如何驗(yàn)證電流探頭的可靠性?
電流探頭是示波器測(cè)量電流的必備配件,但不同品牌之間價(jià)格往往差別很大,到底什么樣的電探頭才是可靠的呢?這里分享了電流探頭可靠性驗(yàn)證的完整過(guò)程,并呈現(xiàn)所有實(shí)測(cè)結(jié)果,您也可依據(jù)此法對(duì)自己使用的電流探頭進(jìn)行驗(yàn)證。
本文針對(duì)ZCP0030-50電流探頭進(jìn)行了全方位性能參數(shù)驗(yàn)證, 主要測(cè)試參數(shù)包括直流精度、上升時(shí)間、方波響應(yīng)、噪聲、以及開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)管電流波形實(shí)測(cè)。為了讓實(shí)測(cè)結(jié)果更加直觀,我們選擇T公司的TCP312電流探頭作為實(shí)測(cè)對(duì)比,并且在所有測(cè)試配有圖片和測(cè)試結(jié)果,保證測(cè)試過(guò)程可追溯。
一、直流精度驗(yàn)證
ZCP0030-50標(biāo)稱(chēng)直流精度為1%rdg±1mV,實(shí)測(cè)精度如表1所示。
1、測(cè)試條件
精度測(cè)試所使用試儀器為FLUKE5720校準(zhǔn)器、六位半萬(wàn)用表DMM6000。測(cè)試步驟,校準(zhǔn)器FLUKE5720輸出不同的被測(cè)電流值,萬(wàn)用表讀取電流探頭的響應(yīng)電壓值。
圖 2.1 直流精度測(cè)試環(huán)境
2、精度數(shù)據(jù)
表 2.1 直流精度測(cè)試數(shù)據(jù)
3、驗(yàn)證結(jié)論
上表格的數(shù)據(jù)顯示,ZCP0030-50在量程范圍內(nèi)的直流精度在1%rdg±1mV以?xún)?nèi)。
二、上升時(shí)間驗(yàn)證
ZCP0030-50的帶寬是50MHz,對(duì)應(yīng)上升時(shí)間≤7ns。探頭上升時(shí)間是指測(cè)試脈沖時(shí),測(cè)量系統(tǒng)響應(yīng)波形從穩(wěn)態(tài)值的10%上升到90%所需要的時(shí)間,是一個(gè)很關(guān)鍵的參數(shù),上升時(shí)間越快,說(shuō)明探頭的響應(yīng)越快,能測(cè)到更加快速變化的電流波形,還原電流波形的性能越好。
1、測(cè)試條件
測(cè)試電流探頭的上升時(shí)間使用的測(cè)試儀器是信號(hào)發(fā)生器Keysight33600和示波器ZDS2022。信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生上升時(shí)間為5ns的方波,示波器顯示經(jīng)過(guò)電流探頭后的上升波形和時(shí)間。
2、波形數(shù)據(jù)
圖 3.1 ZCP0030-50的上升時(shí)間
如圖 3.1所示,根據(jù)示波器測(cè)量到的上升時(shí)間為8.5ns,這個(gè)總時(shí)間是信號(hào)發(fā)生器自身的上升時(shí)間加上探頭的上升時(shí)間,所以實(shí)際上探頭的上升時(shí)間還需要將總時(shí)間減去信號(hào)發(fā)生器自身的上升時(shí)間,具體的計(jì)算公式如下。
3、驗(yàn)證結(jié)論
實(shí)測(cè)結(jié)果在理論計(jì)算范圍內(nèi),上升時(shí)間正常,實(shí)測(cè)帶寬在50MHz以上。
三、方波響應(yīng)驗(yàn)證
方波響應(yīng)主要是用來(lái)簡(jiǎn)易測(cè)試電流探頭幅頻響應(yīng)特性的測(cè)試方法。電流探頭能夠完整的重現(xiàn)方波波形,不出現(xiàn)畸變,說(shuō)明探頭的幅頻響應(yīng)平坦,是良好的。
1、測(cè)試條件
測(cè)試電流探頭的方波響應(yīng)時(shí),使用的測(cè)試儀器是信號(hào)發(fā)生器Keysight33600和示波器ZDS2022。信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生電流峰峰值為100mA,頻率分別1KHz、100KHz、1MHz為的方波,示波器顯示相對(duì)應(yīng)的方波波形。
2、波形數(shù)據(jù)
如圖3所示,在測(cè)試1KHz的電流方波時(shí),探頭的方波響應(yīng)是很好的,波形基本上沒(méi)有畸變,波形比較平坦,沒(méi)有發(fā)生傾斜等。
圖3 1KHz電流方波響應(yīng)
如圖4所示,在測(cè)試100KHz的電流方波時(shí),探頭的方波響應(yīng)是很好的,波形基本上沒(méi)有畸變,波形比較平坦,沒(méi)有發(fā)生傾斜等。
圖 4 100KHz電流方波響應(yīng)
如3所示,在測(cè)試1MHz的電流方波時(shí),探頭的整體方波響應(yīng)的波形基本上沒(méi)有畸變,波形比較平坦,沒(méi)有發(fā)生傾斜等。
圖5 100KHz電流方波響應(yīng)
如圖5所示,在測(cè)試1MHz的電流方波時(shí),探頭的整體方波響應(yīng)的波形基本上沒(méi)有畸變,波形比較平坦,沒(méi)有發(fā)生傾斜等。
3、驗(yàn)證結(jié)論
實(shí)測(cè)結(jié)果在理論計(jì)算范圍內(nèi),幅頻響應(yīng)平坦。
四、噪聲評(píng)測(cè)
噪聲是電流探頭的重要參數(shù),噪聲的大小直接影響到探頭的分辨率,噪聲越小,分辨率越高。
1、測(cè)試條件
噪聲測(cè)試主要是使用示波器ZDS2022來(lái)觀察測(cè)試,并記錄相應(yīng)的測(cè)試值。
2、精度數(shù)據(jù)
如圖6所示,測(cè)試出來(lái)的電流探頭的實(shí)際噪聲的峰峰值小于10mA,交流有效值小于1mArms。
圖6 噪聲測(cè)試
3、驗(yàn)證結(jié)論
實(shí)測(cè)結(jié)果在理論計(jì)算范圍內(nèi),噪聲控制良好。
五、開(kāi)關(guān)電源波形實(shí)測(cè)
示波器電流探頭主要用來(lái)配合示波器觀察電路上的電流波形,比如說(shuō)MOS管上的電流波形,方便工程師調(diào)試電路,發(fā)現(xiàn)電路問(wèn)題。通過(guò)測(cè)量開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)管上的電流波形,將ZCP0030-50和T公司的TCP312進(jìn)行對(duì)比測(cè)試,進(jìn)一步驗(yàn)證性能。
圖7 電流探頭測(cè)試開(kāi)關(guān)管電流的連接圖
1、測(cè)試條件
電流波形對(duì)比測(cè)試主要用到的測(cè)試儀器主要有:ZDS2022示波器、電子負(fù)載、開(kāi)關(guān)電源、電流探頭ZCP0030-50和TCP312。
測(cè)試步驟如下:
(1)將電流探頭ZCP0030-50和TCP312上電消磁調(diào)零后,將兩個(gè)探頭同時(shí)夾到在MOS管DS極間引出的導(dǎo)線上,將BNC輸出分別連接到示波器的通道1和通道2。具體如圖8所示。
圖8 開(kāi)關(guān)管電流波形對(duì)比測(cè)試的儀器連接
(2)將開(kāi)關(guān)電源的輸出接到電子負(fù)載上,給開(kāi)關(guān)電源供電,電子負(fù)載可以設(shè)置為空載或者滿(mǎn)載狀態(tài),觀察在兩種不同負(fù)載下,MOS管上不同的電流波形。
2、對(duì)比測(cè)試
如圖9所示,在開(kāi)關(guān)電源滿(mǎn)載情況下,電流探頭ZCP0030-50和TCP312都能夠完整測(cè)量到MOS管上的電流波形,因TCP312帶寬為120MHz,二者峰峰值有約4%的差異。如圖10所示,在開(kāi)關(guān)電源空載的情況下,電流探頭測(cè)量到的電流波形。
圖9 滿(mǎn)載時(shí)MOS管DS極間的電流波形
圖10 空載時(shí)MOS管DS極間的電流波形
開(kāi)關(guān)電源的開(kāi)關(guān)頻率并不是很高,大約在100KHz,但瞬時(shí)變化的上升時(shí)間卻是在ns級(jí)別的,需要高帶寬的電流探頭才能完整的重現(xiàn)電流波形細(xì)節(jié)。在開(kāi)關(guān)電源滿(mǎn)載的情況下,將電流波形放大,觀察電流快速變化處的波形細(xì)節(jié),兩種探頭顯示的波形細(xì)節(jié)幾乎一樣,如圖11所示。在開(kāi)關(guān)電源空載的情況下,如圖12所示。
圖11 滿(mǎn)載時(shí)MOS管DS極間的電流波形細(xì)節(jié)
圖12 空載時(shí)MOS管DS極間的電流波形細(xì)節(jié)
3、驗(yàn)證結(jié)論
對(duì)于高頻噪聲而言,實(shí)測(cè)結(jié)果的微小差異源自于帶寬差別,但對(duì)于開(kāi)關(guān)頻率只在幾百KHz的信號(hào)而言,帶寬差別對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果影響很小。此處建議選擇50M帶寬即可。
六、總結(jié)
一般來(lái)說(shuō)直流精度、上升時(shí)間、方波響應(yīng)、噪聲、以及開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)管電流波形等多個(gè)角度進(jìn)行了全方位的實(shí)測(cè)即可相對(duì)完整的驗(yàn)證整體測(cè)試結(jié)果。