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全新C系列模塊（NI）
NI擴展C系列產品應用于高性能數(shù)據(jù)記錄，NI USB-9219, USB-9229, USB-9239拓展數(shù)據(jù)記錄器對USB的支持；NI 9234提供信號調理功能。
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LabVIEW8.5控制設計與和仿真模塊（NI）
NI發(fā)布LabVIEW8.5控制設計與和仿真模塊，最新版軟件為模式控制添加PID和模型預測控制功能。
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自動特征分析套件測試系統(tǒng)4.0版（Keithley）
美國吉時利（Keithley）儀器公司日前宣布增強了其ACS（Automated Characterization Suite，自動特征分析套件）軟件，納入了面向半導體可靠性與壽命預測測試應用的WLR（wafer level reliability，圓片級可靠性）備選測試工具。
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全面TD-SCDMA測試解決方案（安立）
基于手持式頻譜分析儀和基站測試儀平臺的全面的TD-SCDMA測試解決方案選件為設備生產商、運營商、運維公司等客戶提供了成熟的TD-SCDMA現(xiàn)場測試解決方案。這一TD-SCDMA測試解決方案共包括3個選件：TD-SCDMA射頻測試、
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最新光罩檢測技術（KLA-Tencor）
KLA-Tencor 公司推出其稱為“晶片平面光罩檢測” (Wafer Plane Inspection, WPI) 的最新光罩檢測技術。
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DPO3000系列數(shù)字熒光示波器（泰克）
泰克公司日前宣布，推出DPO3000系列數(shù)字熒光示波器(DPO)，這個系列的便攜式示波器延續(xù)了泰克屢獲大獎的DPO/MSO 4000系列擁有的優(yōu)勢特性。
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新型波形監(jiān)測儀（泰克）
泰克公司宣布，為其WFM和WVR系列波形監(jiān)測儀提供重大升級：WFM7020和WFM7120波形監(jiān)測儀支持3Gb/s SDI單鏈路串行數(shù)字接口（SDI）。
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第二代噪聲源定位分析系統(tǒng)（泛華測控）
近日，泛華測控推出第二代噪聲源定位分析系統(tǒng)，由麥克風陣列、傳輸線纜和主機組成。
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四通道LXI數(shù)字示波器（RIGOL）
日前，國產儀器中首次獲得LXI聯(lián)盟認證的RIGOL （北京普源精電科技有限公司）DS1000B系列數(shù)字示波器將在4月22日正式發(fā)布。
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專業(yè)車載串行總線分析儀（橫河電機）
日本橫河電機株式會社正式在中國大陸發(fā)售適用于下一代汽車開發(fā)的專業(yè)車載串行總線分析儀SB5000。SB5000具有1GHz帶寬、5GS/s的最高采樣率和6.25MW/CH的存儲深度。
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USB總線的數(shù)字化儀和數(shù)字萬用表（NI）
美國國家儀器有限公司（National Instruments ，簡稱NI）最新發(fā)布USB-5132/5133數(shù)字化儀和USB-4065 6½位數(shù)字萬用表(DMM)。
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流感快速分子檢測“片上實驗室”（ST和Veredus實驗室）
在權威的新加坡國家大學醫(yī)院進行評估試驗取得成功后，新加坡的Veredus實驗室和意法半導體發(fā)布一款能夠隨時隨地快速檢測所有主要流感類型的便攜式“片上實驗室”檢測應用設備VereFlu™。
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J6900A三重播放分析儀（安捷倫）
安捷倫科技日前宣布，在其J6900A三重播放分析儀平臺上，推出業(yè)界第一款支持基于AVS的IPTV網(wǎng)絡監(jiān)測解決方案。
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下一代DDR3存儲器的系列測試工具（泰克）
泰克公司日前宣布，為DDR2和DDR3技術推出完善的系列測試工具。DDR3是下一代雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR)同步動態(tài)隨機訪問存儲器(SDRAM)，將提供性能更高的數(shù)據(jù)速率。
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基于PXI的源測量單元和PXI開關模塊（NI）
美國國家儀器有限公司（National Instruments, 簡稱NI）宣布正式發(fā)布其第一款基于PXI的源測量單元（source measure unit，SMU）和業(yè)界最高密度的PXI開關模塊。
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