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交流電子負(fù)載在電源測(cè)試中的應(yīng)用
交流電子負(fù)載是一種能夠模擬真實(shí)負(fù)載環(huán)境的儀器，它在電源測(cè)試中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用?，F(xiàn)代電源設(shè)備的性能和穩(wěn)定性要求越來越高，測(cè)試過程也變得愈加復(fù)雜和多樣化。交流電子負(fù)載以其獨(dú)特的功能和高精度測(cè)量能力，成為電源測(cè)試中的必備工具。本文將詳細(xì)探討交流電子負(fù)載在電源測(cè)試中的應(yīng)用，并分析其優(yōu)勢(shì)和重要性。
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ITECH艾德克斯發(fā)布IT8900G/L高速大功率電子負(fù)載，突破30kHz動(dòng)態(tài)帶載極限
近日，全球知名電源測(cè)試設(shè)備制造商ITECH（艾德克斯電子）正式發(fā)布了其最新的高速大功率電子負(fù)載——IT8900G/L。這款設(shè)備以卓越的動(dòng)態(tài)響應(yīng)和帶載能力再次引領(lǐng)行業(yè)潮流。通過30kHz電流的精準(zhǔn)動(dòng)態(tài)控制，IT8900G不僅為高頻應(yīng)用提供了更廣泛的測(cè)試解決方案，還顯著提升了測(cè)試效率和精度。
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如何精確的進(jìn)行測(cè)量開關(guān)電源紋波
紋波是疊加在直流信號(hào)上的交流干擾信號(hào)，是電源測(cè)試中的一個(gè)很重要的標(biāo)準(zhǔn)。尤其是作特殊用途的電源，如激光器電源，紋波則是其致命要害之一。所以，電源紋波的測(cè)試就顯得極為重要。
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全新IT2700多通道源載模組系統(tǒng)發(fā)布——開啟電源測(cè)試新紀(jì)元
近日，科技界迎來了一款創(chuàng)新的電源測(cè)試解決方案 —— IT2700多通道源載模組系統(tǒng)。這款設(shè)備由領(lǐng)先的電源測(cè)試技術(shù)企業(yè)精心研發(fā)，旨在為工程師提供更靈活、高效的測(cè)試選項(xiàng)，推動(dòng)電力電子和電池技術(shù)的發(fā)展。
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如何合理的測(cè)試DCDC電源第一部分，測(cè)試原因和設(shè)備
在我擔(dān)任現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用工程師的這么多年中，我看到了相當(dāng)多的電源設(shè)計(jì)。在許多情況下，這些設(shè)計(jì)可以毫無問題地工作。有時(shí)，我發(fā)現(xiàn)在將產(chǎn)品投入生產(chǎn)之前通過一些額外的工程工作可以避免的問題。系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員常常在使用電源電路時(shí)沒有徹底確保其在整個(gè)極端工作條件下都能正常工作。存在原型工作正常的情況，因此忽略了進(jìn)一步的電源測(cè)試，或者是檢查是否正常運(yùn)行的最后一項(xiàng)。有時(shí)直到產(chǎn)品投入生產(chǎn)后才會(huì)出現(xiàn)問題，從而導(dǎo)致現(xiàn)場(chǎng)故障。
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設(shè)計(jì)一個(gè) 100A 有源負(fù)載用來測(cè)試電源可靠性
當(dāng)我們使用有源負(fù)載測(cè)試電路來確保微處理器或其他數(shù)字負(fù)載的電源提供 100A 瞬態(tài)電流。這種有源負(fù)載可以為電源提供直流負(fù)載，并且可以在直流電平之間快速切換。這些瞬態(tài)負(fù)載模擬微處理器中的快速邏輯切換。
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“新基建”與“黑科技”，ITECH助你贏得先機(jī)！
先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，能幫助研發(fā)獲得更精準(zhǔn)的測(cè)試參數(shù)，能幫助產(chǎn)線更高效率的完成生產(chǎn)任務(wù)，ITECH為研發(fā)、工業(yè)制造、高校、認(rèn)證檢測(cè)等不同領(lǐng)域的客戶，提供完善的功率電子測(cè)試方案。
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電源設(shè)計(jì)步驟
產(chǎn)品的正常工作離不開電源，在全球節(jié)能環(huán)保和智能互聯(lián)終端花樣翻新的大環(huán)境下，節(jié)能、高頻、高效、微型、智能化是電源行業(yè)未來的發(fā)展趨勢(shì)。新低能耗器件的廣泛應(yīng)用，PMIC 設(shè)計(jì)優(yōu)化、第三代半導(dǎo)體材料 SiC/GaN MOSFET 技術(shù)的出現(xiàn)，正推動(dòng)著功率電子行業(yè)發(fā)生顛覆式的變革。這些新型器件把整個(gè)電源轉(zhuǎn)換系統(tǒng)的效率提高多個(gè)百分點(diǎn)。
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不可不知的電源測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)
1、測(cè)試基本原則 以標(biāo)準(zhǔn)（IEC標(biāo)準(zhǔn)和其他國際標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)、部頒標(biāo)準(zhǔn)）、開發(fā)規(guī)格書、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試規(guī)范為依據(jù)，以測(cè)試數(shù)據(jù)為準(zhǔn)繩，站在用戶的角度上對(duì)電源系統(tǒng)進(jìn)
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動(dòng)態(tài)斜率——電源測(cè)試您所忽視的問題（1）
在做電源的響應(yīng)速度測(cè)試時(shí)，負(fù)載處于動(dòng)態(tài)功能進(jìn)行測(cè)試。但是負(fù)載的動(dòng)態(tài)參數(shù)中的上升斜率和下降斜率是怎么來的呢?首先，斜率本身定義為曲線的切線。也就是說，是指負(fù)載兩個(gè)狀
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電源測(cè)試大全之常規(guī)功能測(cè)試
1 輸入電壓范圍和過/欠壓點(diǎn)，以及半載轉(zhuǎn)換點(diǎn) 測(cè)試說明： 交流輸入（單相）電話范圍：額定值的85％～110％范圍內(nèi)應(yīng)能正常工作；交流380V輸入（三相）變化范圍：額
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過載測(cè)試——電源測(cè)試您所忽視的問題（3）
電源作為電子產(chǎn)品或者電池的供電設(shè)備，除了性能要滿足供電產(chǎn)品的要求外，其自身的保護(hù)措施也非常重要。如過壓、過流、過溫保護(hù)等，本次以恒壓源的過流保護(hù)為例進(jìn)行介紹。首
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紋波測(cè)試——電源測(cè)試您所忽視的問題（2）
對(duì)于直流電源來說，評(píng)價(jià)直流的純凈度，所以就有了紋波測(cè)試。電壓的波動(dòng)一般分為兩種：紋波和噪聲，一般來說把低于500KHz頻率的波動(dòng)稱為紋波，高于20MHz頻率的一般不測(cè)試(屬
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電源測(cè)試大全之白盒測(cè)試
1 輔助電源測(cè)試 測(cè)試說明： 電源中輔助電源有重要意義，電源模塊的正常工作靠輔助電源來保障，輔助電源工作要比主電路要求更可靠，因?yàn)榧词乖谳斎腚妷撼薜臈l件
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電源測(cè)試大全之極限測(cè)試
1．模塊輸出電流極限測(cè)試 模塊輸出電流極限測(cè)試是測(cè)試模塊在輸出限流點(diǎn)放開（PFC的過流保護(hù)也要放開）之后所能輸出的最大電流，測(cè)試的目的是為了驗(yàn)證模塊的限流點(diǎn)設(shè)
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電源測(cè)試大全之可靠性測(cè)試
1 反復(fù)短路測(cè)試 測(cè)試說明 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路，模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮，反復(fù)多次短路，故障排除后，模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行?！ y(cè)試方
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那些我們所忽視的電源測(cè)試問題
一提到電源測(cè)試，我們首先想到的是紋波測(cè)試、過載測(cè)試、動(dòng)態(tài)斜率。對(duì)于直流電源，用于評(píng)價(jià)直流純凈度的最好的測(cè)試方法就是紋波測(cè)試。對(duì)于過壓、過流、過溫，我們會(huì)進(jìn)行過載測(cè)試。動(dòng)態(tài)斜率是做電源響應(yīng)速
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示波器電源測(cè)試的步驟
過去大家習(xí)慣用萬用表進(jìn)行電源測(cè)試，如果測(cè)試參數(shù)很多的時(shí)候非常麻煩。而現(xiàn)在使用示波器提供了許多自動(dòng)測(cè)量功能，可以使用這些功能簡單實(shí)現(xiàn)幅度測(cè)量(幅度、高、低、最大值、最小值、RMS、峰到峰值、正/
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低壓大電流電源測(cè)試方法
低壓大電流電源特點(diǎn)：因?yàn)橹绷麟娫摧敵鲭娏鞅容^大，二電壓比較低，所以對(duì)電氣連接特性，電子負(fù)載的阻值可控范圍要求比較高。類似的電源有：顯卡類驅(qū)動(dòng)，燃料電池，鎳氫電池和超級(jí)計(jì)算機(jī)的CPU供電系統(tǒng)。推薦以下措施方
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過載測(cè)試——電源測(cè)試您所忽視的問題
電源作為電子產(chǎn)品或者電池的供電設(shè)備，除了性能要滿足供電產(chǎn)品的要求外，其自身的保護(hù)措施也非常重要。如過壓、過流、過溫保護(hù)等，本次以恒壓源的過流保護(hù)為例進(jìn)行介紹?！ ? 首先，過流保護(hù)，不僅要測(cè)試過
