掃描、透射電鏡、能譜儀等電子顯微學(xué)發(fā)展探討

近日，“2012年度北京市電子顯微學(xué)年會(huì)”成功召開，共有200多位專家與會(huì)，共同就北京電子顯微學(xué)的學(xué)術(shù)及技術(shù)水平，以及在材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的應(yīng)用、發(fā)展和交流等進(jìn)行交流探討。

此次會(huì)議由北京市電鏡學(xué)會(huì)、北京理化分析測(cè)試技術(shù)學(xué)會(huì)主辦，會(huì)議探討內(nèi)容涉及掃描電鏡、透射電鏡、能譜儀等儀器技術(shù)的進(jìn)展與應(yīng)用。

隨著生命科學(xué)的發(fā)展，基于掃描電鏡技術(shù)的自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集三維重構(gòu)技術(shù)應(yīng)用也越來越廣泛。會(huì)議中對(duì)ATLUM+SEM、Diamond-knife/SBFSEM、FIB/SBFSEM這三種技術(shù)進(jìn)行了探討，其掃描電鏡背散射電子成像、自動(dòng)化程度高等特點(diǎn)得到了認(rèn)同。

會(huì)上還對(duì)掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)的原理和應(yīng)用情況進(jìn)行了介紹，作為一種推動(dòng)納米科技發(fā)展的重要工具，掃描隧道顯微鏡近年來也取得了諸多發(fā)展，并能夠獲得納米級(jí)分辨率的表面結(jié)構(gòu)信息。

鍍膜是重要的電鏡樣品制備技術(shù)，通過鍍膜可以降低電子束對(duì)樣品的損傷，獲得更淺表層的信息，提高SE和BSE對(duì)樣品的損傷。新型的鍍膜儀能夠很好的控制真空度、靶材、膜厚度等因素，將鍍膜效果發(fā)揮到最大。

能譜儀能在不影響掃描電鏡分辨率的前提下，用于材料表面微區(qū)區(qū)域(幾個(gè)微米)的成分分析，精確度高，分析速度快，操作簡(jiǎn)單。在用戶在選購(gòu)掃描電鏡時(shí)必不可少的功能附件。透視微焦斷層掃描是一種非破壞性的試驗(yàn)技術(shù)，通過X射線穿透樣本，對(duì)樣本進(jìn)行不同角度成像，由軟件將各個(gè)角度的圖像進(jìn)行重構(gòu)，還原成微米甚至納米級(jí)精度的、可分析的3D圖像，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣本內(nèi)部微結(jié)構(gòu)的分析。

此外會(huì)上還對(duì)電鏡技術(shù)在服裝研究中應(yīng)用現(xiàn)狀及其展望、超高分辨掃描電鏡的最新進(jìn)展、離子減薄技術(shù)與設(shè)備發(fā)展?fàn)顩r、國(guó)產(chǎn)掃描電鏡的研究現(xiàn)狀與未來發(fā)展思路等進(jìn)行了深入的探討。