NI參加2012年第七屆國際微波及天線技術(shù)展覽會
美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)于2012年11月5日至7日參加了在上海舉辦的第七屆國際微波及天線技術(shù)展覽會,并攜手AWR公司(NI全資子公司,專注于微波射頻設(shè)計(jì)與仿真)展示了一系列NI最新微波射頻測試解決方案,和從射頻設(shè)計(jì)到驗(yàn)證的全工具鏈。
在此次展會中,來自國內(nèi)外多家微波射頻廠商展示了微波行業(yè)相關(guān)產(chǎn)品,及創(chuàng)新技術(shù),遍及微波應(yīng)用的各個(gè)環(huán)節(jié)。
NI在展會上著重展示了NI在微波射頻領(lǐng)域的解決方案,展現(xiàn)了NI多年不斷在微波射頻領(lǐng)域的投入和針對用戶需求研發(fā)的成果。這其中包括:
與此同時(shí),NI還在現(xiàn)場展示了802.11ac等移動無線終端測試等應(yīng)用方案,充分體現(xiàn)了NI PXI硬件平臺以及LabVIEW軟件的性能和優(yōu)勢。NI PXI標(biāo)準(zhǔn)的模塊化測試系統(tǒng)平臺結(jié)合LabVIEW軟件及工具包,契合軟件無線思想,憑借其靈活、高性能以及可靠性,不僅可以享受到實(shí)驗(yàn)室儀器級的性能還能擁有無可比擬的靈活性,以滿足不同應(yīng)用需求。