沒有一些專門設(shè)備的情況下,測(cè)試和測(cè)量 IC 或電路在電源瞬態(tài)方面的性能是一項(xiàng)棘手的任務(wù)。輸入電壓源不僅需要以受控方式改變,而且還必須能夠提供足夠的電流來調(diào)節(jié)輸入電容并為被測(cè)電路供電。
在工程實(shí)踐中,的確會(huì)碰到一些意想不到,奇奇怪怪,自己在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中打死也不會(huì)想到,或者想到也懶得解決的問題。根據(jù)墨菲定律(Murphy’s Law),“如果事情有變壞的可能,不管這種可能性有多小,它總會(huì)發(fā)生”。因此,在工程實(shí)踐中,還是應(yīng)該把能夠想到的故障解決在萌芽當(dāng)中。
在工程實(shí)踐中,的確會(huì)碰到一些意想不到,奇奇怪怪,自己在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中打死也不會(huì)想到,或者想到也懶得解決的問題。根據(jù)墨菲定律(Murphy’s Law),“如果事情有變壞的可能,不管這種可能性有多小,它總會(huì)發(fā)生”。因此,在工程實(shí)踐中,還是應(yīng)該把能夠想到的故障解決在萌芽當(dāng)中。
智能技術(shù)和自動(dòng)駕駛開創(chuàng)了汽車行業(yè)新的技術(shù)范式。例如,車輛系統(tǒng)現(xiàn)在與電子設(shè)備相連,大大增加了需要印刷電路的發(fā)動(dòng)機(jī)艙系統(tǒng)、人機(jī)界面、雷達(dá)和照相機(jī)的數(shù)量。莫仕的工程師利用他們?cè)谄嚪矫娴膶I(yè)知識(shí)與客戶
1979 年 1 月,《電子測(cè)試》發(fā)表了一篇文章稱,一款單個(gè)測(cè)試電路可“執(zhí)行對(duì)任何運(yùn)算放大器全面檢查所需的所有標(biāo)準(zhǔn) DC 測(cè)試”。單個(gè)測(cè)試電路在那個(gè)時(shí)候可能夠用
目前,DC/DC轉(zhuǎn)換器廣泛應(yīng)用于遠(yuǎn)程及數(shù)據(jù)通信、計(jì)算機(jī)、辦公自動(dòng)化設(shè)備、工業(yè)儀器儀表、軍事、航天等領(lǐng)域,涉及到國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各行各業(yè)。文章以其中有一定代表性的MC34063電路為例,扼要介紹其電特性和用其構(gòu)成的升壓電路的測(cè)試方法,并解析其測(cè)試原理和升壓電路設(shè)計(jì)中的注意事項(xiàng),對(duì)DC/DC轉(zhuǎn)換器的分析測(cè)試和量產(chǎn)測(cè)試提供一些借鑒。
多功能電路測(cè)試筆電路
摘要:為了實(shí)現(xiàn)時(shí)序電路狀態(tài)驗(yàn)證和故障檢測(cè),需要事先設(shè)計(jì)一個(gè)輸入測(cè)試序列?;诙鏄涔?jié)點(diǎn)和樹枝的特性,建立時(shí)序電路狀態(tài)二又樹,按照電路二叉樹節(jié)點(diǎn)(狀態(tài))與樹枝(輸入)的層次邏輯關(guān)系,可以直觀和便捷地設(shè)計(jì)出時(shí)
引言:無鉛PCB的出現(xiàn)對(duì)在電路測(cè)試(ICT)提出了新的問題,本文描述了現(xiàn)有的PCB表面處理工藝,并分析了這些工藝對(duì)ICT的影響,指出影響ICT的關(guān)鍵是探針與測(cè)試點(diǎn)間的接觸可靠性,并介紹了為滿足ICT的要求在PCB構(gòu)建過程中需
安捷倫科技日前在深圳舉辦年度數(shù)字電路測(cè)試峰會(huì),與會(huì)的300位工程師掀起了一輪新技術(shù)討論熱潮,以兩個(gè)領(lǐng)域話題最為引人注目,一是應(yīng)用在移動(dòng)便攜式設(shè)備上的最新技術(shù),包括MIPI D-PHY, MIPI M-PHY, MHL , LPDDR , SD
美光科技(Micron Technology Inc.) 日前宣布擴(kuò)建在西安的電路測(cè)試工廠,其中包括完成二期 40萬平方英尺的芯片測(cè)試的模組封裝工廠項(xiàng)目,以滿足其亞洲客戶不斷增長(zhǎng)的訂單需求,新的工廠將視市場(chǎng)需求情況,在未來3-5年內(nèi)
經(jīng)過創(chuàng)維彩電事業(yè)部制造總部歷時(shí)半年的研究,創(chuàng)維自主研發(fā)的FCT(Function Circuit Test)功能電路測(cè)試項(xiàng)目在7月上線試用,8月進(jìn)入批量推廣階段。這一研發(fā)成果結(jié)束了電路測(cè)試手動(dòng)治具,實(shí)現(xiàn)了電路測(cè)試工藝自動(dòng)化,
核心提示:在“安捷倫2010年測(cè)試測(cè)量大會(huì)”期間,安捷倫科技副總裁暨數(shù)字測(cè)試工廠示波器事業(yè)部總經(jīng)理杰·亞歷山大(Jay Alexander)在接受C114采訪時(shí)表示:“示波器未來的發(fā)展趨勢(shì)主要有兩點(diǎn):一是將出現(xiàn)更多針對(duì)具體應(yīng)
邏輯分析儀作為數(shù)據(jù)域測(cè)試儀器中最有用、最有代表性的一種儀器,性能與功能日益完善,已成為調(diào)試與研制復(fù)雜數(shù)字系統(tǒng),尤其是汁算機(jī)系統(tǒng)的強(qiáng)有力工具。
一位來自深圳的退休工程師日前發(fā)表了一篇題為《伏安特征分析與特征圖示儀器》的論文,文中介紹了一種據(jù)稱是目前“鮮為人知”的電路診斷技術(shù)和測(cè)試儀器。 這篇論文的作者是深圳蘭光電子有限公司退休高級(jí)工程師張文。張
安捷倫數(shù)字測(cè)試論壇成功實(shí)現(xiàn)數(shù)字電路與嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計(jì)為了使更多的專業(yè)人士掌握最新的數(shù)字電路測(cè)試技術(shù)與調(diào)試方法、了解今日電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)革命,安捷倫攜手其合作伙伴Intel、Xilinx、Microchip、Rambus等共同舉辦