。兩者吻合度非常高。
AFR相比較TRL校準有如下幾個優(yōu)勢:
1. AFR只需要設置一條thru校準件,數(shù)量要比TRL校準件少很多,操作步驟也相應的減少。
2. AFR可以處理DUT兩端fixture不對稱的情況。
3. AFR可以進行單個端口的去嵌操作。
4. 單端AFR功能可以將單端S參數(shù)轉(zhuǎn)成兩端口的S參數(shù)