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加速測試為LED招標補貼的落實提速——LED照明產(chǎn)品可靠性測試方法研討會在京召開
2012年5月30日，半導(dǎo)體照明聯(lián)合創(chuàng)新國家重點實驗室(籌)(以下簡稱重點實驗室)重點項目之一的“LED照明產(chǎn)品可靠性測試方法”研討會在北京召開，會議邀請了國內(nèi)在電子產(chǎn)品檢測方面具有多年研究基礎(chǔ)的機構(gòu)及LED照明領(lǐng)域具
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加速測試為LED招標補貼的落實提速
2012年5月30日，半導(dǎo)體照明聯(lián)合創(chuàng)新國家重點實驗室(籌)(以下簡稱重點實驗室)重點項目之一的“LED照明產(chǎn)品可靠性測試方法”研討會在北京召開，會議邀請了國內(nèi)在電子產(chǎn)品檢測方面具有多年研究基礎(chǔ)的機構(gòu)及LED照明領(lǐng)
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自蔓延高溫合成實驗壓力與燃燒速率測試方法研究
摘要：自蔓延高溫合成技術(shù)是利用原料在初始點燃條件下化學(xué)反應(yīng)所產(chǎn)生的高溫高熱，使燃燒反應(yīng)自發(fā)地進行，從而得到新的成分和結(jié)構(gòu)的產(chǎn)物。通過對自蔓延高溫合成實驗壓力和燃燒速率測試方法的研究，根據(jù)實驗的要求，選
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發(fā)光二極管光譜參數(shù)測試方法的研究
1 引言LED(發(fā)光二極管)由于其光強高、功耗低、壽命長、可靠性高、易驅(qū)動、易與IC相銜接等特點,已被廣泛用于交通、商業(yè)廣告和儀器儀表顯示中。而LED的顏色是影響各種顯示效果的一種關(guān)鍵因素,決定LED顏色的則是它的波長
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一種道路照明照度測試方法和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
半導(dǎo)體發(fā)光二極管(LED)作為一種新型光源[1]，與傳統(tǒng)光源相比具有很多優(yōu)點，例如體積小、重量輕、節(jié)省空間、光譜范圍廣、易于設(shè)計、能耗低等，而且可靠性好、壽命長，有著廣闊的發(fā)展前景[2]。隨著國家城市建設(shè)進程的加
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一種道路照明照度測試方法和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
半導(dǎo)體發(fā)光二極管(LED)作為一種新型光源[1]，與傳統(tǒng)光源相比具有很多優(yōu)點，例如體積小、重量輕、節(jié)省空間、光譜范圍廣、易于設(shè)計、能耗低等，而且可靠性好、壽命長，有著廣闊的發(fā)展前景[2]。隨著國家城市建設(shè)進程的加
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基于TMSF240芯片的內(nèi)部FLASH的一種自測試方法
摘要：飛控計算機作為飛行控制系統(tǒng)的核心控制處理單元，其可靠性要求是所有航空電子設(shè)備中最高的，用于飛控計算機的每一個元器件都必須經(jīng)過嚴格的自測試。隨著DSP越來越廣泛應(yīng)用于飛控系統(tǒng)，對于芯片內(nèi)部FLASH的自測
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光纖傳輸通道測試方法介紹
計算機網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)化綜合布線系統(tǒng)(StructuredCablingSystem，SCS)是美國貝爾實驗室專家們經(jīng)過多年研究推出的基于星形拓樸結(jié)構(gòu)的模塊系統(tǒng)，也是目前局域網(wǎng)建設(shè)首選的系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有實用、靈活、經(jīng)濟、可模塊化和可擴充
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基于TMSF240芯片的內(nèi)部FLASH的一種自測試方法
摘要：飛控計算機作為飛行控制系統(tǒng)的核心控制處理單元，其可靠性要求是所有航空電子設(shè)備中最高的，用于飛控計算機的每一個元器件都必須經(jīng)過嚴格的自測試。隨著DSP越來越廣泛應(yīng)用于飛控系統(tǒng)，對于芯片內(nèi)部FLASH的自測
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基調(diào)網(wǎng)絡(luò)第三方視角解讀寬帶測速標準
近期，工信部公示《固定寬帶接入速率測試方法》（報批稿），從測試寬帶接入速率對設(shè)備的要求、測試方法，以及對數(shù)據(jù)的處理方法等方面，提出了規(guī)范和標準。自去年年底，DCCI發(fā)布《中國寬帶用戶調(diào)查》，“假寬帶&
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信號完整性的測試方法介紹
信號完整性的測試手段很多，涉及的儀器也很多，因此熟悉各種測試手段的特點，以及根據(jù)測試對象的特性和要求，選用適當?shù)臏y試手段，對于選擇方案、驗證效果、解決問題等硬件開發(fā)活動，都能夠大大提高效率，起到事半功
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USB3.0的物理層接收端的測試方法（二）
USB簡介USB(UniversalSerialBus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標、打印機、掃描儀、數(shù)碼相機、MP3、U盤等外圍設(shè)備連接到計算機，它使計算機與周邊設(shè)備的接口標準化，從2000年以后，支持USB2.0版本的計算機和設(shè)備已
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USB3.0的物理層接收端的測試方法(一)
USB3.0的Receiver測試的兩種方法由于USB3.0的速率高達5Gbps，在USB3.0規(guī)范中接收機測試成為必測項目。接收機測試包括了誤碼率測試和接收機抖動容限測試兩部分。對于ReceiverCompliance測試，需要使用誤碼率測試儀BER
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USB3.0的物理層接收端的測試方法（二）
USB簡介USB(UniversalSerialBus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標、打印機、掃描儀、數(shù)碼相機、MP3、U盤等外圍設(shè)備連接到計算機，它使計算機與周邊設(shè)備的接口標準化，從2000年以后，支持USB2.0版本的計算機和設(shè)備已
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USB3.0的物理層接收端的測試方法(一)
USB3.0的Receiver測試的兩種方法由于USB3.0的速率高達5Gbps，在USB3.0規(guī)范中接收機測試成為必測項目。接收機測試包括了誤碼率測試和接收機抖動容限測試兩部分。對于ReceiverCompliance測試，需要使用誤碼率測試儀BER
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一種低成本高效測試方法——合成測試系統(tǒng)
傳統(tǒng)測試系統(tǒng)通常將一些臺式儀器或特定儀器模塊組裝在機架上，構(gòu)成“機架堆疊”式測試系統(tǒng)，這種測試系統(tǒng)的局限性在于它們一般用來對一個元件、一個模塊或一個子系統(tǒng)進行測試，而沒有足夠的能力支持對大范
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一種低成本高效測試方法——合成測試系統(tǒng)
傳統(tǒng)測試系統(tǒng)通常將一些臺式儀器或特定儀器模塊組裝在機架上，構(gòu)成“機架堆疊”式測試系統(tǒng)，這種測試系統(tǒng)的局限性在于它們一般用來對一個元件、一個模塊或一個子系統(tǒng)進行測試，而沒有足夠的能力支持對大范
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衰落及其測試方法介紹
一、 衰落 衰落從范圍上來講，大體分為三種情況：大區(qū)域衰落，小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示，大區(qū)域衰落指的是信號在長距離(幾百個波長以上)傳播時的平均衰減，主要由大氣損耗，建筑物或大的物體如山丘、樹木
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基于最新的LED測試方法的LED光電特性的測試方案
一、引言 LED光電測試是檢驗LED光電性能的重要而且唯一的手段，相應(yīng)的測試結(jié)果是評價和反映當前我國LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平的依據(jù)。制定LED光電測試方法的標準是統(tǒng)一衡量LED產(chǎn)品光電性能的重要途徑，是使測試結(jié)果真實反映
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一種創(chuàng)新的晶圓級熱載子并行測試方法
引言 隨著VLSI集成度的日益提高，MOS器件尺寸不斷縮小至亞微米乃至深亞微米，熱載子效應(yīng)已成為最嚴重的可靠性問題之一?，F(xiàn)今,為了降低成本,減少周期,不斷的提高工藝,晶圓級的器件可靠性測試愈來愈被廣泛的應(yīng)用。縱觀
