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自我測試，汽車電子的關(guān)鍵
車輛采用的電子系統(tǒng)IC復(fù)雜性逐漸提高，希望借由執(zhí)行人工智能(AI)算法控制自駕功能，同時也需滿足《道路車輛功能安全I(xiàn)SO 26262》標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱《ISO 26262》)要求。因此，IC設(shè)計公司也正快速采用完整性的測試解決方案，以便達(dá)到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
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基于LFSR優(yōu)化的BIST低功耗設(shè)計
引言 隨著便攜式設(shè)備和無線通訊系統(tǒng)在現(xiàn)實生活中越來越廣泛的使用，可測性設(shè)計(DFT)的功耗問題引起了VLSI設(shè)計者越來越多的關(guān)注。因為在測試模式下電路的功耗要遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于
