利用NI半導體測試系統(tǒng)(STS)軟件的增強功能，進一步加速測試程序的開發(fā)，提高運營效率

新聞發(fā)布–2019年9月12日–美國國家儀器(National Instruments，簡稱“NI”)是一家軟件定義平臺的提供商，其平臺有助于加速自動化測試和自動化測量系統(tǒng)的開發(fā)和性能提升，該公司于今日推出了STS軟件的最新增強功能，這些功能可顯著提升NI半導體測試系統(tǒng)的編程和調試體驗，并大大提高測試執(zhí)行速度、并行測試效率和整體設備效率。

由于市場壓力不斷增加，半導體生產(chǎn)測試工程師正在力圖加快新測試程序的開發(fā)、調試和部署進程，以快速投入量產(chǎn)。對于尚未擁有測試系統(tǒng)的用戶，STS軟件2019提供了更優(yōu)化的線下體驗來幫助他們更快速開發(fā)測試程序。其他優(yōu)化包括簡化的驅動體驗，便于編程重復的儀器，以及簡化的數(shù)字掃描支持。另外，改進調試體驗后，用戶只需選擇相關待測設備(DUT)的site和引腳，即可在multi-site應用中快速進行交互式測量和調試自動化測試。

同樣，不斷增加的市場壓力也迫使半導體運營和制造團隊不斷優(yōu)化半導體封裝和測試設備，以提高盈利能力。STS軟件2019通過優(yōu)化儀器驅動來加快測試執(zhí)行時間，并強化線程管理以提高并行測試效率，進而提高測試吞吐量。此外，由于制造團隊可以在不同批次之間切換測試系統(tǒng)配置，從而大幅縮短了軟件轉換時間，進而幫助STS客戶提高利用率和設備整體效率。

“半導體公司不斷受到縮短上市時間和降低測試成本的壓力。美國國家儀器已經(jīng)擴展了NI半導體測試系統(tǒng)的功能，同時顯著提高了該系統(tǒng)的并行功能、速度和效率，”NI高級副總裁兼半導體業(yè)務總經(jīng)理Ritu Favre說道，“STS軟件2019版的新增強化功能可幫助客戶加速上市并降低成本，為他們創(chuàng)造了巨大價值?！?/span>