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[導(dǎo)讀]  1、測試基本原則  以標(biāo)準(zhǔn)(IEC標(biāo)準(zhǔn)和其他國際標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)、部頒標(biāo)準(zhǔn))、開發(fā)規(guī)格書、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、測試規(guī)范為依據(jù),以測試數(shù)據(jù)為準(zhǔn)繩,站在用戶的角度上對電源系統(tǒng)進

  1、測試基本原則

  以標(biāo)準(zhǔn)(IEC標(biāo)準(zhǔn)和其他國際標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)、部頒標(biāo)準(zhǔn))、開發(fā)規(guī)格書、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、測試規(guī)范為依據(jù),以測試數(shù)據(jù)為準(zhǔn)繩,站在用戶的角度上對電源系統(tǒng)進行評測,將功能缺陷與故障隱患暴露在測試階段。

  模塊指標(biāo)盤踞以開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn),當(dāng)測試項目在開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中未明確界定時,以測試規(guī)范中系統(tǒng)指標(biāo)的默認參考指標(biāo)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

  測試工作不受項目開發(fā)組態(tài)度與思路及其他干擾測試過程因素的影響,獨立按照測試流程進行。

  對于樣機階段的模塊測試(模塊的優(yōu)化測試?yán)猓紫冗M行環(huán)路的測試,環(huán)路測試不合格,測試結(jié)束,模塊退回項目組修改以后,重新提交測試申請,轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測試。

  樣機測試中,如果因測試問題較嚴(yán)重,已影響模塊測試工作的順利進行,需停止測試,方允許在受測試系統(tǒng)上進行修改,項目開發(fā)組對問題進行修改并完成自測試后,重新提交測試申請,轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測試。其余情況下,測試問題只能在第二套樣機上進行修改及測試,并進行記錄。在下一測試階段,對修改后的測試問題進行系統(tǒng)驗證并進行其他項目測試。

  中試測試著重設(shè)計產(chǎn)品的復(fù)制結(jié)果——復(fù)制品性能、指標(biāo)的達標(biāo)情況。

  2 技術(shù)指標(biāo)說明

  開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)低于業(yè)界相關(guān)的規(guī)定時,需修改開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn),否則依據(jù)業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)判定開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)不合格,并提請總體辦重新對開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進行評審。

 ?。?)指標(biāo)界定

  部標(biāo)為最低標(biāo)準(zhǔn),當(dāng)開發(fā)規(guī)格書優(yōu)于部標(biāo)、國標(biāo)或國際標(biāo)準(zhǔn)時,以開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn):未作特殊說明的指標(biāo)為開發(fā)規(guī)格書、項目任務(wù)書及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中界定的指標(biāo)要求,是產(chǎn)品必須具備的基本指標(biāo)。

 ?。?)牽引指標(biāo)

  遵照“以測試技術(shù)牽引開發(fā)技術(shù)”的原則,向國際標(biāo)準(zhǔn)靠攏,用以牽引公司產(chǎn)品技術(shù)的發(fā)展類指標(biāo)。

  3 不合格測試項目分類原則

  3.1 A類問題(致命問題):

  威脅用戶人身或財產(chǎn)安全的所以項目;

  引起產(chǎn)品不能正常工作或性能嚴(yán)重劣化的所以項目。

  3.2 B類問題(嚴(yán)重問題):

  技術(shù)指標(biāo)未能達到產(chǎn)品開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的項目;

  各種非破壞性極限情形下(如極限瞬態(tài)等)可能導(dǎo)致產(chǎn)品損壞的項目;

  環(huán)路測試裕量不足。

  3.3 C類問題(一般問題):

  不影響產(chǎn)品功能與性能之項目,如:產(chǎn)品外觀及標(biāo)志未合格項目、測試規(guī)范沒有界定的測量點的局部溫升等項目;

  技術(shù)指標(biāo)未達到牽引指標(biāo)之項目;

  裕量測試不足之測試項目(環(huán)路裕量測試不足屬嚴(yán)重問題)。  3.4 D類問題(討論問題):

  研究性測試未合格項目;

  開發(fā)規(guī)格書(或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn))及測試規(guī)范中均未明確界定的項目;

  對于測試項目不合格結(jié)束,送測方與測試方存在分歧且無判定參考依據(jù)的測試項目;

  測試中發(fā)現(xiàn)的問題對于用戶影響不能確認的。

  4產(chǎn)品判斷準(zhǔn)則

  4.1 合格判定

  無A、B不合格項,C類不合格向不大于3項,判定模塊合格。

  4.2 不合格判定

  A、B類問題,一項不合格,即判定模塊不合格;

  C類問題,三項(不含三項)以上不合格,即判定模塊不合格。

  4.3 D類問題判定

  由總體組和專家組,參照技術(shù)、市場、生產(chǎn)、成本等等限制條件確定其對系統(tǒng)合格與否的影響。

  對D類問題的判定結(jié)果,由總體組和專家組負責(zé),不記如測試部的評定指標(biāo)范圍。

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