美國(guó)吉時(shí)利儀器公司宣布為其功能強(qiáng)大的4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)新增一套C-V測(cè)量功能—— 4200-CVU。
美國(guó)吉時(shí)利儀器公司今日發(fā)布4X4 MIMO(多輸入多輸出)射頻測(cè)試解決方案,該方案可用于下一代射頻通信設(shè)備與器件的研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試。
日本橫河電機(jī)株式會(huì)社(以下簡(jiǎn)稱橫河電機(jī))日前推出適應(yīng)中國(guó)自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)3G標(biāo)準(zhǔn)(TD-SCDMA)測(cè)試的最新組件——VC3300 TD-SCDMA測(cè)試軟件,并預(yù)計(jì)2007年12月底正式上市。
美國(guó)國(guó)家儀器(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)宣布推出NI PXIe-5672 RF矢量信號(hào)發(fā)生器,該設(shè)備可產(chǎn)生250 kHz 到 2.7 GHz的信號(hào)、具備20 MHz的實(shí)時(shí)帶寬
泰克公司日前宣布,推出一種新的端到端高速串行數(shù)據(jù)分析軟件包,其測(cè)試功能從發(fā)射機(jī)擴(kuò)展到接收機(jī),包括連接發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的信道。
安捷倫科技推出 HDMI 最小跳變差分信令(TMDS)信號(hào)發(fā)生器平臺(tái),從而提供了高達(dá) 7Gb/s 的 HDMI 高速器件測(cè)試。
泰克公司日前宣布,為測(cè)試和驗(yàn)證PCI Express (PCIe) 1.0和2.0設(shè)計(jì)推出新的TLA7S16和TLA7S08串行分析儀。
泰克公司日前宣布,增強(qiáng)其GeoProbe網(wǎng)絡(luò)保證解決方案,這是泰克為管理下一代融合網(wǎng)絡(luò)提供的業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的一體化保證應(yīng)用套件的一部分。
吉時(shí)利儀器公司,今日發(fā)布了其3700系列系統(tǒng)開(kāi)關(guān)/萬(wàn)用表和插卡系列產(chǎn)品,這是吉時(shí)利基于新一代平臺(tái)的開(kāi)關(guān)和集成數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)測(cè)試解決方案。
吉時(shí)利儀器公司,今日發(fā)布了其2600系列SourceMeter® 數(shù)字源表的兩款新產(chǎn)品2635和2636,自此形成業(yè)界技術(shù)最先進(jìn)、效費(fèi)比最高的半導(dǎo)體參數(shù)分析與測(cè)試解決方案。
安捷倫科技發(fā)布其又一全新的手持式數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)產(chǎn)品系列-U1240A系列。通過(guò)沿用屢獲殊榮的 U1250 系列的技術(shù)創(chuàng)新,U1240系列數(shù)字萬(wàn)用表提供了更適合安裝和維護(hù)應(yīng)用的功能。
中航一集團(tuán)計(jì)算機(jī)軟件可靠性管理與測(cè)評(píng)中心(CATC)今日宣布,其自行研發(fā)、擁有獨(dú)立知識(shí)產(chǎn)權(quán)的通用嵌入式軟件仿真測(cè)試環(huán)境(GESTE)在京隆重發(fā)布二代產(chǎn)品-GESTE2.0。
惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司的V93000測(cè)試系統(tǒng)推出消費(fèi)類電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測(cè)試解決方案,可針對(duì)各種高集成度的消費(fèi)性電子產(chǎn)品組件,進(jìn)行晶圓測(cè)試(Wafer Sort)及終程測(cè)試(Final Test)。
惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司針對(duì)65納米和更小制程所生產(chǎn)之先進(jìn)數(shù)字IC的晶圓測(cè)試(Wafer Sort)及終程測(cè)試(Final Test),推出可執(zhí)行結(jié)構(gòu)及功能測(cè)試的V93000納米電子數(shù)字信號(hào)測(cè)試解決方案(Nanoelectronics Digital Solution)。
奧地利微電子公司推出新型單相電表 IC AS8267,為片上數(shù)據(jù)和程序存儲(chǔ)器提供最可靠的數(shù)據(jù)安全保持,且能在極端溫度范圍內(nèi)工作。