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視角對(duì)LED顯示屏亮度均勻性的影響分析
本文介紹了LED視角對(duì)顯示屏亮度均勻性的視覺影響，并沒有考慮到其它LED封裝形式以及全彩色LED顯示屏的色燈排列，模塊發(fā)光分布的不均勻性以及混色效果等更為復(fù)雜的情況，由于篇幅所限，以后再撰文詳述。
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國(guó)標(biāo)委公布23項(xiàng)LED相關(guān)擬立項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
7月29日，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)決定對(duì)2011年第一批擬立項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目公開征求意見。征求意見截止時(shí)間為2011年8月29日。 此次國(guó)標(biāo)委公布的2011年第一批擬立項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目中，包括led相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)23項(xiàng)，涉及外延芯片、封
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LED產(chǎn)品質(zhì)量分析與判斷標(biāo)準(zhǔn)
為了發(fā)展照明led技術(shù)，發(fā)達(dá)國(guó)家都非常重視LED測(cè)試方法及標(biāo)準(zhǔn)的研究。例如美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)研究所(NIST)組織國(guó)際知名測(cè)試專家開展LED測(cè)試的研究，重點(diǎn)研究LED發(fā)光特性、溫度特性和光衰特性等測(cè)試方法，試圖建立整套的
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直流電子負(fù)載測(cè)試方法研究
本文結(jié)合國(guó)防軍工電子標(biāo)準(zhǔn)化研究項(xiàng)目“直流電子負(fù)載測(cè)試方法研究”，提出了直流電子負(fù)載測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)草案。草案中，提出了規(guī)范的直流電子負(fù)載名詞術(shù)語(yǔ)，在直流電子負(fù)載試驗(yàn)驗(yàn)證平臺(tái)試驗(yàn)驗(yàn)證的基礎(chǔ)上，提出了參數(shù)的測(cè)試方法。
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單色LED的檢測(cè)測(cè)試方法
一、主體思路： 因?yàn)榘l(fā)光二極體具有單向?qū)щ娦?，所以我們使?R × 10k 檔可測(cè)出其正、反向電阻。一般正向電阻應(yīng)小於 30k 歐姆，反向電阻應(yīng)大於 1M 歐姆。若正、反向電阻均為零，說(shuō)明內(nèi)部擊穿短路。若正、反向
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單色LED的檢測(cè)測(cè)試方法
一、主體思路： 因?yàn)榘l(fā)光二極體具有單向?qū)щ娦裕晕覀兪褂?R × 10k 檔可測(cè)出其正、反向電阻。一般正向電阻應(yīng)小於 30k 歐姆，反向電阻應(yīng)大於 1M 歐姆。若正、反向電阻均為零，說(shuō)明內(nèi)部擊穿短路。若正、反向
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SEMI發(fā)布光伏硅原料標(biāo)準(zhǔn)SEMI PV17-0611
21ic訊 SEMI于7月12日發(fā)布了一項(xiàng)用于光伏 (PV)制造的硅原料新標(biāo)準(zhǔn)SEMI PV17-0611。該標(biāo)準(zhǔn)涉及到利用多種工藝方法生產(chǎn)的多晶硅材料詳細(xì)規(guī)范，包括化學(xué)氣相沉積（CVD）法、冶金還原法和其他工藝方法。CVD工藝中包括了所
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更好、更快的開環(huán)增益測(cè)試方法
我們往往需要對(duì)這個(gè)反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進(jìn)行測(cè)量，以便對(duì)它的開環(huán)特性建立模型。但這樣的測(cè)試通?？偸呛芾щy的。例如，積分器的低頻增益可以非常高，一般會(huì)超出常用測(cè)試儀的測(cè)量范圍。所以，這些測(cè)試的目的是，使用現(xiàn)有的工具和少量的專用電路，以最小的工作量，快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。
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基于架構(gòu)與基于流程的DFT測(cè)試方法之比較
ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測(cè)試相關(guān)的問題上，以達(dá)到良好的測(cè)試覆蓋率。盡管遵循可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法，但對(duì)嵌入式RAM、多時(shí)鐘域、復(fù)位線和嵌入式IP的測(cè)
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布線測(cè)試方法及光纖傳輸通道測(cè)試
計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)化綜合布線系統(tǒng)(StructuredCablingSystem，SCS)是美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室專家們經(jīng)過(guò)多年研究推出的基于星形拓樸結(jié)構(gòu)的模塊系統(tǒng)，也是目前局域網(wǎng)建設(shè)首選的系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有實(shí)用、靈活、經(jīng)濟(jì)、可模塊化和可擴(kuò)充
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視頻監(jiān)控?cái)z像機(jī)動(dòng)態(tài)范圍的幾種測(cè)試方法
摘要：在應(yīng)用安防監(jiān)控?cái)z像機(jī)時(shí)，經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)明暗反差較大或逆光的場(chǎng)景，使得圖像中明亮的區(qū)域曝光過(guò)度、較暗的區(qū)域欠曝光，而不能看清圖像最亮與最暗部分。因此，各攝像機(jī)廠家競(jìng)相開發(fā)了寬動(dòng)態(tài)攝像機(jī)。但如何檢測(cè)其
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視頻監(jiān)控?cái)z像機(jī)動(dòng)態(tài)范圍的幾種測(cè)試方法
摘要：在應(yīng)用安防監(jiān)控?cái)z像機(jī)時(shí)，經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)明暗反差較大或逆光的場(chǎng)景，使得圖像中明亮的區(qū)域曝光過(guò)度、較暗的區(qū)域欠曝光，而不能看清圖像最亮與最暗部分。因此，各攝像機(jī)廠家競(jìng)相開發(fā)了寬動(dòng)態(tài)攝像機(jī)。但如何檢測(cè)其
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信號(hào)完整性的測(cè)試方法
信號(hào)完整性的測(cè)試手段很多，涉及的儀器也很多，因此熟悉各種測(cè)試手段的特點(diǎn)，以及根據(jù)測(cè)試對(duì)象的特性和要求，選用適當(dāng)?shù)臏y(cè)試手段，對(duì)于選擇方案、驗(yàn)證效果、解決問題等硬件開發(fā)活動(dòng)，都能夠大大提高效率，起到事半功
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人才測(cè)試，知己知彼的最新途徑
現(xiàn)在，不少求職者會(huì)遇到這樣的情況：在面試之前，你會(huì)被領(lǐng)到一臺(tái)電腦前，做一堆稀奇古怪的問題，然后會(huì)出來(lái)一張分析結(jié)果，上面還有不少圖表等顯示你在某方面的分值，還有一些分析的文字或者建議。 不僅企業(yè)在招聘
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人才測(cè)試，知己知彼的最新途徑
人才測(cè)試，知己知彼的最新途徑
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一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法
摘要：針對(duì)Altera公司現(xiàn)有FPGA在線測(cè)試方法無(wú)法適應(yīng)大批量測(cè)試／激勵(lì)數(shù)據(jù)自動(dòng)傳輸?shù)那闆r，論文提出了一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法，該方法采用Nios II控制數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程、DMA協(xié)助數(shù)據(jù)傳輸、FIFO作為數(shù)據(jù)暫存，采用
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接地電阻的測(cè)試方法
一、接地電阻測(cè)試要求： a. 交流工作接地，接地電阻不應(yīng)大于4Ω； b. 安全工作接地，接地電阻不應(yīng)大于4Ω； c. 直流工作接地，接地電阻應(yīng)按計(jì)算機(jī)系統(tǒng)具體要求確定； d. 防雷保護(hù)地的接地電阻不應(yīng)大于
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一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法
一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法
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交流穩(wěn)壓電源動(dòng)態(tài)指標(biāo)的測(cè)試方法
摘要：根據(jù)原電子工業(yè)部批準(zhǔn)發(fā)布實(shí)施的SJ/T10542標(biāo)準(zhǔn)，介紹交流穩(wěn)壓電源幾項(xiàng)主要?jiǎng)討B(tài)指標(biāo)及其測(cè)試方法。關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)指標(biāo)測(cè)試方法Test of Dynamic Index about AC Regulated Power Supply Abstract: According t
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交流穩(wěn)壓電源的電磁兼容性要求與測(cè)試方法
摘要：EMC性能是交流穩(wěn)壓電源的一項(xiàng)重要指標(biāo)要求。基于對(duì)交流穩(wěn)壓電源使用價(jià)值的要求，其EMC性能應(yīng)當(dāng)是除了本身能達(dá)到較高嚴(yán)酷度等級(jí)的抗擾度指標(biāo)及合格的電磁干擾限制外，更重要的是要為其負(fù)載（對(duì)EMI敏感的電子設(shè)備
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