羅姆旗下LAPIS Semiconductor開(kāi)發(fā)出業(yè)界頂級(jí)水平的超低功耗微控制器
21ic訊 羅姆集團(tuán)旗下的LAPIS Semiconductor面向安全令牌注1等需要紐扣電池或干電池長(zhǎng)時(shí)間工作的設(shè)備,開(kāi)發(fā)出超低功耗微控制器“ML610Q474家族”,耗電量相比以往產(chǎn)品降低1/2。本LSI實(shí)現(xiàn)了業(yè)界頂級(jí)水平的低耗電量(Halt模式注2時(shí)僅0.25μA),使紐扣電池等小型小容量電池的長(zhǎng)時(shí)間使用成為可能。另外,不僅耗電量低,在IEC61000-4-2電磁兼容性試驗(yàn)中,成功實(shí)現(xiàn)了±30KV注3 的超強(qiáng)電磁兼容性能。
本商品已于2012年11月份開(kāi)始出售樣品(樣品價(jià)格:200日元),計(jì)劃于2013月3月份投入量產(chǎn)。生產(chǎn)基地位于LAPIS Semiconductor Miyagi Co., Ltd.(日本宮城縣黑川郡)。
在越來(lái)越普及的網(wǎng)上銀行生成一次性密碼用的安全令牌、鐘表等電池驅(qū)動(dòng)的應(yīng)用中,要求1個(gè)紐扣電池來(lái)實(shí)現(xiàn)幾年的長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定工作。LAPIS Semiconductor為了滿(mǎn)足這種需求,一直以來(lái)專(zhuān)注于開(kāi)發(fā)更低耗電量的產(chǎn)品,并為客戶(hù)供應(yīng)實(shí)現(xiàn)業(yè)界最低耗電量0.5μA的ML610400系列產(chǎn)品。但是,近年來(lái),這些應(yīng)用的功能不斷增加,功耗不斷增大,使電池壽命變短,為了解決這個(gè)課題,需要更低功耗的商品。
另一方面,一直以來(lái)存在“抑制內(nèi)部的耗電量就會(huì)容易受電磁的干擾,導(dǎo)致誤動(dòng)作的可能性增加”的課題,因此一直無(wú)法實(shí)現(xiàn)低功耗。
此次LAPIS Semiconductor最新開(kāi)發(fā)了內(nèi)部穩(wěn)壓器和振蕩電路,采用獨(dú)創(chuàng)的低漏電流工藝,實(shí)現(xiàn)了比以往產(chǎn)品降低1/2的、業(yè)界頂級(jí)水平的低功耗。不僅如此,通過(guò)優(yōu)化內(nèi)部電路和布局,確保了更高抗電磁干擾性能,在IEC61000-4-2電磁兼容性試驗(yàn)中,實(shí)現(xiàn)了±30KV的電磁兼容性能。另外,同時(shí)兼顧了低耗電量與高抗電磁干擾性能,從而使設(shè)備的長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定工作也成為可能。由于耗電量更低,客戶(hù)可使用價(jià)格便宜的小容量紐扣電池,還非常有助于客戶(hù)降低系統(tǒng)成本并實(shí)現(xiàn)小型化。
而且,“ML61Q474家族”配合可輕松開(kāi)始評(píng)估的ML610Q474參考板和軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境而開(kāi)發(fā),用戶(hù)登錄LAPIS Semiconductor官方網(wǎng)站即可利用各種手冊(cè)和工具等,具備完善的支持體制。
<低功耗微控制器“ML610Q474”家族的特點(diǎn)>
・僅1枚芯片即可實(shí)現(xiàn)安全令牌所需的功能
・內(nèi)置LAPIS Semiconductor獨(dú)創(chuàng)的高性能8bitRISC內(nèi)核
・低功耗
・Halt模式時(shí),耗電量?jī)H0.25μA
・內(nèi)置16KB Flash(ML610Q474、ML610Q475、ML610Q476)
(同時(shí)備有內(nèi)置16KB ROM而非Flash的ML610474、ML610475、ML610476)
・內(nèi)置1KB RAM
・封裝:die, 80個(gè)引腳TQFP
・樣品出貨中。計(jì)劃2013年3月份開(kāi)始量產(chǎn)出貨
・樣品價(jià)格(參考):200日元(稅前)
<應(yīng)用領(lǐng)域>
・安全令牌/鐘表/玩具
<術(shù)語(yǔ)解說(shuō)>
・注1:安全令牌
網(wǎng)上銀行等利用網(wǎng)絡(luò)的系統(tǒng)中,進(jìn)行個(gè)人認(rèn)證時(shí)生成所需密碼的認(rèn)證裝置。
・注2:Halt模式
微控制器待機(jī)模式的一種(32KHz振蕩時(shí))
・注3:通過(guò)LAPIS Semiconductor參考板以間接放電方法進(jìn)行測(cè)試。