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面試的基本種類模式
面試的基本種類模式
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短溝道MOSFET散粒噪聲測(cè)試方法研究
近年來隨著介觀物理和納米電子學(xué)對(duì)散粒噪聲研究的不斷深入，人們發(fā)現(xiàn)散粒噪聲可以很好的表征納米器件內(nèi)部電子傳輸特性。由于宏觀電子元器件中也會(huì)有介觀或者納米尺度的結(jié)構(gòu)，例如缺陷、小孔隙和晶粒等，因而也會(huì)
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基于OTDR技術(shù)的光纖測(cè)試方法探討
光纖通信是以光波作載波以光纖為傳輸媒介的通信方式。光纖通信由于傳輸距離遠(yuǎn)、信息容量大且通信質(zhì)量高等特點(diǎn)而成為當(dāng)今信息傳輸?shù)闹饕侄?，是“信息高速公路”的基石。光纖測(cè)試技術(shù)是光纖應(yīng)用領(lǐng)域中最廣泛、
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基于OTDR技術(shù)的光纖測(cè)試方法探討
光纖通信是以光波作載波以光纖為傳輸媒介的通信方式。光纖通信由于傳輸距離遠(yuǎn)、信息容量大且通信質(zhì)量高等特點(diǎn)而成為當(dāng)今信息傳輸?shù)闹饕侄?，是“信息高速公路”的基石。光纖測(cè)試技術(shù)是光纖應(yīng)用領(lǐng)域中最廣泛、
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基于環(huán)境模擬的入侵檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)試方法
0 引 言 在保障網(wǎng)絡(luò)的安全性時(shí)，入侵檢測(cè)系統(tǒng)已經(jīng)成為必選的技術(shù)和手段，因?yàn)樗绕鹌渌陌踩夹g(shù)存在著很多優(yōu)勢(shì)。用戶在選用IDS時(shí)，總是從各自不同的需要來考慮。要衡量IDS的優(yōu)劣，就需要明確IDS應(yīng)該具備的
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千兆單模光纖模塊測(cè)試方法
光纖模塊在光纜上的傳輸是通過光纖模塊上的一對(duì)OXA. 即光纖發(fā)射器（TOXA）和光纖接收器（ROXA）兩部分完成的。TOSA在設(shè)計(jì)上具有最大的發(fā)射光功率，ROXA在設(shè)計(jì)上同樣具有一定的光信號(hào)靈敏度接收范圍。特別提出的是，R
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LED技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和檢測(cè)方法探討
制定照明LED標(biāo)準(zhǔn)的必要 ＬＥＤ照明器具由ＬＥＤ光源、電器附件和器具組成。它采用半導(dǎo)體發(fā)光的器件作為光源，具有體積小、壽命長(zhǎng)、能耗低、瞬時(shí)啟動(dòng)、顏色豐富等特點(diǎn)，是一種環(huán)保節(jié)能的冷光源。 近年來，美國(guó)
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CDMA移動(dòng)臺(tái)主要射頻指標(biāo)和測(cè)試方法
1引言美國(guó)IXIA公司（納斯達(dá)克上市公司，代號(hào)XXIA）是高性能IP網(wǎng)絡(luò)測(cè)試解決方案的全球一流提供商，100%專注于開發(fā)IP測(cè)試解決方案。有很多客戶朋友想系統(tǒng)了解IXIAIP測(cè)試平臺(tái)和所提供測(cè)試方案的最新進(jìn)展，在這里做一介紹
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單片機(jī)系統(tǒng)RAM的測(cè)試方法研究
在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中，存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對(duì)系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測(cè)試是十分必要的。通過測(cè)試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對(duì)系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對(duì)
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基站發(fā)射系統(tǒng)匹配測(cè)試方法研究
基站發(fā)射系統(tǒng)是移動(dòng)通信系統(tǒng)的重要組成部分，其性能優(yōu)劣對(duì)整體移動(dòng)通信質(zhì)量的影響至關(guān)重要。根據(jù)移動(dòng)網(wǎng)運(yùn)行質(zhì)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果分析，造成移動(dòng)通信質(zhì)量指標(biāo)下降的主要原因來自天饋線系統(tǒng)（約占一半以上），而在天饋線系統(tǒng)中
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基站發(fā)射系統(tǒng)匹配測(cè)試方法研究
基站發(fā)射系統(tǒng)是移動(dòng)通信系統(tǒng)的重要組成部分，其性能優(yōu)劣對(duì)整體移動(dòng)通信質(zhì)量的影響至關(guān)重要。根據(jù)移動(dòng)網(wǎng)運(yùn)行質(zhì)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果分析，造成移動(dòng)通信質(zhì)量指標(biāo)下降的主要原因來自天饋線系統(tǒng)（約占一半以上），而在天饋線系統(tǒng)中
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單片機(jī)系統(tǒng)RAM的測(cè)試方法研究
在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中，存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對(duì)系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測(cè)試是十分必要的。通過測(cè)試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對(duì)系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對(duì)
