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Hilbert分形結(jié)構(gòu)在RFID標(biāo)簽天線中的應(yīng)用
現(xiàn)代社會(huì)產(chǎn)品越來越豐富，數(shù)據(jù)管理需求也越來越高，人們需要將多種多樣處于生產(chǎn)、銷售、流通過程中的物品進(jìn)行標(biāo)識(shí)、管理和定位。采用傳統(tǒng)的條形碼進(jìn)行物品標(biāo)識(shí)將會(huì)帶來一系列的不便：無法進(jìn)行較遠(yuǎn)距離的識(shí)別，需要人
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基于EEMD的信號(hào)處理方法分析和實(shí)現(xiàn)
信號(hào)處理中，頻率是信號(hào)最重要的表示。傳統(tǒng)的傅里葉變換分析方法并不能分析出信號(hào)的某一頻率在甚么時(shí)刻出現(xiàn)，為此產(chǎn)生了能同時(shí)在時(shí)間和頻率上表示信號(hào)密度和強(qiáng)度的時(shí)頻分析，如短時(shí)傅里葉變換和小波變換等，但其
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南加州大學(xué)：人類全部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)能力已接近3000億GB
北京時(shí)間2月16日凌晨消息，美國(guó)南加州大學(xué)(University of Southern California)科學(xué)家Martin Hilbert和Priscilla Lopez的一項(xiàng)研究表明，截至2007年，人類的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)能力已超過2950億GB?？茖W(xué)家們認(rèn)為，2002年應(yīng)被視為
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基于Hilbert變換的電壓凹陷檢測(cè)方法
電壓凹陷是嚴(yán)重的動(dòng)態(tài)電能質(zhì)量問題之一，補(bǔ)償電壓凹陷能帶來巨大的經(jīng)濟(jì)效益。而實(shí)現(xiàn)電壓凹陷特征量的快速、準(zhǔn)確檢測(cè)是電壓凹陷補(bǔ)償?shù)那疤?，因此電壓凹陷特征量的檢測(cè)方法及補(bǔ)償指令的產(chǎn)生成為目前對(duì)DVR研究的一個(gè)熱點(diǎn)。采用Hilbert變換與后差分相結(jié)合的檢測(cè)方法，首先利用Hilbert變換可對(duì)凹陷電壓信號(hào)的幅值進(jìn)行檢測(cè)，然后采用后差分得到電壓凹陷的起止時(shí)刻，不但提高了檢測(cè)精度，還能實(shí)時(shí)產(chǎn)生電壓補(bǔ)償指令信號(hào)。通過Matlab對(duì)其進(jìn)行仿真，仿真結(jié)果表明了該檢測(cè)方法簡(jiǎn)單、快速、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)。
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基于Hilbert分形結(jié)構(gòu)的電子標(biāo)簽天線設(shè)計(jì)研究
經(jīng)過仿真和實(shí)際測(cè)試，發(fā)現(xiàn)介質(zhì)基板，封裝材料的相對(duì)介電常數(shù)和材料的厚度對(duì)天線諧振頻率點(diǎn)都有較大影響。即諧振頻率點(diǎn)隨著介電常數(shù)和基板厚度的增大而減小，對(duì)于分形天線，它們只影響諧振頻點(diǎn)的下降，但不會(huì)影響各個(gè)諧振頻點(diǎn)的相對(duì)位置。也就是說，分形天線具有多諧振點(diǎn)特征，但是多個(gè)諧振頻率之間的關(guān)系是由分形的結(jié)構(gòu)確定的，而不是由材料的介電常數(shù)和介質(zhì)厚度確定的。相對(duì)介電常數(shù)和材料的厚度對(duì)天線的輻射方向圖和天線增益不產(chǎn)生影響， 這種性質(zhì)也可用于天線小型化的設(shè)計(jì)中。
