局部放電檢測(cè)方法之電檢測(cè)法（介質(zhì)損耗分析法）

電檢測(cè)法包括脈沖電流法、無(wú)線電干擾電壓法、超高頻 UHF 局部放電檢測(cè)技術(shù)、介質(zhì)損耗分析法
1.電檢測(cè)法

局部放電最直接的現(xiàn)象即引起電極間的電荷移，動(dòng)每一次局部放電都伴有一定數(shù)量的電荷通過電。介質(zhì)引起試樣外部電極上的電壓變化另外每，次放電過程持續(xù)時(shí)間很短在氣隙中一次放電過程在10 ns 量級(jí)在油隙中一次放電時(shí)間也只有1ms 根據(jù)Maxwell 電磁理論如此短持續(xù)時(shí)間的放電脈，沖會(huì)產(chǎn)生高頻的電磁信號(hào)向外輻射局部放電電檢 測(cè)法即是基于這兩個(gè)原理常見的檢測(cè)方法有脈沖電流法無(wú)線電干擾電壓法介質(zhì)損耗分析法等等 特別是20 世紀(jì)80 年代由S. A. Boggs 博士和G. C. Stone 博士提出的超高頻檢測(cè)法近年來得到廣泛關(guān)注。并逐漸有實(shí)用化的產(chǎn)品問世 2.1.1 脈沖電流法

DLA 局部放電對(duì)絕緣材料的破壞作用是與局部放電，消耗的能量直接相關(guān)的因此對(duì)放電消耗功率的測(cè)量很早就引起人們的重視在大多數(shù)絕緣結(jié)構(gòu)中，隨著電壓的升高絕緣中氣隙或氣泡的數(shù)目將增加此外局部放電的現(xiàn)象將導(dǎo)致介質(zhì)的損壞從，而使得tgd大大增加因此可以通過測(cè)量tgd 的值來測(cè)量局部放電能量從而判斷絕緣材料和結(jié)構(gòu)的性能情況。

介質(zhì)損耗分析法特別適用于測(cè)量低氣壓中存在，的輝光或者亞輝光放電由于輝光放電不產(chǎn)生放電脈沖信號(hào)而亞輝光放電的脈沖上升沿時(shí)間太長(zhǎng)，普通的脈沖電流法檢測(cè)裝置中難以檢測(cè)出來但這 種放電消耗的能量很大使得Dtgd 很大故只有采用電橋法檢測(cè)Dtgd 才能判斷這種放電的狀態(tài)和帶。來的危害。

但是。DLA 方法只能定性的測(cè)量局部放電是否 發(fā)生基本不能檢測(cè)局部放電量的大小這限制了。DLA 方法的運(yùn)用目前關(guān)于用DLA 方法測(cè)局部放，電的報(bào)道還很少。

以上列舉了一些電力設(shè)備常用局部放電檢測(cè)方法從目前市場(chǎng)上看電測(cè)法仍是局部放電檢測(cè)中，最重要的手段其中的脈沖電流法已經(jīng)很成熟由于其檢測(cè)靈敏度很高且容易進(jìn)行放電量校準(zhǔn)采 用高頻檢測(cè)阻抗還可準(zhǔn)確再現(xiàn)局部放電脈沖波形故在進(jìn)行局部放電機(jī)理研究實(shí)驗(yàn)室離線測(cè)試中占，主導(dǎo)地位但是由于其易受到外電路的電磁干擾使其靈敏度大大下降在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境中脈沖電流法。

應(yīng)用并不很多無(wú)線電干擾電壓法中Rogowski 線圈傳感器由于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單安裝方便檢測(cè)靈敏度高，頻帶寬等優(yōu)點(diǎn)在局部放電在線監(jiān)測(cè)中被廣泛采用 現(xiàn)在大型電機(jī)變壓器GIS 等設(shè)備的在線監(jiān)測(cè)中均有應(yīng)用超高頻檢測(cè)法是近年發(fā)展起來的新型局 部放電檢測(cè)方法具有頻帶高靈敏度好抗電磁干擾能力強(qiáng)等顯著優(yōu)點(diǎn)被認(rèn)為是最有潛力的局部放電在線檢測(cè)方法但是超高頻檢測(cè)用微帶天線 傳感器目前還在研究之中制造工藝要求甚高技術(shù)尚不成熟。