全球示波器市場的領先供應商泰克公司日前宣布,對其MSO/DPO70000系列數字及混合信號示波器上的分析系統(tǒng)功能進行擴展,增加了包括使用IBIS-AMI模型和S參數對片上硅行為進行建模等功能。其顯著加強了測量和仿真之間的關聯,有助于更準確地鑒定片上硅行為及性能特征,滿足當今移動、企業(yè)及數據通信標準的要求。
隨著串行數據速率的增加,大多數下一代串行技術都要求在遠端(此時眼圖完全閉合)進行測量。在測量之前必須進行均衡,以便使眼圖張開。到目前為止,一致性測試中一直使用基于數學模型的參考均衡器,但這些均衡器欠缺與仿真器的關聯且無法表現復雜的實際硅行為。相比之下,IBIS-AMI模型是使用實際接收器硅的架構而設計的。
“準確的系統(tǒng)特征鑒定需要對片上行為的可視性”,泰克公司高性能示波器總經理Brian Reich表示,“直到最近,實時示波器尚不具備這一條件,無法滿足最新高速串行數據規(guī)范——如SuperSpeed USB或PCI Express 3.0——的要求。IBIS-AMI模型的引入使硅芯片供應商能夠模擬芯片行為,而且這些模型現在能夠在泰克示波器上使用,代替準確性較低的參考均衡模型。”
對IBIS-AMI的支持是Serial Data Link Analysis Visualizer(SDLA Visualizer)軟件包的一部分,該軟件包為在硅驗證、系統(tǒng)驗證、背板特征鑒定和嵌入式系統(tǒng)性能測試中去嵌電纜、夾具及探頭效應提供了完整的解決方案。SDLA Visualizer還支持通過模擬發(fā)射器均衡和S參數按比例縮放進行通道分析,使設計工程師無需使用物理通道模型就能預測系統(tǒng)性能。
使用IBIS-AMI模型的一個顯著優(yōu)勢是與仿真結果的關聯性和對由此產生的測量與系統(tǒng)行為相匹配的確信。“由于仿真常常是在可以獲得硅或物理電路板之前進行的,所以仿真與示波器測量之間的關聯一直是我們客戶面臨的挑戰(zhàn)”,LSI公司集成電路模擬驗證工程師Brian Burdick表示,“有了IBIS-AMI支持,示波器現在能做的遠不止簡單的波形采集,還能提供硅行為的更佳表現,從而帶來顯著的時間和成本節(jié)省。”