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[導讀]簡介 由于機械結(jié)構的限制,自適應前照燈系統(tǒng)(AFS)應用中,步進電機有時可能會堵轉(zhuǎn)。一旦電機堵轉(zhuǎn),電子控制單元(ECU)將失去前照燈位置的跟蹤信息并作出不恰當?shù)姆磻?,滋生極嚴重的安全問題,所以AFS應用中堵轉(zhuǎn)檢測是

簡介

 

由于機械結(jié)構的限制,自適應前照燈系統(tǒng)(AFS)應用中,步進電機有時可能會堵轉(zhuǎn)。一旦電機堵轉(zhuǎn),電子控制單元(ECU)將失去前照燈位置的跟蹤信息并作出不恰當?shù)姆磻?,滋生極嚴重的安全問題,所以AFS應用中堵轉(zhuǎn)檢測是必不可少的。

通常可以通過電機的反電動勢(BEMF)來判斷電機堵轉(zhuǎn)與否。BEMF因電機速度、負載及供電電壓的不同而變化。傳統(tǒng)的步進電機驅(qū)動芯片無BEMF輸出,但包含內(nèi)置堵轉(zhuǎn)檢測算法??蛻魞H可以在寄存器里設定固定的堵轉(zhuǎn)認定臨界值,這表示在真實道路條件下所有設定值都必須在工作之前“離線”預設,而不能適配真實工作條件。

 

安森美半導體的NCV70522微步步進電機驅(qū)動器透過SLA引腳提供BEMF輸出,這表示它能實時進行停轉(zhuǎn)檢測計算,并根據(jù)不同條件來調(diào)節(jié)檢測等級。

 

算法說明

 

由于線圈電流衰減期間的再循環(huán)電流相對較大,線圈電壓Vcoil就展示出瞬態(tài)特性。由于應用軟件中并不總是想要瞬態(tài),就可以通過位的設定值來選擇兩種工作模式。在為高下,SLA引腳顯示出完全可視的電壓瞬態(tài)特性。如果位被清除,那么SLA引腳上僅可視每個線圈電流過零末端的電壓樣本。由于線圈電壓的瞬態(tài)特性不再可視,這種模式產(chǎn)生更平常的BEMF輸入,用于軟件等的后續(xù)處理。

 

為了將采樣的BEMF輸出電平適應到(0 V至5 V)范圍,采樣的線圈電壓Vcoil可選擇被除以2或4。此設定通過SPI位來控制。下圖顯示了SLA引腳的工作,透明位“PWMsh”及“Icoil=0”是內(nèi)部信號,與SLAT一起定義線圈電壓的采樣以及維持瞬間。

 

 


 

 

 

此BEMF電壓在每個所謂的“線圈電流過零”期間采樣。每個線圈在每個電氣周期內(nèi)存在2個零電流位置,因而每個電氣周期共有4個過零觀察點,故可以測量4次BEMF。如果微步位置位于“線圈電流過零點”,BEMF電壓將僅由電機驅(qū)動器采樣。微步位置可以通過SPI接口來讀取。

 

通過軟件,我們可以基于測量的1個電氣周期內(nèi)的4次SLA值來靈活地判斷是否堵轉(zhuǎn)。

 

算法應用

 

NCV70522是一款微步步進電機驅(qū)動器,用于雙極型步進電機。這芯片通過I/O引腳及SPI接口連接至外部微控制器。NCV70522輸出電流有多種選擇。它根據(jù)“NXT”輸入引腳上的脈沖信號以及方向寄存器[DIRCTRL]或“DIR”輸入引腳的狀態(tài)來轉(zhuǎn)動下一個微步。這器件提供從滿步到32微步的細分、由SPI寄存器SM[2:0]來選擇的7種步進模式。NCV70522包含SLA的輸出,可以用于堵轉(zhuǎn)檢測算法及根據(jù)電機的BEMF來調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)矩和速度計算。典型應用電路圖如圖2所示。

 

 

 


 

當系統(tǒng)上電時候,微控制器就會初始化,NCV70522復位。這些動作完成時,線圈電流及步進模式將被設定。然后電機驅(qū)動器將啟用。NXT脈沖將被發(fā)送實現(xiàn)轉(zhuǎn)動電機。電機轉(zhuǎn)速等于NXT脈沖頻率乘以步進細分模式的值。圖3是流程圖。

 

 


 

 

 

示例:在正常狀態(tài)及堵轉(zhuǎn)狀態(tài)時檢查SLA輸出電平,如下所示:

 

 

 


 

 

 

因此,我們可以認為:如果4個“線圈電流過流點”中有2個SLA電平低于1.5 V,那么就處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)。

 

簡介

 

與傳統(tǒng)步進電機驅(qū)動器IC相比,NCV70522包含BEMF輸出,能夠?qū)崟r地 準確地反應電機運轉(zhuǎn)情況,非常適合汽車自適應前照燈系統(tǒng)中的應用。堵轉(zhuǎn)檢測閾值可以根據(jù)電機速度、負載特性及供電電壓的不同來調(diào)節(jié)。

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