一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 1.理解虛擬信號(hào)發(fā)生器如何在軟件控制下產(chǎn)生掃頻信號(hào)。 2. 了解虛擬儀器實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的濾波器幅頻特性的自動(dòng)測(cè)試原理。 3.掌握濾波器特性的測(cè)試方法。 二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 1.產(chǎn)生掃頻信號(hào)。
引言頻率特性測(cè)試儀又稱(chēng)為掃頻儀,或頻率響應(yīng)分析儀,它利用矩形具有內(nèi)刻度的示波管作為顯示器,來(lái)直接顯示被測(cè)電路的幅頻特性曲線(xiàn)。但由于示波管的使用,使得整個(gè)儀器在外
摘要:為設(shè)計(jì)一款便攜式頻率特性測(cè)試儀,該系統(tǒng)以大規(guī)??煽r程邏輯器件為實(shí)現(xiàn)載體,采用了基于FPGA體系結(jié)構(gòu)的集成化設(shè)計(jì)方案,以VHDL為設(shè)計(jì)語(yǔ)言,設(shè)計(jì)了包含掃頻信號(hào)源、測(cè)幅、測(cè)相及顯示等電路,系統(tǒng)經(jīng)峰值檢測(cè)和相
摘要:以單片機(jī)89C51和可編程邏輯器件(FPGA)為控制中心,設(shè)計(jì)了一個(gè)頻率特性測(cè)試儀,用于測(cè)試某一特定網(wǎng)絡(luò)的頻率響應(yīng)特性。本系統(tǒng)的主要特點(diǎn)是由FPGA驅(qū)動(dòng)多種串行芯片,在精簡(jiǎn)了系統(tǒng)電路結(jié)構(gòu)的同時(shí)也不影響程序的效率
摘要 基于直接數(shù)字頻率合成技術(shù)的思想,采用現(xiàn)代數(shù)字信號(hào)處理和顯示技術(shù),設(shè)計(jì)了一臺(tái)低成本、數(shù)字化、智能化的頻率特性測(cè)試儀。實(shí)現(xiàn)了對(duì)20 Hz~150 MHz范圍內(nèi)任意頻段的被測(cè)網(wǎng)絡(luò)幅頻特性和相頻特性測(cè)量。完成了數(shù)據(jù)存
頻率特性測(cè)試儀又稱(chēng)為掃頻儀,或頻率響應(yīng)分析儀,它利用矩形具有內(nèi)刻度的示波管作為顯示器,來(lái)直接顯示被測(cè)電路的幅頻特性曲線(xiàn)。本設(shè)計(jì)針對(duì)其顯示部分,將示波管用LCD代替。適用于便攜式儀器儀表中。硬件設(shè)計(jì)本設(shè)計(jì)所
1 引言在電路測(cè)試中。常常需要測(cè)試頻率特性。電路的頻率特性體現(xiàn)了放大器的放大性能與輸入信號(hào)頻率之間的關(guān)系。頻率特性測(cè)試儀是顯示被測(cè)電路幅頻、相頻特性曲線(xiàn)的測(cè)量?jī)x器。在此,采用集成的直接數(shù)字合成器(DDS)AD9
摘要:為了能夠直接顯示待測(cè)網(wǎng)絡(luò)的幅頻相頻特性,設(shè)計(jì)了一個(gè)以89C55和FPGA構(gòu)成的最小系統(tǒng)為控制核心的頻率特性測(cè)試儀。系統(tǒng)基于DDS(直接數(shù)字頻率合成)原理和多周期同步計(jì)數(shù)相位測(cè)量法,由信號(hào)發(fā)生器,被測(cè)雙T網(wǎng)絡(luò),真
摘要:以單片機(jī)89C51和可編程邏輯器件(FPGA)為控制中心,設(shè)計(jì)了一個(gè)頻率特性測(cè)試儀,用于測(cè)試某一特定網(wǎng)絡(luò)的頻率響應(yīng)特性。本系統(tǒng)的主要特點(diǎn)是由FPGA驅(qū)動(dòng)多種串行芯片,在精簡(jiǎn)了系統(tǒng)電路結(jié)構(gòu)的同時(shí)也不影響程序的效率
摘要 基于直接數(shù)字頻率合成技術(shù)的思想,采用現(xiàn)代數(shù)字信號(hào)處理和顯示技術(shù),設(shè)計(jì)了一臺(tái)低成本、數(shù)字化、智能化的頻率特性測(cè)試儀。實(shí)現(xiàn)了對(duì)20 Hz~150 MHz范圍內(nèi)任意頻段的被測(cè)網(wǎng)絡(luò)幅頻特性和相頻特性測(cè)量。完成了數(shù)據(jù)存
基于DSP的頻率特性測(cè)試儀設(shè)計(jì)
摘要:傳統(tǒng)的頻率特性測(cè)試儀不僅價(jià)格昂貴,且得不到相頻特性,更不能保存頻率特性圖和打印頻率特性圖,也不能與計(jì)算機(jī)接口,給使用者帶來(lái)了諸多不便。而本文采用DDS技術(shù)作為掃頻信號(hào)源;同時(shí)采用了集成模擬芯片AD830
摘要:傳統(tǒng)的頻率特性測(cè)試儀不僅價(jià)格昂貴,且得不到相頻特性,更不能保存頻率特性圖和打印頻率特性圖,也不能與計(jì)算機(jī)接口,給使用者帶來(lái)了諸多不便。而本文采用DDS技術(shù)作為掃頻信號(hào)源;同時(shí)采用了集成模擬芯片AD830
基于DSP的低頻頻率特性測(cè)試儀
基于DSP的低頻頻率特性測(cè)試儀
1 引言 頻率特性是網(wǎng)絡(luò)的性能最直觀反映。頻率特性測(cè)試儀是測(cè)量網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性和相頻特性,并顯示相應(yīng)曲線(xiàn)的一種快速、方便、動(dòng)態(tài)、直觀的測(cè)量?jī)x器,可廣泛應(yīng)用于電子工程領(lǐng)域。 該測(cè)試儀以?huà)哳l外差為基本
引言 頻率特性測(cè)試儀又稱(chēng)為掃頻儀,或頻率響應(yīng)分析儀,它利用矩形具有內(nèi)刻度的示波管作為顯示器,來(lái)直接顯示被測(cè)電路的幅頻特性曲線(xiàn)。但由于示波管的使用,使得整個(gè)儀器在外形上顯得龐大,笨重,如BT-3GII型的
引言 頻率特性測(cè)試儀又稱(chēng)為掃頻儀,或頻率響應(yīng)分析儀,它利用矩形具有內(nèi)刻度的示波管作為顯示器,來(lái)直接顯示被測(cè)電路的幅頻特性曲線(xiàn)。但由于示波管的使用,使得整個(gè)儀器在外形上顯得龐大,笨重,如BT-3GII型的