摘要:介紹了用Multisim仿真軟件分析三態(tài)門工作過程的方法,目的是探索三態(tài)門工作波形的仿真實(shí)驗(yàn)技術(shù),即用Multisim仿真軟件中的字組產(chǎn)生器產(chǎn)生三態(tài)門的控制信號(hào)及輸入信號(hào),用Multisim中示波器、邏輯分析儀多蹤同步
作為數(shù)字設(shè)計(jì)驗(yàn)證與調(diào)試過程中重要的工具,邏輯分析儀利用時(shí)鐘脈沖從測(cè)試設(shè)備上采集和顯示數(shù)位信號(hào),能夠檢驗(yàn)數(shù)字電路是否正常工作,幫助查找并排除故障,加快產(chǎn)品面市周期。邏輯分析儀只顯示兩個(gè)電壓等級(jí)(邏輯狀態(tài)
趨勢(shì)1:從并行測(cè)量發(fā)展到串行測(cè)量過去的嵌入式設(shè)計(jì)通常采用并行體系結(jié)構(gòu),這意味著每個(gè)總線組成部分都有各自的路徑。因此,只要您可以使用碼型觸發(fā)或狀態(tài)觸發(fā)找出感興趣的事件,就可以直觀地解碼總線上的數(shù)據(jù)。然而,
21ic訊 泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評(píng)獎(jiǎng)活動(dòng)中榮獲“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會(huì)”(
泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評(píng)獎(jiǎng)活動(dòng)中榮獲“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會(huì)”(Embedded Systems Conference)舉
全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商--泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評(píng)獎(jiǎng)活動(dòng)中榮獲“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)
隨著DDR3和DDR4高速存儲(chǔ)器走向前臺(tái),數(shù)據(jù)速率不斷提高,專注于高性能服務(wù)器和嵌入式系統(tǒng)的工程師對(duì)可靠測(cè)量和深入分析的需求就變得尤其關(guān)鍵,安捷倫科技公司日前推出業(yè)界最快的U4154A邏輯分析儀以應(yīng)對(duì)這種挑戰(zhàn)。 安
安捷倫科技公司日前推出邏輯分析儀U4154A,該款新型邏輯分析儀具有業(yè)界領(lǐng)先的狀態(tài)捕獲速率:68 通道時(shí)為 4 Gb/s,136 通道時(shí)為 2.5 Gb/s;并且可以在業(yè)界最小的100 ps x 100 mV 眼張開度上穩(wěn)定地捕獲數(shù)據(jù),為目前業(yè)界
21IC訊 泰克公司日前宣布,推出完整的 DDR2 協(xié)議調(diào)試和驗(yàn)證解決方案,基于屢獲獎(jiǎng)項(xiàng)的 TLA6000 系列邏輯分析儀。TLA6000 系列新選件包含了嵌入式工程師——即使并非DDR2專家——用來驗(yàn)證和調(diào)試設(shè)
21IC訊 安捷倫科技公司日前推出業(yè)界最快的邏輯分析儀。該款新型邏輯分析儀具有業(yè)界領(lǐng)先的狀態(tài)捕獲速率:68 通道時(shí)為 4 Gb/s,136 通道時(shí)為 2.5 Gb/s;并且可以在業(yè)界最小的100 ps x 100 mV 眼張開度上穩(wěn)定地捕獲數(shù)據(jù)
邏輯分析儀SignalTaPⅡ在系統(tǒng)級(jí)調(diào)試中的應(yīng)用
泰克公司日前宣布,TLA6000系列邏輯分析儀被EDN雜志評(píng)為2010年度Hot100產(chǎn)品。此項(xiàng)殊榮旨在表彰為推動(dòng)電子工業(yè)進(jìn)步做出的貢獻(xiàn)年度最佳產(chǎn)品。 本年度Hot100產(chǎn)品由EDN編委會(huì)評(píng)選出EDN編輯和讀者公認(rèn)為電子界最熱門的新產(chǎn)
高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的參數(shù)定義和描述如表1所示。 表1 動(dòng)態(tài)參數(shù)定義 測(cè)試方案中的線路板布局和硬件需求 為合理測(cè)試高速ADC的動(dòng)態(tài)參數(shù),最好選用制造商預(yù)先裝配好的電路板,或是參考數(shù)據(jù)手冊(cè)中推薦的線
全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量與監(jiān)測(cè)設(shè)備供應(yīng)商---泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀,旨在為主流嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)者提供強(qiáng)大的高端調(diào)試與分析能力。TLA6000系列以更低的價(jià)位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁
泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀,旨在為主流嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)者提供強(qiáng)大的高端調(diào)試與分析能力。TLA6000系列以更低的價(jià)位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁有的性能和功能,相對(duì)便攜式TLA5000系列型號(hào)
現(xiàn)代科技對(duì)系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛,因此FPGA易測(cè)試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號(hào)十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲,這一切使得設(shè)計(jì)調(diào)試和檢驗(yàn)變
FPGA易測(cè)試性分析
摘 要 :本文介紹了可編程邏輯器件開發(fā)工具Quartus II 中SingalTap II 嵌入式邏輯分析器的使用,并給出一個(gè)具體的設(shè)計(jì)實(shí)例,詳細(xì)介紹使用SignalTap II對(duì)FPGA調(diào)試的具體方法和步驟。 關(guān)鍵字 : SignalTap;硬件調(diào)試
為什么很多工程師創(chuàng)業(yè)失敗?其根本原因不是資金,而是因?yàn)椴涣私馐袌?chǎng),對(duì)市場(chǎng)缺乏一定前瞻性的認(rèn)識(shí),做出來的產(chǎn)品在市場(chǎng)上缺乏話語權(quán)。七年前,我義無反顧地決定先開發(fā)邏輯分析儀后開發(fā)示波器,原因何在?過去,我們
現(xiàn)身說法談工程師如何培養(yǎng)對(duì)市場(chǎng)的前瞻性?