當(dāng)前位置:首頁 > 電源 > 電源
[導(dǎo)讀]開關(guān)電源的測試參數(shù)良好的開關(guān)電源必須符合所有功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范(如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO,長城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規(guī)格)、電磁兼容能力(如FCC、CE等之傳導(dǎo)與幅射干擾)、可靠

開關(guān)電源的測試參數(shù)

良好的開關(guān)電源必須符合所有功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范(如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO,長城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規(guī)格)、電磁兼容能力(如FCC、CE等之傳導(dǎo)與幅射干擾)、可靠性(如老化壽命測試)、及其他之特定需求等。

開關(guān)電源包括下列之型式:

•AC-DC:如個人用、家用、辦公室用、工業(yè)用(電腦、周邊、傳真機(jī)、充電器)

•DC-DC:如可攜帶式產(chǎn)品(移動電話、筆計(jì)本電腦、攝影機(jī),通信交換機(jī)二次電源)

•DC-AC:如車用轉(zhuǎn)換器(12V~115/230V) 、通信交換機(jī)振鈴信號電源

•AC-AC:如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源

開關(guān)電源的設(shè)計(jì)、制造及品質(zhì)管理等測試需要精密的電子儀器設(shè)備來模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時之各項(xiàng)特性(亦即為各項(xiàng)規(guī)格),并驗(yàn)證能否通過。開關(guān)電源有許多不同的組成結(jié)構(gòu)(單輸出、多輸出、及正負(fù)極性等)和輸出電壓、電流、功率之組合,因此需要具彈性多樣化的測試儀器才能符合眾多不同規(guī)格之需求。

電氣性能(Electrical Specifications)測試

當(dāng)驗(yàn)證電源供應(yīng)器的品質(zhì)時,下列為一般的功能性測試項(xiàng)目,詳細(xì)說明如下:

一、功能(Functions)測試:

•輸出電壓調(diào)整(Hold-on Voltage Adjust)

•電源調(diào)整率(Line Regulation)

•負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation)

•綜合調(diào)整率(Conmine Regulation)

•輸出漣波及雜訊(Output Ripple & Noise, RARD)

•輸入功率及效率(Input Power, Efficiency)

•動態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response)

•電源良好/失效(Power Good/Fail)時間

•起動(Set-Up)及保持(Hold-Up)時間

常規(guī)功能(Functions)測試

A. 輸出電壓調(diào)整:
   
當(dāng)制造開關(guān)電源時,第一個測試步驟為將輸出電壓調(diào)整至規(guī)格范圍內(nèi)。此步驟完成后才能確保后續(xù)的規(guī)格能夠符合。 通常,當(dāng)調(diào)整輸出電壓時,將輸入交流電壓設(shè)定為正常值(115Vac或230Vac),并且將輸出電流設(shè)定為正常值或滿載電流,然后以數(shù)字電壓表測量電源供應(yīng)器的輸出電壓值并調(diào)整其電位器(VR)直到電壓讀值位于要求之范圍內(nèi)。

B. 電源調(diào)整率:
   
電源調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓變化時提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。此項(xiàng)測試系用來驗(yàn)證電源供應(yīng)器在最惡劣之電源電壓環(huán)境下,如夏天之中午(因氣溫高,用電需求量最大)其電源電壓最低;又如冬天之晚上(因氣溫低,用電需求量最小)其電源電壓最高。在前述之兩個極端下驗(yàn)證電源供應(yīng)器之輸出電源之穩(wěn)定度是否合乎需求之規(guī)格。

為精確測量電源調(diào)整率,需要下列之設(shè)備:

•能提供可變電壓能力的電源,至少能提供待測電源供應(yīng)器的最低到最高之輸入電壓范圍,(KIKUSUI PCR系列電源能提供0--300VAC 5-1000Hz 的穩(wěn)定交流電源,0---400V DC的直流電源)。

•一個均方根值交流電壓表來測量輸入電源電壓,眾多的數(shù)字功率計(jì)能精確計(jì)量V A W PF。

•一個精密直流電壓表,具備至少高于待測物調(diào)整率十倍以上,一般應(yīng)用5位以上高精度數(shù)字表。

•連接至待測物輸出的可變電子負(fù)載。

* 測試步驟如下:于待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后,分別于低輸入電壓(Min),正常輸入電壓(Normal),及高輸入電壓(Max)下測量并記錄其輸出電壓值。

電源調(diào)整率通常以一正常之固定負(fù)載(Nominal Load)下,由輸入電壓變化所造成其輸出電壓偏差率(deviation)的百分比,如下列公式所示:
     
V0(max)-V0(min) / V0(normal)

電源調(diào)整率亦可用下列方式表示之:于輸入電壓變化下,其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限范圍內(nèi),即輸出電壓之上下限絕對值以內(nèi)。

C. 負(fù)載調(diào)整率:
   
負(fù)載調(diào)整率的定義為開關(guān)電源于輸出負(fù)載電流變化時,提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。此項(xiàng)測試系用來驗(yàn)證電源在最惡劣之負(fù)載環(huán)境下,如個人電腦內(nèi)裝置最少之外設(shè)卡且硬盤均不動作(因負(fù)載最少,用電需求量最小)其負(fù)載電流最低和個人電腦內(nèi)裝置最多之外設(shè)卡且硬盤在動作(因負(fù)載最多,用電需求量最大)其負(fù)載電流最高的兩個極端下驗(yàn)證電源供應(yīng)器之輸出電源之穩(wěn)定度是否合乎需求之規(guī)格。

* 所需的設(shè)備和連接與電源調(diào)整率相似,唯一不同的是需要精密的電流表與待測電源供應(yīng)器的輸出串聯(lián)。示:

測試步驟如下:于待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后,測量正常負(fù)載下之輸出電壓值,再分別于輕載(Min)、重載(Max)負(fù)載下,測量并記錄其輸出電壓值(分別為Vmax與Vmin),負(fù)載調(diào)整率通常以正常之固定輸入電壓下,由負(fù)載電流變化所造成其輸出電壓偏差率的百分比,如下列公式所示:
     
V0(max)-V0(min) / V0(normal)

負(fù)載調(diào)整率亦可用下列方式表示:于輸出負(fù)載電流變化下,其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi),即輸出電壓之上下限絕對值以內(nèi)。

D. 綜合調(diào)整率:
   
綜合調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時,提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,此項(xiàng)測試系為上述電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,可提供對電源供應(yīng)器于改變輸入電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗(yàn)證。 綜合調(diào)整率用下列方式表示:于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化下,其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi)(即輸出電壓之上下限絕對值以內(nèi))或某一百分比界限內(nèi)。

E. 輸出雜訊(PARD):
   
輸出雜訊(PARD)系指于輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下,其平均直流輸出電壓上的周期性與隨機(jī)性偏差量的電壓值。輸出雜訊是表示在經(jīng)過穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上所有不需要的交流和噪聲部份(包含低頻之50/60Hz電源倍頻信號、高于20 KHz之高頻切換信號及其諧波,再與其它之隨機(jī)性信號所組成)),通常以mVp-p峰對峰值電壓為單位來表示。 一般的開關(guān)電源的規(guī)格均以輸出直流輸出電壓的1%以內(nèi)為輸出雜訊之規(guī)格,其頻寬為20Hz到20MHz(或其它更高之頻寬如100MHz等)。 開關(guān)電源實(shí)際工作時最惡劣的狀況(如輸出負(fù)載電流最大、輸入電源電壓最低等),若電源供應(yīng)器在惡劣環(huán)境狀況下,其輸出直流電壓加上雜訊后之輸出瞬時電壓,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不超過輸出高低電壓界限情形,否則將可能會導(dǎo)致電源電壓超過或低于邏輯電路(如TTL電路)之承受電源電壓而誤動作,進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。[!--empirenews.page--]

例如5V輸出,其輸出雜訊要求為50mV以內(nèi)(此時包含電源調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、動態(tài)負(fù)載等其它所有變動,其輸出瞬時電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間,才不致引起TTL邏輯電路之誤動作)。在測量輸出雜訊時,電子負(fù)載的PARD必須比待測之電源供應(yīng)器的PARD值為低,才不會影響輸出雜訊之測量。同時測量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配,為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的干擾、振鈴和駐波,一般都采用雙同軸電纜并以50Ω于其端點(diǎn)上,并使用差動式量測方法(可避免地回路之雜訊電流),來獲得正確的測量結(jié)果,日本計(jì)測KEISOKU GEIKEN 的PARD 測試儀具備此種功能。

F. 輸入功率與效率:
     
電源供應(yīng)器的輸入功率之定義為以下之公式:
     
True Power = Pav(watt) = V1 Ai dt = Vrms x Arms x Power Factor

即為對一周期內(nèi)其輸入電壓與電流乘積之積分值,需注意的是Watt≠VrmsArms而是Watt=VrmsArmsxP.F.,其中P.F.為功率因素(Power Factor),通常電源供應(yīng)器的功率因素在0.6~0.7左右,而大功率之電源供應(yīng)器具備功率因素校正器者,其功率因素通常大于0.95,當(dāng)輸入電流波形與電壓波形完全相同時,功率因素為1,并依其不相同之程度,其功率因素為1~0之間。

電源供應(yīng)器的效率之定義為:
       
ΣVout x lout / True Power (watts)

即為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值。通常個人電腦用電源供應(yīng)器之效率為65%~80%左右。效率提供對電源供應(yīng)器正確工作的驗(yàn)證,若效率超過規(guī)定范圍,即表示設(shè)計(jì)或零件材料上有問題,效率太低時會導(dǎo)致散熱增加而影響其使用壽命。 由于近年來對于環(huán)保及能源消耗愈來愈重視,如電腦能源之星「Energy Star」對開關(guān)電源之要求:于交流輸入功率為30Wrms時,其效率需為60%以上(即此時直流輸出功率必須高于18W);又對于ATX架構(gòu)開關(guān)電源于直流失能(DC Disable)狀態(tài)其輸入功率應(yīng)不大于5W。因此交流功率測試儀表需要既精確又范圍寬廣,才能合乎此項(xiàng)測試之需求。

G. 動態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載
   
一個定電壓輸出的電源,于設(shè)計(jì)中具備反饋控制回路,能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實(shí)際上反饋控制回路有一定的頻寬,因此限制了電源供應(yīng)器對負(fù)載電流變化時的反應(yīng)。若控制回路輸入與輸出之相移于增益(Unity Gain)為1時,超過180度,則電源供應(yīng)器之輸出便會呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控或振蕩之現(xiàn)象。實(shí)際上,電源供應(yīng)器工作時的負(fù)載電流也是動態(tài)變化的,而不是始終維持不變(例如硬盤、軟驅(qū)、CPU或RAM動作等),因此動態(tài)負(fù)載測試對電源供應(yīng)器而言是極為重要的。可編程序電子負(fù)載可用來模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時最惡劣的負(fù)載情況,如負(fù)載電流迅速上升、下降之斜率、周期等,若電源供應(yīng)器在惡劣負(fù)載狀況下,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過高激(Overshoot)或過低(Undershoot)情形,否則會導(dǎo)致電源之輸出電壓超過負(fù)載組件(如TTL電路其輸出瞬時電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間,才不致引起TTL邏輯電路之誤動作)之承受電源電壓而誤動作,進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。

H. 電源良好/失效時間(Power Good、Power Fail或Pok)
   
電源良好信號,簡稱PGS(Power Good Signal或Pok High),是電源送往電腦系統(tǒng)的信號,當(dāng)其輸出電壓穩(wěn)定后,通知電腦系統(tǒng),以便做開機(jī)程序之 C 而電源失效信號(Power Fail或Pok Low)是電源供應(yīng)器表示其輸出電壓尚未達(dá)到或下降超過于一正常工作之情況。 以上通常由一「PGS」或「Pok」信號之邏輯改變來表示,邏輯為「1或High」時,表示為電源良好(Power Good),而邏輯為「0或Low」時,表示為電源失效(Power Fail),請叁考圖5之時序圖:

電源的電源良好(Power Good)時間為從其輸出電壓穩(wěn)定時起到PGS信號由0變?yōu)?的時間,一般值為100ms到2000ms之間。 電源的電源失效(Power Fail)時間為從PGS信號由由1變?yōu)?的時間起到其輸出電壓低于穩(wěn)壓范圍的時間,一般值為1ms以上。日本計(jì)測KEISOKU GEIKEN 的電子負(fù)載可直接測量電源良好與電源失效時間,并可設(shè)定上下限,做為是否合格的判別。

I. 啟動時間(Set-Up Time)與保持時間(Hold-Up Time)
   
啟動時間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,啟動時間為從電源開機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時間。
   
保持時間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,保持時間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低于4.75V為止的時間,一般值為17ms或20ms以上,以避免電力公司供電中于少了半周或一周之狀況下而受影響。

啟動時間與保持時間的時序如圖6所示。
 
I. 其它

•Power Up delay:+5/3.3V 的上升時間(由10%上升到90%電壓之時間)

•Remote ON/OFF Control:遙控「開」或「關(guān)」之控制

•Fan Speed Control/Monitor:散熱風(fēng)扇之轉(zhuǎn)速「控制」及「監(jiān)視」

二、保護(hù)動作(Protections)測試:

•過電壓保護(hù)(OVP, Over Voltage Protection)

•短路保護(hù)(Short)

•過電流保護(hù)(OCP, Over Current Protection)

•過功率保護(hù)(OPP, Over Power Protection)

保護(hù)功能測試

A. 過電壓保護(hù)(OVP)測試

當(dāng)電源供應(yīng)器的輸出電壓超過其最大的限定電壓時,會將其輸出關(guān)閉(Shutdown)以避免損壞負(fù)載之電路組件,稱為過電壓保護(hù)。過電壓保護(hù)測試系用來驗(yàn)證電源供應(yīng)器當(dāng)出現(xiàn)上述異常狀況時(當(dāng)電源供應(yīng)器內(nèi)部之回授控制電路或零件損壞時,有可能產(chǎn)生異常之輸出高電壓),能否正確地反應(yīng)。 過電壓保護(hù)功能對于一些對電壓敏感的負(fù)載特別重要,如CPU、記憶體、邏輯電路等,因?yàn)檫@些貴重組件若因工作電壓太高,超過其額定值時,會導(dǎo)致永久性的損壞,因而損失慘重。電源供應(yīng)器于過電壓情形發(fā)生時,其輸出電壓波形如圖7所示。

B. 短路保護(hù)測試
      [!--empirenews.page--]
當(dāng)電源供應(yīng)器的輸出短路時,則電源供應(yīng)器應(yīng)該限制其輸出電流或關(guān)閉其輸出,以避免損壞。短路保護(hù)測試是驗(yàn)證當(dāng)輸出短路時(可能是配線連接錯誤,或使用電源之組件或零組件故障短路所致),電源供應(yīng)器能否正確地反應(yīng)。

C. 過電流保護(hù)OCP測試
     
當(dāng)電源供應(yīng)器的輸出電流超過額定時,則電源供應(yīng)器應(yīng)該限制其輸出電流或關(guān)閉其輸出,以避免負(fù)載電流過大而損壞。又若電源供應(yīng)器之內(nèi)部零件損壞而造成較正常大的負(fù)載電流時,則電源供應(yīng)器也應(yīng)該關(guān)閉或限制其輸出,以避免損壞或發(fā)生危險。過電流保護(hù)測試是驗(yàn)證當(dāng)上述任一種狀況發(fā)生時,電源供應(yīng)器能否正確地反應(yīng)。

D. 測試過功保護(hù)

稍具變化。等、、本項(xiàng)測試通常包含兩組或數(shù)組輸出功率之功率限制保護(hù),因此較上述單一輸出之保護(hù)測試過功率保護(hù)測試是驗(yàn)證當(dāng)上述任一種狀況發(fā)生時,電源能否正確地反應(yīng)。超過額定時,則電源應(yīng)該限制其輸出功率或關(guān)閉其輸出,以避免負(fù)載功率過大而損壞或發(fā)生危險。又若電源內(nèi)部零件損壞而造成較正常大的負(fù)載功率時,則電源也應(yīng)該關(guān)閉或限制其輸出,以避免損壞。可為單一輸出或多組輸出當(dāng)電源的輸出功率

三、安全(Safety)規(guī)格測試:

•輸入電流、漏電電流等

•耐壓絕緣: 電源輸入對地,電源輸出對地;電路板線路須有安全間距。

•溫度抗燃:零組件需具備抗燃之安全規(guī)格,工作溫度須于安全規(guī)格內(nèi)。

•機(jī)殼接地:需于0.1歐姆以下,以避免漏電觸電之危險。

•變壓輸出特性:開路、短路及最大伏安(VA)輸出

四、異常測試:散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開關(guān)設(shè)定錯誤

五、電磁兼容(Electromagnetic Compliance)測試:

電源供應(yīng)器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度,電源供應(yīng)器需在以下三種負(fù)載狀況下測試:

每個輸出為空載、每個輸出為50%負(fù)載、每個輸出為100%負(fù)載。

•傳導(dǎo)干擾/免疫:經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫

•幅射干擾/免疫:經(jīng)由磁場之幅射性干擾/免疫

六、 可靠性(Reliability)測試:

老化壽命測試:高溫(約50-60度)及長時間(約8-24小時)滿載測試。

七、其它測試:

•ESD:Electrostatic Discharge靜電放電(人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起)在2-15KV之ESD脈波下,

待測物之每個表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測試,電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會產(chǎn)生突波(Glitch)

或中斷(Interrupt),直接ESD接觸時不應(yīng)造成過激(Overshoot)或欠激(Undershoot)之超過穩(wěn)壓范圍的狀況、及過電壓保護(hù)(OVP)、過電流保護(hù)(OCP)等。另外,于ESD放電電壓在高達(dá)25KV下,應(yīng)不致造成組件故障(Failure)。

•EFT:Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經(jīng)由電源線或I/O線路之傳導(dǎo)性干擾(由供電或建筑物內(nèi)引起)。

•Surge:經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾(電燈之閃動引起)。

•VD/I:Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷(電力分配系統(tǒng)之故障或失誤所引起,例如供電過載或空氣開關(guān)跳動所引起)

•Inrush: 開機(jī)輸入沖擊電流,開關(guān)電源對供電系統(tǒng)的影響。
 

本站聲明: 本文章由作者或相關(guān)機(jī)構(gòu)授權(quán)發(fā)布,目的在于傳遞更多信息,并不代表本站贊同其觀點(diǎn),本站亦不保證或承諾內(nèi)容真實(shí)性等。需要轉(zhuǎn)載請聯(lián)系該專欄作者,如若文章內(nèi)容侵犯您的權(quán)益,請及時聯(lián)系本站刪除。
換一批
延伸閱讀

9月2日消息,不造車的華為或?qū)⒋呱龈蟮莫?dú)角獸公司,隨著阿維塔和賽力斯的入局,華為引望愈發(fā)顯得引人矚目。

關(guān)鍵字: 阿維塔 塞力斯 華為

加利福尼亞州圣克拉拉縣2024年8月30日 /美通社/ -- 數(shù)字化轉(zhuǎn)型技術(shù)解決方案公司Trianz今天宣布,該公司與Amazon Web Services (AWS)簽訂了...

關(guān)鍵字: AWS AN BSP 數(shù)字化

倫敦2024年8月29日 /美通社/ -- 英國汽車技術(shù)公司SODA.Auto推出其旗艦產(chǎn)品SODA V,這是全球首款涵蓋汽車工程師從創(chuàng)意到認(rèn)證的所有需求的工具,可用于創(chuàng)建軟件定義汽車。 SODA V工具的開發(fā)耗時1.5...

關(guān)鍵字: 汽車 人工智能 智能驅(qū)動 BSP

北京2024年8月28日 /美通社/ -- 越來越多用戶希望企業(yè)業(yè)務(wù)能7×24不間斷運(yùn)行,同時企業(yè)卻面臨越來越多業(yè)務(wù)中斷的風(fēng)險,如企業(yè)系統(tǒng)復(fù)雜性的增加,頻繁的功能更新和發(fā)布等。如何確保業(yè)務(wù)連續(xù)性,提升韌性,成...

關(guān)鍵字: 亞馬遜 解密 控制平面 BSP

8月30日消息,據(jù)媒體報(bào)道,騰訊和網(wǎng)易近期正在縮減他們對日本游戲市場的投資。

關(guān)鍵字: 騰訊 編碼器 CPU

8月28日消息,今天上午,2024中國國際大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)博覽會開幕式在貴陽舉行,華為董事、質(zhì)量流程IT總裁陶景文發(fā)表了演講。

關(guān)鍵字: 華為 12nm EDA 半導(dǎo)體

8月28日消息,在2024中國國際大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)博覽會上,華為常務(wù)董事、華為云CEO張平安發(fā)表演講稱,數(shù)字世界的話語權(quán)最終是由生態(tài)的繁榮決定的。

關(guān)鍵字: 華為 12nm 手機(jī) 衛(wèi)星通信

要點(diǎn): 有效應(yīng)對環(huán)境變化,經(jīng)營業(yè)績穩(wěn)中有升 落實(shí)提質(zhì)增效舉措,毛利潤率延續(xù)升勢 戰(zhàn)略布局成效顯著,戰(zhàn)新業(yè)務(wù)引領(lǐng)增長 以科技創(chuàng)新為引領(lǐng),提升企業(yè)核心競爭力 堅(jiān)持高質(zhì)量發(fā)展策略,塑強(qiáng)核心競爭優(yōu)勢...

關(guān)鍵字: 通信 BSP 電信運(yùn)營商 數(shù)字經(jīng)濟(jì)

北京2024年8月27日 /美通社/ -- 8月21日,由中央廣播電視總臺與中國電影電視技術(shù)學(xué)會聯(lián)合牽頭組建的NVI技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟在BIRTV2024超高清全產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展研討會上宣布正式成立。 活動現(xiàn)場 NVI技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)...

關(guān)鍵字: VI 傳輸協(xié)議 音頻 BSP

北京2024年8月27日 /美通社/ -- 在8月23日舉辦的2024年長三角生態(tài)綠色一體化發(fā)展示范區(qū)聯(lián)合招商會上,軟通動力信息技術(shù)(集團(tuán))股份有限公司(以下簡稱"軟通動力")與長三角投資(上海)有限...

關(guān)鍵字: BSP 信息技術(shù)
關(guān)閉
關(guān)閉